[發明專利]測試治具和測試方法

在審

• 申請號: 201910600496.9
• 申請日: 2019-07-04
• 公開（公告）號: CN110320423A
• 公開（公告）日: 2019-10-11
• 發明（設計）人: 江森龍;楊軍;萬世銘;張加亮;張俊
• 申請（專利權）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 黃德海

本公開公開了一種測試治具和測試方法，所述測試治具用于接收線圈的性能測試，所述測試治具包括夾具組件，所述夾具組件包括：中架板、第一蓋板和第二蓋板，所述中架板的厚度兩側分別為第一側和第二側，所述第一蓋板設在所述中架板的所述第一側，且用于將接收線圈夾設在所述中架板與所述第一蓋板之間，所述第二蓋板設在所述中架板的所述第二側，且用于將發射線圈夾設在所述中架板與所述第二蓋板之間。根據本公開的測試治具，可以至少改善一些不確定因素對測試結果的影響，提高測試結果的準確性，而且測試治具的結構簡單、簡單易用。

技術領域

本公開涉及無線充電用線圈測試技術領域，尤其是涉及一種測試治具和測試方法。

背景技術

對于一些可無線充電的電子設備來說，通常內置有接收線圈，無線充電底座中通常內置有發射線圈，發射線圈與接收線圈之間產生感應電流，感應電流輸出到被充電的電子設備內，以對電子設備進行充電。各接收線圈的生產廠家在打樣或者生產之后，或者各電子設備廠商在購買接收線圈之后，需要對接收線圈的性能進行測試。然而，相關技術中的測試方法，大都是將接收線圈直接擺放在內置有發射線圈的發射底座上，測試結果常常受到不確定因素的影響，測試誤差較大，可比性不高。

公開內容

本公開旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本公開在于提出一種測試治具，所述測試治具可在一定程度上提高測試結果的準確性，且測試治具的結構簡單、簡單易用。

本公開還提出了一種測試方法，采用上述測試治具進行測試。

根據本公開第一方面實施例的測試治具，所述測試治具用于接收線圈的性能測試，所述測試治具包括夾具組件，所述夾具組件包括：中架板，所述中架板的厚度兩側分別為第一側和第二側；第一蓋板，所述第一蓋板設在所述中架板的所述第一側，且用于將接收線圈夾設在所述中架板與所述第一蓋板之間；第二蓋板，所述第二蓋板設在所述中架板的所述第二側，且用于將發射線圈夾設在所述中架板與所述第二蓋板之間。

根據本公開的測試治具，可以至少改善一些不確定因素對測試結果的影響，提高測試結果的準確性，而且測試治具的結構簡單、簡單易用。

根據本公開第二方面實施例的測試方法，采用上述第一方面實施例的測試治具測試，所述測試方法包括步驟：將發射線圈放置在所述第二蓋板上，將所述中架板壓蓋在所述發射線圈上，將接收線圈放置在所述中架板上，將所述第一蓋板壓蓋在所述接收線圈上。

根據本公開的測試方法，操作簡單、測試結果好。

本公開的附加方面和優點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本公開的實踐了解到。

附圖說明

圖1是根據本公開一個實施例的測試治具的示意圖；

圖2是根據本公開一個實施例的夾具組件的爆炸圖；

圖3是圖2中所示的夾具組件從反面觀察的爆炸圖；

圖4是根據本公開一個實施例的接收線圈的示意圖；

圖5是根據本公開一個實施例的發射線圈的示意圖；

圖6是根據本公開另一個實施例的測試治具的示意圖。

附圖標記：

測試治具1000；

夾具組件100；第一側F1；第二側F2；

中架板1；第一表面11；第一沉槽111；線槽112；第一避讓槽113；

第一凸起114；第一基圓110；

第二表面12；第三沉槽121；第二避讓槽122；第二凸起123；