[發明專利]一種RFID模塊射頻功率自動校準及自動測試裝置在審

申請號：	201910584370.7	申請日：	2019-07-01
公開（公告）號：	CN110289921A	公開（公告）日：	2019-09-27
發明（設計）人：	胡樑輝;來佳立	申請（專利權）人：	杭州亞鑫科技有限公司
主分類號：	H04B17/21	分類號：	H04B17/21;H04B17/29
代理公司：	溫州知遠專利代理事務所(特殊普通合伙) 33262	代理人：	湯時達;劉超
地址：	310000 浙江省杭州***	國省代碼：	浙江;33
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摘要：
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【權利要求書】：

1.一種RFID模塊射頻功率自動校準及自動測試裝置，包括：上位機、頻譜分析儀、射頻連接線、天線分支器、RFID天線、可控衰減器以及待測RFID模塊，其特征在于：上位機通信連接頻譜分析儀，待測RFID模塊的信號輸出口通過射頻連接線連接天線分支器的信號輸入口，天線分支器的第三個信號輸出口連接頻譜分析儀，第二個信號輸出口懸空，第一個信號輸出口通過可控衰減器連接RFID天線；上位機連接待測RFID模塊和可控衰減器。

2.根據權利要求1所述的一種RFID模塊射頻功率自動校準及自動測試裝置，其特征在于：RFID天線包括測試天線和測試標簽，測試天線和測試標簽均放置于屏蔽箱內。

3.根據權利要求2所述的一種RFID模塊射頻功率自動校準及自動測試裝置，其特征在于：測試天線輸入端連接有可控衰減器，測試天線連接測試標簽，通過測試標簽反饋的信號強度，自動匹配計算最臨界的衰減值。

4.根據權利要求1所述的一種RFID模塊射頻功率自動校準及自動測試裝置，其特征在于：上位機通過計算機TCP/IP接口連接頻譜分析儀，同時通過串口通信連接可控衰減器和RFID模塊治具，待測RFID模塊通過pin針方式放置在RFID模塊治具中。

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