[發(fā)明專利]基于精密激光測距儀的拱頂沉降測量裝置及其測量方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910587685.7 | 申請(qǐng)日: | 2019-07-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110360983A | 公開(公告)日: | 2019-10-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李雙平;嚴(yán)建國;鄭敏;劉祖強(qiáng);王崢;嚴(yán)鳳;吳瑕 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 長江空間信息技術(shù)工程有限公司(武漢);長江勘測規(guī)劃設(shè)計(jì)研究有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01C5/00 | 分類號(hào): | G01C5/00;G01C15/00;G01B11/02 |
| 代理公司: | 武漢宇晨專利事務(wù)所 42001 | 代理人: | 王敏鋒 |
| 地址: | 430010 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 水平結(jié)構(gòu) 拱頂沉降測量 調(diào)平基座 精密激光 測距儀 定位盤 高精度測距儀 基盤 通孔 測量 調(diào)平結(jié)構(gòu) 連接固定 顯示結(jié)構(gòu) 上端 低成本 高效率 調(diào)平 | ||
1.基于精密激光測距儀的拱頂沉降測量裝置,其特征在于:包括對(duì)中基盤(1)、調(diào)平基座(2)、定位盤(3)和高精度測距儀(4);
所述調(diào)平基座(2)連接固定于所述對(duì)中基盤(1)上;
所述調(diào)平基座(2)包括位于上端的水平結(jié)構(gòu)(2.1),位于所述水平結(jié)構(gòu)(2.1)上的調(diào)平結(jié)構(gòu)(2.2),和位于所述水平結(jié)構(gòu)(2.1)上的調(diào)平顯示(2.3)結(jié)構(gòu);
水平結(jié)構(gòu)(2.1)中部設(shè)有第一通孔(2.11);所述定位盤(3)位于所述第一通孔(2.11)內(nèi);
所述定位盤(3)中部設(shè)有接口(3.1),所述高精度測距儀(4)位于所述接口(3.1)內(nèi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于精密激光測距儀的拱頂沉降測量裝置,其特征在于:所述對(duì)中基盤(1)包括第一結(jié)構(gòu)(1.1)和第二結(jié)構(gòu)(1.2);所述第一結(jié)構(gòu)(1.1)固定于所述第二結(jié)構(gòu)(1.2)中部、且上端垂直向上伸出所述第二結(jié)構(gòu)(1.2);
所述調(diào)平結(jié)構(gòu)(2.2)中部設(shè)有固定孔(2.21);
所述第一結(jié)構(gòu)(1.1)與所述固定孔(2.21)對(duì)應(yīng)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于精密激光測距儀的拱頂沉降測量裝置,其特征在于:所述第一結(jié)構(gòu)(1.1)為圓柱形結(jié)構(gòu);所述第二結(jié)構(gòu)(1.2)為圓盤形結(jié)構(gòu);所述第一結(jié)構(gòu)(1.1)固定于所述第二結(jié)構(gòu)(1.2)下端、且固定于所述第二結(jié)構(gòu)(1.2)的圓心上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于精密激光測距儀的拱頂沉降測量裝置,其特征在于:所述第一通孔(2.11)和所述定位盤(3)均為圓形結(jié)構(gòu);
所述接口(3.1)為方形結(jié)構(gòu);所述接口(3.1)的尺寸與所述高精度測距儀(4)下端的尺寸相配合。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的基于精密激光測距儀的拱頂沉降測量裝置的測量方法,其特征在于:包括如下步驟,
步驟一:首先,將對(duì)中基盤(1)埋設(shè)在隧道穩(wěn)定道床的兩根軌枕中間,并通過水平器保證對(duì)中基盤(1)埋設(shè)水平;
步驟二:其次,將第一結(jié)構(gòu)(1.1)與固定孔(2.21)固定連接,從而將調(diào)平基座(2)與對(duì)中基盤(1)連接固定,并通過調(diào)平顯示(2.3)和調(diào)平結(jié)構(gòu)(2.2)將調(diào)平基座(2)調(diào)平;
步驟三:接著,先用量距尺量取定位盤(3)的高度,然后再將定位盤(3)放入第一通孔(2.11)內(nèi);將高精度測距儀(4)下端置于接口(3.1)內(nèi);
步驟四:再次觀察調(diào)平顯示(2.3)是否有偏離,若調(diào)平顯示(2.3)顯示有偏離,通過調(diào)平結(jié)構(gòu)(2.2)將調(diào)平基座(2)調(diào)平;
步驟五:開機(jī)測量前,通過高精度差面尺量取調(diào)平基座(2)到對(duì)中基盤(1)的高度;
步驟六:開機(jī)觀測,高精度測距儀(4)的激光束垂直打在隧道拱頂,測出高精度測距儀(4)至隧道拱頂?shù)拇怪本嚯x;
步驟七:最后,計(jì)算出對(duì)中基盤(1)表面至隧道拱頂?shù)木嚯x,
由公式h=h1+h3-h2計(jì)算得出;
其中:h為對(duì)中基盤表面至隧道拱頂?shù)木嚯x;
h1為調(diào)平基座到對(duì)中基盤的高度;
h2為定位盤的高度;
h3為高精度測距儀至隧道拱頂?shù)拇怪本嚯x;
步驟八:重復(fù)步驟一~步驟六,兩次不同時(shí)間測量對(duì)中基盤(1)表面至拱頂?shù)木嚯x,即可獲取隧道拱頂沉降變化量。
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