[發明專利]單音信號頻率檢測方法、裝置、設備及計算機存儲介質在審
| 申請號: | 201910578565.0 | 申請日: | 2019-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN112151065A | 公開(公告)日: | 2020-12-29 |
| 發明(設計)人: | 張威 | 申請(專利權)人: | 力同科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G10L25/03 | 分類號: | G10L25/03;G10L25/48;G06F17/14 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258 | 代理人: | 彭瓊 |
| 地址: | 518063 廣東省深圳市南山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 單音 信號 頻率 檢測 方法 裝置 設備 計算機 存儲 介質 | ||
1.一種單音信號頻率檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取m個采樣點的單音信號;
對所述m個采樣點的單音信號進行頻率估計,得到m個頻率估計值;
對所述m個頻率估計值進行至少一次累加平均計算,確定所述單音信號的頻率值。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述m個采樣點的單音信號進行頻率估計,得到m個頻率估計值包括:
對所述m個采樣點的單音信號進行數字變頻,得到所述m個采樣點的單音信號變頻后的差頻信號和和頻信號;
濾除所述m個采樣點的單音信號變頻后的和頻信號,得到所述m個采樣點的單音信號變頻后的差頻信號,并對所述m個采樣點的單音信號變頻后的差頻信號進行鑒頻處理,得到m個頻率估計值。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述對所述m個采樣點的單音信號進行數字變頻,得到所述m個采樣點的單音信號變頻后的差頻信號和和頻信號包括:
獲取對所述m個采樣點的單音信號進行變頻后所對應的I路信號和對所述m個采樣點的單音信號進行變頻后所對應的Q路信號;
對所述m個采樣點的單音信號進行數字變頻,分別得到對所述m個采樣點的單音信號進行變頻后所對應的I路信號的差頻信號和和頻信號,以及對所述m個采樣點的單音信號進行變頻以后所對應的Q路信號的差頻信號和和頻信號。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述濾除所述m個采樣點的單音信號變頻后的和頻信號,確定所述m個采樣點的單音信號變頻后的差頻信號,并對所述m個采樣點的單音信號變頻后的差頻信號進行鑒頻處理,得到m個頻率估計值包括:
分別濾除對所述m個采樣點的單音信號進行變頻后所對應的I路信號的和頻信號,以及對所述m個采樣點的單音信號進行變頻后所對應的Q路信號的和頻信號,確定對所述m個采樣點的單音信號進行變頻后所對應的I路信號的差頻信號和對所述m個采樣點的單音信號進行變頻后所對應的Q路信號的差頻信號;
對所述m個采樣點的單音信號進行變頻后所對應的I路信號的差頻信號和對所述m個采樣點的單音信號進行變頻后所對應的Q路信號的差頻信號進行鑒頻處理,得到m個頻率值。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述對所述m個采樣點的單音信號進行變頻后所對應的I路信號的差頻信號和對所述m個采樣點的單音信號進行變頻后所對應的Q路信號的差頻信號進行鑒頻處理,得到m個頻率值之后包括:
獲取數字變頻時采用的中心頻率值;
對所述m個頻率值中每個頻率值與所述中心頻率值進行計算,得到m個頻率估計值。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述m個采樣點的單音信號進行頻率估計,得到m個頻率估計值還包括:
對所述m個采樣點的單音信號進行差分處理,得到所述m個采樣點的單音信號差分后的差頻信號和和頻信號;
濾除對所述m個采樣點的單音信號差分后的和頻信號,確定對所述m個采樣點的單音信號差分后的差頻信號;
計算所述m個采樣點的單音信號的平方,得到所述m個采樣點的單音信號的平方值;
對所述m個采樣點的單音信號的平方值進行低通濾波,得到所述m個采樣點的單音信號的幅度估計值;
利用所述m個采樣點的單音信號的幅度估計值,依次對所述m個采樣點的單音信號差分后的差頻信號進行歸一化和反余弦運算,得到m個頻率估計值。
7.根據權利要求5或6所述的方法,其特征在于,所述對所述m個頻率估計值進行至少一次累加平均計算,確定所述單音信號的頻率值包括:
在所述m個頻率估計值中依次選取第一預設數量的頻率估計值,并對所述第一預設數量的頻率估計值進行累加平均,得到n個第一累加平均結果;
剔除所述n個第一累加平均結果中異常的第一累加平均結果,得到k個第一累加平均結果;
在所述k個第一累加平均結果中依次選取第二預設數量的第一累加平均結果,并對所述第二預設數量的第一累加平均結果再進行累加平均,得到至少一個第二累加平均結果,并將所述至少一個第二累加平均結果作為所述單音信號的頻率值;其中,m、n、k均為整數,mn=k,k1。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于力同科技股份有限公司,未經力同科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910578565.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





