[發明專利]磁盤裝置以及磁盤裝置的記錄方法

有效

• 申請號: 201910608847.0
• 申請日: 2019-07-08
• 公開（公告）號: CN111599384B
• 公開（公告）日: 2021-08-17
• 發明（設計）人: 友田悠介;原武生;前東信宏
• 申請（專利權）人: 株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社
• 主分類號: G11B5/596
• 分類號: G11B5/596
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 張潔;段承恩

實施方式提供能夠使磁記錄的品質提高的磁盤裝置以及磁盤裝置的記錄方法。根據實施方式，磁盤裝置具備磁頭、磁盤和控制部。磁盤記錄有用于在由所述磁頭記錄數據時定位所述磁頭的伺服圖形。控制部基于所述伺服圖形設定所述磁盤的每個預定單位的記錄條件，根據該設定的記錄條件向所述磁盤進行數據的記錄。

本申請享受以日本專利申請2019-28328號(申請日：2019年2月20日)為基礎申請的優先權。本申請通過參照該基礎申請而包括基礎申請的全部內容。

技術領域

實施方式涉及磁盤裝置以及磁盤裝置的記錄方法。

背景技術

磁盤裝置具有利用磁記錄數據的記錄介質。該記錄介質例如成圓盤形狀，構成為由磁頭(head)在圓盤的表層上、且在圓周方向上記錄數據。這種記錄介質因其制作原理，會在同一周內的記錄區域產生磁特性的偏差(波動)。一般而言，在磁盤裝置中，在同一周內會以相同的記錄條件記錄數據，因而，數據的記錄條件基于同一周內的記錄區域中的最難記錄的特性來決定。通過這樣設定記錄條件，在磁盤裝置中保證在同一周內的數據的記錄品質。

然而，考慮當數據的記錄條件基于同一周內的記錄區域中的最難記錄的特性來決定時，在該記錄區域以外的區域，有雖然滿足了記錄條件但會變為并非最佳的情況。也就是說，在該情況下，記錄條件變得過剩。因此，在該記錄區域以外的區域，會以過剩的記錄品質記錄數據。

此外，在磁盤裝置中，為了消除上述的記錄條件過剩的情況，已知如下技術：寫入測試圖形(test pattern)，對其寫入品質進行評價，由此預先評價周內分布，并基于其結果來按每個扇區(sector)使電流波形變化。

另外，在磁盤裝置中，已知按照預先調查的介質的周內分布來使記錄密度變化的技術。

在上述的寫入測試圖形的技術中，需要存儲測試圖形的區域以及進行評價的處理。另外，在上述的使記錄密度變化的技術中，也考慮若使記錄密度變得過窄則有數據的可靠性會出現問題的情況。

因此，需要能夠以與上述使記錄條件最優化的技術不同的方法設定適當的記錄條件的磁盤裝置。

發明內容

本發明提供能夠通過適當地設定記錄條件來使磁記錄的品質提高的磁盤裝置以及磁盤裝置的記錄方法。

一個實施方式涉及的磁盤裝置具備磁頭、磁盤和控制部。磁盤記錄有用于在由所述磁頭記錄數據時定位所述磁頭的伺服圖形。控制部基于所述伺服圖形設定所述磁盤的每個預定單位的記錄條件，根據該設定的記錄條件向所述磁盤進行數據的記錄。

附圖說明

圖1是表示第1實施方式涉及的磁盤裝置的構成的一例的圖。

圖2是表示以往的BER分布的一例的圖。

圖3是圖2的P部分的放大圖。

圖4是表示以往的BER分布的半徑位置依賴性的結果的一例的圖。

圖5是表示以往的在不同半徑位置的每個扇區的BER分布的一例的圖。

圖6是表示以往的外周側的連續磁道上的每個扇區的BER分布的一例的圖。

圖7是用于說明該實施方式涉及的伺服圖形的圖。

圖8是表示該實施方式涉及的伺服圖形的一例的圖。

圖9是表示該實施方式涉及的設定記錄條件并對盤進行數據記錄的處理的一例的流程圖。

圖10是表示該實施方式涉及的伺服圖形的另一例的圖。

圖11是表示其他實施方式涉及的磁盤裝置的構成的一例的圖。

具體實施方式