[發明專利]雙列角接觸球軸承內圈測量結構

在審

• 申請號: 201910580042.X
• 申請日: 2019-06-28
• 公開（公告）號: CN110307770A
• 公開（公告）日: 2019-10-08
• 發明（設計）人: 黃麗萍;葉林;趙飛
• 申請（專利權）人: 無錫雙益精密機械有限公司
• 主分類號: G01B5/14
• 分類號: G01B5/14
• 代理公司: 無錫盛陽專利商標事務所(普通合伙) 32227
• 代理人: 顧吉云;黃瑩

本發明提供雙列角接觸球軸承內圈測量結構，其可以測量出精度較高的鋼球與溝道的接觸點與內圈的小端面的垂直距離變化量，進而降低廢件率。其包括測量筆、保持架鋼球組件，其特征在于：其還包括測量組件、定位組件，所述測量組件設置在所述定位組件內腔，所述測量筆穿過所述定位組件上端的測量探孔后伸向所述測量組件的上端面，所述保持架鋼球組件固定在所述定位組件的底端；所述測量組件通過自重壓裝在所述待測量內圈的上端面，抬起組件通過旋轉組件支撐所述待測量內圈，所述待測量內圈通過所述旋轉組件帶動進行旋轉。

技術領域

本發明涉及軸承參數測量裝置技術領域，具體為雙列角接觸球軸承內圈測量結構。

背景技術

雙列角接觸球軸承的外圈為一個整體結構，內圈為分離的兩個內圈；該類型軸承需要在裝配過程中以軸承的內圈的小端面為基準，測量鋼球與溝道的接觸點與內圈的小端面的垂直距離變化量，間接保證合套后軸向游隙值；現有技術中，把待測量內圈安裝在保持架鋼球組件上，從底端或者頂端施加負荷，通過測量筆手動測量幾個值之后，計算均值。然而，此種方法獲得的測量值的值精確度不夠，導致合套后軸向游隙值精度不夠，進而導致產品生產中廢件率較高。

發明內容

為了解決現有技術無法獲得精確的測量值，而導致廢件率較高的問題，本發明提供雙列角接觸球軸承內圈測量結構，其可以測量出精度較高的鋼球與溝道的接觸點與內圈的小端面的垂直距離變化量，進而降低廢件率。

本發明的結構是這樣的：雙列角接觸球軸承內圈測量結構，其包括測量筆、保持架鋼球組件，其特征在于：其還包括測量組件、定位組件，所述測量組件設置在所述定位組件內腔，所述測量筆穿過所述定位組件上端的測量探孔后伸向所述測量組件的上端面，所述保持架鋼球組件固定在所述定位組件的底端；所述測量組件通過自重壓裝在所述待測量內圈的上端面，抬起組件通過旋轉組件支撐所述待測量內圈，所述待測量內圈通過所述旋轉組件帶動進行旋轉。

其進一步特征在于：

所述測量組件包括測量塊、內圈定位軸，所述測量塊底端固定連接所述內圈定位軸，所述測量塊的下端面通過自重壓裝在所述待測量內圈的上端面；所述內圈定位軸與所述待測量內圈的內腔間隙配合；所述測量塊設置在所述測量筆正下方；所述測量塊的頂端固定連接掛板，所述掛板的中心位置設置透孔，所述測量筆穿過所述透孔設置在所述測量塊的頂端面；

所述定位組件包括定位套，所述定位套內腔的底端開孔，環形的保持器組件擋片設置在所述定位套底端面，所述保持器組件擋片的中心孔直徑小于所述定位套內腔底端面的孔直徑；所述保持架鋼球組件固定設置在所述定位套內腔的底端，且位于所述保持器組件擋片的上端面；所述定位套內腔設置環形的定位臺階，所述掛板位于所述定位臺階的頂端面上方，且所述掛板直徑大于所述定位臺階的直徑；所述測量塊和所述內圈定位軸向下依次穿過所述定位臺階、所述保持架鋼球組件的內腔；

所述旋轉組件包括旋轉軸，所述旋轉軸底端通過軸承固定連接從同步帶輪，所述從同步帶輪通過同步帶連接主同步帶輪，所述主同步帶輪設置在步進電機的傳動軸上；所述旋轉軸的頂端設置凸字型的支撐臺階，所述支撐臺階的頂端臺階與所述待測量內圈的內腔間隙配合，所述支撐臺階的底端臺階直徑大于所述待測量內圈內腔的直徑；

所述抬起組件包抬起氣缸，所述抬起氣缸的活塞桿上設置抬起支架，所述旋轉組件設置在所述抬起支架上，所述抬起支架通過直線導軌連接支座；

所述測量筆通過測量筆夾套安裝在固定架內腔中，剖面為T形的所述固定架的頂端通過螺栓固定連接側剖面為倒T形的滑動塊的橫向部分，所述固定架底端固定連接所述定位裝置，所述滑動塊的橫向部分開設安裝孔；塞打螺絲的底端穿過安裝板上的導向孔、固定設置在所述滑動塊的所述安裝孔內；所述塞打螺絲的頭部位于所述安裝板頂端面的上部，且直徑大于所述導向孔的直徑；所述安裝板頂端固定連接懸臂，所述懸臂和所述安裝板中心開設滑道，所述滑動塊的豎向部分與所述滑道間隙配合；