[發(fā)明專利]一種非接觸光聲成像裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910587193.8 | 申請(qǐng)日: | 2019-07-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110243763B | 公開(公告)日: | 2020-08-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王毅;胡瀛心;彭斌揚(yáng);周紅仙;馬振鶴 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東北大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/17 | 分類號(hào): | G01N21/17;G01N29/04;G01N29/24 |
| 代理公司: | 大連理工大學(xué)專利中心 21200 | 代理人: | 陳玲玉;梅洪玉 |
| 地址: | 110819 遼寧*** | 國(guó)省代碼: | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 接觸 成像 裝置 方法 | ||
1.一種非接觸光聲成像方法,其特征在于,該方法基于一種非接觸光聲成像裝置實(shí)現(xiàn),所述裝置包括探測(cè)光源(1)、光纖隔離器(2)、2×2光纖耦合器(3)、光纖環(huán)形器A(4)、光纖環(huán)形器B(8)、3×3光纖耦合器(12)、準(zhǔn)直器A(13)、透鏡A(14)、反射鏡A(15)、準(zhǔn)直器B(16)、二向色鏡(17)、反射鏡B(18)、反射鏡C(19)、透鏡B(20)、激光器(22)、反射鏡D(23)、光電探測(cè)器A(24)、光電探測(cè)器B(25)、光電探測(cè)器C(26)、高通濾波器A(27)、高通濾波器B(28)、高通濾波器C(29)、數(shù)據(jù)采集卡(30)和電腦(31);
所述探測(cè)光源(1)、光纖隔離器(2)、2×2光纖耦合器(3)通過光纖依次連接;所述2×2光纖耦合器(3)的輸出端分別通過光纖環(huán)形器A1端口(5)連接光纖環(huán)形器A(4)、通過光纖環(huán)形器B1端口(9)連接光纖環(huán)形器B(8);
所述光纖環(huán)形器A(4)通過光纖環(huán)形器A2端口(6)連接準(zhǔn)直器A(13)、通過光纖環(huán)形器A3端口(7)與3×3光纖耦合器(12)的輸入端連接;所述的準(zhǔn)直器A(13)、透鏡A(14)和反射鏡A(15)依次同軸設(shè)置;
所述光纖環(huán)形器B(8)通過光纖環(huán)形器B2端口(10)連接準(zhǔn)直器B(16)、通過光纖環(huán)形器B3端口(11)與3×3光纖耦合器(12)的輸入端連接;
所述激光器(22)發(fā)射的激光依次經(jīng)過反射鏡D(23)和二向色鏡(17),與經(jīng)過準(zhǔn)直器B(16)的探測(cè)光匯合后依次通過反射鏡B(18)、反射鏡C(19)、透鏡B(20)聚焦于置于載物臺(tái)(21)上的樣品(32)內(nèi)部;所述激光器(22)與數(shù)據(jù)采集卡(30)連接;
所述3×3光纖耦合器(12)的輸出端分別通過光纖連接光電探測(cè)器A(24)、光電探測(cè)器B(25)、光電探測(cè)器C(26);所述光電探測(cè)器A(24)、光電探測(cè)器B(25)、光電探測(cè)器C(26)分別連接高通濾波器A(27)、高通濾波器B(28)、高通濾波器C(29);三個(gè)高通濾波器與電腦(31)中的數(shù)據(jù)采集卡(30)連接;
所述非接觸光聲成像方法包括以下步驟:
步驟1光聲激發(fā)過程
激光器(22)發(fā)射激光,激光聚焦于樣品(32)內(nèi)部,樣品吸收能量產(chǎn)生超聲波,超聲波導(dǎo)致激發(fā)點(diǎn)的光學(xué)折射率變化,進(jìn)而導(dǎo)致激發(fā)點(diǎn)的光學(xué)反射率變大,使探測(cè)光反射光強(qiáng)增大;
步驟2光聲檢測(cè)過程
探測(cè)光源(1)發(fā)出探測(cè)光依次通過光纖隔離器(2)、2×2光纖耦合器(3)后分成參考光和樣品光;所述的參考光經(jīng)光纖環(huán)形器A1端口(5)進(jìn)入光纖環(huán)形器A(4),并從光纖環(huán)形器A2端口(6)輸出,依次通過準(zhǔn)直器A(13)、透鏡A(14)和反射鏡A(15)后原路返回并通過光纖環(huán)形器A3端口(7)進(jìn)入3×3光纖耦合器(12);所述的樣品光經(jīng)光纖環(huán)形器B1端口(9)進(jìn)入光纖環(huán)形器B(8),從光纖環(huán)形器B2端口(10)輸出,經(jīng)準(zhǔn)直器B(16)準(zhǔn)直成平行光,經(jīng)二向色鏡(17)后與激光合為一束光,再依次經(jīng)過反射鏡B(18)、反射鏡C(19)和透鏡B(20)聚焦于置于載物臺(tái)(21)上的樣品(32)內(nèi)部;背向散射光原路返回并通過光纖環(huán)形器B3端口(11)進(jìn)入3×3光纖耦合器(12);
兩路光進(jìn)入3×3光纖耦合器(12)后輸出三路信號(hào),三路信號(hào)分別進(jìn)入光電探測(cè)器A(24)、光電探測(cè)器B(25)和光電探測(cè)器C(26)發(fā)生干涉并轉(zhuǎn)換成電信號(hào),再分別經(jīng)高通濾波器A(27)、高通濾波器B(28)和高通濾波器C(29)濾除干擾后進(jìn)入電腦(31)中,數(shù)據(jù)采集卡(30)進(jìn)行信號(hào)采集;
其中,3×3光纖耦合器(12)進(jìn)行三相位解調(diào)的過程如下:
樣本不同深度的背向散射光導(dǎo)致的干擾表示為:
其中,IR為來自參考臂的光強(qiáng)度;Is,i為來自樣品第i深度的光強(qiáng)度;ΔIs(t)為在光聲激發(fā)位置產(chǎn)生的探測(cè)光強(qiáng)度變化;為在IR和ΔIs(t)之間的時(shí)變相位差;為IR和Is,i之間的時(shí)變相位差;為ΔIs(t)和Is,i之間的時(shí)變相位差;和均表示隨機(jī)環(huán)境干擾;除ΔIs(t)外的其他項(xiàng)均通過高通濾波器濾除,且與Is,i的相關(guān)項(xiàng)忽略不計(jì),則測(cè)得的信號(hào)為:
通過3×3光纖耦合器(12)解調(diào)反射強(qiáng)度變化ΔIs(t)后,數(shù)據(jù)采集卡(30)采集的三路干涉信號(hào)表示為:
其中,是式(1)中所示的之和;和表示三路輸出信號(hào)之間的相位差;光纖耦合器的分光比為K1∶K2∶K3;
由式(3)的三路干涉信號(hào)得到ΔIs(t):
其中,G=K2/K1;H=K3/K1;
步驟3信號(hào)采集過程
步驟1中激光器(22)發(fā)出激光的同時(shí),激光器(22)發(fā)出觸發(fā)信號(hào),數(shù)據(jù)采集卡(30)對(duì)光聲信號(hào)進(jìn)行同步采集。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東北大學(xué),未經(jīng)東北大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910587193.8/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





