[發明專利]總線監控裝置及方法、存儲介質、電子裝置

有效

• 申請號: 201910578843.2
• 申請日: 2019-06-28
• 公開（公告）號: CN112148537B
• 公開（公告）日: 2023-10-27
• 發明（設計）人: 劉念
• 申請（專利權）人: 深圳市中興微電子技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 江舟

本發明提供了一種總線監控裝置及方法、存儲介質、電子裝置，其中，總線監控裝置包括：多個監控模塊，設置在總線之中，每一個監控模塊分別配置為設置在總線中的一個待測子系統之中；其中，多個監控模塊之間采用環形拓撲結構進行串接；控制模塊，用于獲取測試向量，并根據測試向量下發測試報文至多個監控模塊之間進行傳輸；監控模塊用于執行測試報文，并獲取待測子系統的測試信息，其中，待測子系統的測試信息用于指示監控模塊執行測試報文時，待測子系統的總線的信息。通過本發明，解決了相關技術中芯片系統無法在運行過程中對于節點進行實時監控的技術問題，以達到可在芯片系統運行過程中對于節點進行實時監控的效果。

技術領域

本發明涉及電子領域，具體而言，涉及一種總線監控裝置及方法、存 儲介質、電子裝置。

背景技術

隨著通信產品應用需求的更新換代，芯片系統的集成度越來越高，芯 片系統內部的總線的復雜度也越來越高，對于系統內總線的調試和定位一 直是困擾芯片前端設計、電子設計自動化(Electronics Design Automation， EDA)、現場可編程門陣列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)、 硬件加速器驗證、芯片軟件開發及調試等等的主要問題。

目前，相關技術中，業界已經開發出的總線監控技術主要原理是選擇 記錄總線節點的所有行為，然后通過組包、壓縮后形成數據流，送入芯片 系統內部的緩存進行存儲，或者通過芯片系統的端口送到片外的存儲模塊 進行存儲，該功能業界一般稱為追蹤(Trace)方法，類似于示波器做信號 采樣存儲，然后事后恢復出來以供調試人員分析。業界大的芯片公司，一 般都采用自行開發的總線調試系統，包括工具鏈等等，例如ARM公司定 義了用于總線的調試組件Coresight。上述ARM公司的總線調試技術(調 試組件)仍與目前相關技術中的監控方式類似，在原理上不能支持實時定 位問題，而是屬于事后的被動調試方式，具體而言，在芯片系統運行中出 現其他問題后，測試人員可以通過查看總線的歷史記錄，在事后進行分析， 從而定位出哪里出現了問題，其分析定位的工作量和要求都比較高。

此外，由于上述ARM公司的總線調試技術需要使用ARM公司的工 具鏈支持，故調試方需要付費購買ARM公司的產品，而不能支持自行定 位新的追蹤內容，無法獨立測試總線上每個硬件單元，靈活性較差，不能 快速定位總線出現問題的節點，降低了工作效率。

針對相關技術中，芯片系統無法在運行過程中對于節點進行實時監控 的技術問題，相關技術中暫未提出解決方案。

發明內容

本發明實施例提供了一種總線監控裝置及方法、存儲介質、電子裝置， 以至少解決相關技術中，芯片系統無法在運行過程中對于節點進行實時監 控的技術問題。

根據本發明的一個實施例，提供了一種總線監控裝置，包括：

多個監控模塊，設置在總線之中，每一個所述監控模塊分別配置為設 置在所述總線中的一個待測子系統之中；其中，多個所述監控模塊之間采 用環形拓撲結構進行串接；

控制模塊，用于獲取測試向量，并根據所述測試向量下發測試報文至 所述多個監控模塊之間進行傳輸；

所述監控模塊用于執行所述測試報文，并獲取所述待測子系統的測試 信息，其中，所述待測子系統的所述測試信息用于指示所述監控模塊執行 所述測試報文時，所述待測子系統的總線的信息。

根據本發明的另一個實施例，還提供了一種總線監控方法，應用于控 制模塊，所述方法包括：

在總線中設置多個監控節點，每一個所述監控節點設置在所述總線中 的一個待測子系統之中；其中，多個所述監控節點之間采用環形拓撲結構 進行串接；

獲取測試向量，并根據所述測試向量下發測試報文至所述多個監控節 點之間進行傳輸；