[發明專利]一種背景檢測的圖像分割方法與裝置在審
| 申請號: | 201910596706.1 | 申請日: | 2019-07-02 |
| 公開(公告)號: | CN110415251A | 公開(公告)日: | 2019-11-05 |
| 發明(設計)人: | 謝宏威;周聰;陳從桂;謝德芳;楊成龍 | 申請(專利權)人: | 廣州大學 |
| 主分類號: | G06T7/10 | 分類號: | G06T7/10;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/194;G06T5/50 |
| 代理公司: | 廣州三環專利商標代理有限公司 44202 | 代理人: | 顏希文;麥小嬋 |
| 地址: | 510006 廣東省廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 目標圖像 背景檢測 硅片圖像 圖像分割 原始圖像 定義域 圖像 彩色圖像分割 形態學 篩選 分割目標 硅片區域 孔洞填充 面積特征 像素鄰接 閾值處理 單通道 灰度化 開運算 連通域 硅片 構建 像素 拍攝 全局 | ||
1.一種基于背景檢測的圖像分割方法,其特征在于,包括:
獲取X光拍攝的N張硅片圖像,其中,N為大于1的整數;
分別將所述N張硅片圖像進行彩色圖像分割,并從中篩選出對比度最大的單通道圖像,進一步灰度化,得到N張第一目標圖像;
對所述N張第一目標圖像進行全局閾值處理,進一步孔洞填充直至像素內沒有縫隙,得到N張第二目標圖像;
根據設定的像素鄰接關系,構建所述N張第二目標圖像的連通域,進一步利用硅片的面積特征篩選出硅片區域,得到N張第三目標圖像;
對所述N張第三目標圖像進行形態學開運算,并縮減其定義域至設定的定義域,摳圖處理后得到N張目標圖像。
2.根據權利要求1所述的基于背景檢測的圖像分割方法,其特征在于,在所述獲取X光拍攝的N張硅片圖像之前,還包括:
對相機進行標定;具體的,
初步調整相機的垂直高度和焦距,使其拍攝出恰好能夠清晰看到硅片四個倒角柵線的圖像;
繼續調整相機的垂直高度和焦距,使其拍攝出恰好能夠清晰看到標定板上的所有圓點的圖像。
3.根據權利要求2所述的基于背景檢測的圖像分割方法,其特征在于,所述硅片的規格均為150mm×150mm或156mm×156mm,所述標定板的規格為170mm×170mm。
4.根據權利要求1所述的基于背景檢測的圖像分割方法,其特征在于,所述N張硅片圖像為N臺相機分別在同一時刻捕獲得到的硅片圖像,其中,所述N臺相機中的每臺相機捕獲一張硅片圖像;或者,所述N張硅片圖像為同一臺相機在不同時刻捕獲得到的硅片圖像。
5.根據權利要求1所述的基于背景檢測的圖像分割方法,其特征在于,在所述全局閾值處理過程中,設定像素灰度值的上限和下限分別為8和140;在孔洞填充過程中,采用孔洞周邊特征對孔洞進行填充,且不改變區域的個數。
6.一種基于背景檢測的圖像分割裝置,其特征在于,包括:
圖像獲取模塊,用于獲取X光拍攝的N張硅片圖像,其中,N為大于1的整數;
預處理模塊,用于分別將所述N張硅片圖像進行彩色圖像分割,并從中篩選出對比度最大的單通道圖像,進一步灰度化,得到N張第一目標圖像;
二次處理模塊,用于對所述N張第一目標圖像進行全局閾值處理,進一步孔洞填充直至像素內沒有縫隙,得到N張第二目標圖像;
特征提取模塊,用于根據設定的像素鄰接關系,構建所述N張第二目標圖像的連通域,進一步利用硅片的面積特征篩選出硅片區域,得到N張第三目標圖像;
形態學開運算模塊,用于對所述N張第三目標圖像進行形態學開運算,并縮減其定義域至設定的定義域,摳圖處理后得到N張目標圖像。
7.根據權利要求6所述的基于背景檢測的圖像分割裝置,其特征在于,所述圖像獲取模塊,在獲取X光拍攝的N張硅片圖像之前,還包括:
對相機進行標定;具體的,
初步調整相機的垂直高度和焦距,使其拍攝出恰好能夠清晰看到硅片四個倒角柵線的圖像;
繼續調整相機的垂直高度和焦距,使其拍攝出恰好能夠清晰看到標定板上的所有圓點的圖像。
8.根據權利要求7所述的基于背景檢測的圖像分割裝置,其特征在于,所述硅片的規格均為150mm×150mm或156mm×156mm,所述標定板的規格為170mm×170mm。
9.根據權利要求6所述的基于背景檢測的圖像分割裝置,其特征在于,所述N張硅片圖像為N臺相機分別在同一時刻捕獲得到的硅片圖像,其中,所述N臺相機中的每臺相機捕獲一張硅片圖像;或者,所述N張硅片圖像為同一臺相機在不同時刻捕獲得到的硅片圖像。
10.根據權利要求6所述的基于背景檢測的圖像分割裝置,其特征在于,所述二次處理模塊,在所述全局閾值處理過程中,設定像素灰度值的上限和下限分別為8和140;在所述孔洞填充過程中,采用孔洞周邊特征對孔洞進行填充,且不改變區域的個數。
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