[發(fā)明專利]一種離子監(jiān)控器及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910574232.0 | 申請日: | 2019-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN110444486B | 公開(公告)日: | 2021-09-28 |
| 發(fā)明(設計)人: | 石清雯 | 申請(專利權)人: | 新昌縣厚澤科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;G01R27/02 |
| 代理公司: | 浙江千克知識產權代理有限公司 33246 | 代理人: | 趙炎英 |
| 地址: | 312500 浙江省紹興市新昌縣省級*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 離子 監(jiān)控器 及其 制備 方法 | ||
1.一種離子監(jiān)控器,應用于離子注入,其特征在于,包括硅襯底(1),以及依次形成在該硅襯底(1)上的第三復合層和第四復合層,每層復合層由絕緣層(2)-及其上方的多晶硅層(3)構成;所述離子監(jiān)控器還包括,第一陽極(4-1)和第二陽極(4-2),第一陰極(5-1)和第二陰極(5-2),以及第一絕緣體(6-1)、第二絕緣體(7-1)、第三絕緣體(6-2)、第四絕緣體(7-2);其中,第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第一絕緣體(6-1)以及第二絕緣體(7-1)分別垂直穿透第四復合層的多晶硅層,但不垂直穿透第四復合層的絕緣層;第二陽極(4-2)、第二陰極(5-2)、第三絕緣體(6-2)、以及第四絕緣體(7-2)分別垂直穿透第四復合層至第三復合層的多晶硅層,但不垂直穿透第三復合層的絕緣層;第三絕緣體(6-2)、第二陽極(4-2)、第一絕緣體(6-1)、第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第二絕緣體(7-1)、第二陰極(5-2)以及第四絕緣體(7-2)依次間隔設置。
2.如權利要求1所述的離子監(jiān)控器,其特征在于,所述離子監(jiān)控器還包括設置在硅襯底1和第三復合層之間的第二復合層,第三陽極(4-3)、第五絕緣體(6-3)、第三陰極(5-3)以及第六絕緣體(7-3);其中,第三陽極(4-3)、第三陰極(5-3)、第五絕緣體(6-3)以及第六絕緣體(7-3)分別垂直穿透第四復合層、第三復合層至第二復合層的多晶硅層,但不垂直穿透第二復合層的絕緣層;第五絕緣體(6-3)、第三陽極(4-3)、第三絕緣體(6-2)、第二陽極(4-2)、第一絕緣體(6-1)、第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第二絕緣體(7-1)、第二陰極(5-2)、第四絕緣體(7-2)、第三陰極(5-3)、第六絕緣體(7-3)依次間隔設置。
3.如權利要求2所述的離子監(jiān)控器,其特征在于,所述離子監(jiān)控器還包括設置在硅襯底1和第二復合層之間的第一復合層,第四陽極(4-4)、第七絕緣體(6-4)、第四陰極(5-4)以及第八絕緣體(7-4);其中,第四陽極(4-4)、第四陰極(5-4)、第七絕緣體(6-4)以及第八絕緣體(7-4)分別垂直穿透第四復合層、第三復合層、第二復合層至第一復合層的多晶硅層,但不垂直穿透第一復合層的絕緣層;第七絕緣體(6-4)、第四陽極(4-4)、第五絕緣體(6-3)、第三陽極(4-3)、第三絕緣體(6-2)、第二陽極(4-2)、第一絕緣體(6-1)、第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第二絕緣體(7-1)、第二陰極(5-2)、第四絕緣體(7-2)、第三陰極(5-3)、第六絕緣體(7-3)、第四陰極(5-4)、第八絕緣體(7-4)依次間隔設置。
4.如權利要求1-3任一項所述的離子監(jiān)控器,其特征在于,各復合層中的絕緣層(2)和絕緣體的材料為二氧化硅、氮化鋁、氧化鋁中任一種。
5.如權利要求1-3任一項所述的離子監(jiān)控器,其特征在于,各復合層中的絕緣層(2)和絕緣體的材料為二氧化硅。
6.一種如權利要求1所述的離子監(jiān)控器的制備方法,其特征在于,包括如下步驟:
第一步,在硅襯底(1)上,依次制備第三復合層、第四復合層,其中,復合層由絕緣層(2)-及其上方的多晶硅層(3)構成;
第二步,依次經過蝕刻工藝形成設置第三絕緣體(6-2)、第二陽極(4-2)、第一絕緣體(6-1)、第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第二絕緣體(7-1)、第二陰極(5-2)、第四絕緣體(7-2)的空洞;其中,第一陽極(4-1)的空洞、第一陰極(5-1)的空洞、第一絕緣體(6-1)的空洞以及第二絕緣體(7-1)的空洞分別垂直穿透第四復合層的多晶硅層,但不垂直穿透第四復合層的絕緣層;第二陽極(4-2)的空洞、第二陰極(5-2)的空洞、第三絕緣體(6-2)的空洞以及第四絕緣體(7-2)的空洞分別垂直穿透第四復合層以及第三復合層的多晶硅層,但不垂直穿透第三復合層的絕緣層;
第三步,利用制膜工藝,在第三絕緣體(6-2)、第一絕緣體(6-1)、第二絕緣體(7-1)、第四絕緣體(7-2)的空洞內填充絕緣體;
第四步,利用制膜工藝,在第二陽極(4-2)、第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第二陰極(5-2)的空洞內填導電金屬。
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H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





