[發明專利]一種抗電勢誘導衰減的背面膜層結構、制備方法、用途及太陽能電池有效
| 申請號: | 201910588502.3 | 申請日: | 2019-07-02 |
| 公開(公告)號: | CN110444609B | 公開(公告)日: | 2021-03-02 |
| 發明(設計)人: | 姜澤光;張欣;林綱正 | 申請(專利權)人: | 天津愛旭太陽能科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0216 | 分類號: | H01L31/0216;H01L31/18 |
| 代理公司: | 廣州知友專利商標代理有限公司 44104 | 代理人: | 高文龍 |
| 地址: | 300400 天津市北辰區經濟*** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電勢 誘導 衰減 面膜 結構 制備 方法 用途 太陽能電池 | ||
1.一種抗電勢誘導衰減的背面膜層結構,包括自下而上依次貼附在硅基體(1)上的氧化鋁鈍化層(2)和氮化硅層(4),其特征在于:所述背面膜層結構還包括碳氮化硅層(3),所述碳氮化硅層(3)設置在所述氧化鋁鈍化層(2)和氮化硅層(4)之間,所述碳氮化硅層(3)通過如下工藝制備:沉積溫度350-450℃,沉積功率4000-9000W,沉積壓力1300-1800mTor,沉積占空比2:30-2:60,沉積時間40-220s,氨氣流量1000-7000sccm,硅烷流量500-2000sccm,甲烷流量2000-8500sccm;所述背面膜層結構增設有具有抗氧化、抗水汽性能的碳氮化硅層(3),從而增強了抗電勢誘導衰減效果。
2.根據權利要求1所述的抗電勢誘導衰減的背面膜層結構,其特征在于:所述碳氮化硅層(3)的膜層厚度為10-40nm。
3.根據權利要求1所述的抗電勢誘導衰減的背面膜層結構,其特征在于:所述碳氮化硅層(3)的折射率為1.91-2.09。
4.如權利要求1至3任一項所述的抗電勢誘導衰減的背面膜層結構的制備方法,其特征在于:該方法包括在硅基體(1)上自下而上依次貼附氧化鋁鈍化層(2)、碳氮化硅層(3)和氮化硅層(4),或者在硅基體(1)上自下而上依次貼附氧化鋁鈍化層(2)、氮化硅層(4)和碳氮化硅層(3)。
5.如權利要求1至3任一項所述的抗電勢誘導衰減的背面膜層結構的用途,應用在太陽能電池中。
6.包含權利要求1至3任一項所述的抗電勢誘導衰減的背面膜層結構的太陽能電池,其特征在于:所述太陽能電池還包括正面氮化硅層、正電極和背電極。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于天津愛旭太陽能科技有限公司,未經天津愛旭太陽能科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910588502.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種距離測量的光傳感器及其制作方法
- 下一篇:正面氮氧化硅太陽電池的制作工藝
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





