[發(fā)明專利]一種離子監(jiān)控器及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910574232.0 | 申請日: | 2019-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN110444486B | 公開(公告)日: | 2021-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 石清雯 | 申請(專利權(quán))人: | 新昌縣厚澤科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;G01R27/02 |
| 代理公司: | 浙江千克知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 33246 | 代理人: | 趙炎英 |
| 地址: | 312500 浙江省紹興市新昌縣省級*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 離子 監(jiān)控器 及其 制備 方法 | ||
1.一種離子監(jiān)控器,應(yīng)用于離子注入,其特征在于,包括硅襯底(1),以及依次形成在該硅襯底(1)上的第三復(fù)合層和第四復(fù)合層,每層復(fù)合層由絕緣層(2)-及其上方的多晶硅層(3)構(gòu)成;所述離子監(jiān)控器還包括,第一陽極(4-1)和第二陽極(4-2),第一陰極(5-1)和第二陰極(5-2),以及第一絕緣體(6-1)、第二絕緣體(7-1)、第三絕緣體(6-2)、第四絕緣體(7-2);其中,第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第一絕緣體(6-1)以及第二絕緣體(7-1)分別垂直穿透第四復(fù)合層的多晶硅層,但不垂直穿透第四復(fù)合層的絕緣層;第二陽極(4-2)、第二陰極(5-2)、第三絕緣體(6-2)、以及第四絕緣體(7-2)分別垂直穿透第四復(fù)合層至第三復(fù)合層的多晶硅層,但不垂直穿透第三復(fù)合層的絕緣層;第三絕緣體(6-2)、第二陽極(4-2)、第一絕緣體(6-1)、第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第二絕緣體(7-1)、第二陰極(5-2)以及第四絕緣體(7-2)依次間隔設(shè)置。
2.如權(quán)利要求1所述的離子監(jiān)控器,其特征在于,所述離子監(jiān)控器還包括設(shè)置在硅襯底1和第三復(fù)合層之間的第二復(fù)合層,第三陽極(4-3)、第五絕緣體(6-3)、第三陰極(5-3)以及第六絕緣體(7-3);其中,第三陽極(4-3)、第三陰極(5-3)、第五絕緣體(6-3)以及第六絕緣體(7-3)分別垂直穿透第四復(fù)合層、第三復(fù)合層至第二復(fù)合層的多晶硅層,但不垂直穿透第二復(fù)合層的絕緣層;第五絕緣體(6-3)、第三陽極(4-3)、第三絕緣體(6-2)、第二陽極(4-2)、第一絕緣體(6-1)、第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第二絕緣體(7-1)、第二陰極(5-2)、第四絕緣體(7-2)、第三陰極(5-3)、第六絕緣體(7-3)依次間隔設(shè)置。
3.如權(quán)利要求2所述的離子監(jiān)控器,其特征在于,所述離子監(jiān)控器還包括設(shè)置在硅襯底1和第二復(fù)合層之間的第一復(fù)合層,第四陽極(4-4)、第七絕緣體(6-4)、第四陰極(5-4)以及第八絕緣體(7-4);其中,第四陽極(4-4)、第四陰極(5-4)、第七絕緣體(6-4)以及第八絕緣體(7-4)分別垂直穿透第四復(fù)合層、第三復(fù)合層、第二復(fù)合層至第一復(fù)合層的多晶硅層,但不垂直穿透第一復(fù)合層的絕緣層;第七絕緣體(6-4)、第四陽極(4-4)、第五絕緣體(6-3)、第三陽極(4-3)、第三絕緣體(6-2)、第二陽極(4-2)、第一絕緣體(6-1)、第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第二絕緣體(7-1)、第二陰極(5-2)、第四絕緣體(7-2)、第三陰極(5-3)、第六絕緣體(7-3)、第四陰極(5-4)、第八絕緣體(7-4)依次間隔設(shè)置。
4.如權(quán)利要求1-3任一項所述的離子監(jiān)控器,其特征在于,各復(fù)合層中的絕緣層(2)和絕緣體的材料為二氧化硅、氮化鋁、氧化鋁中任一種。
5.如權(quán)利要求1-3任一項所述的離子監(jiān)控器,其特征在于,各復(fù)合層中的絕緣層(2)和絕緣體的材料為二氧化硅。
6.一種如權(quán)利要求1所述的離子監(jiān)控器的制備方法,其特征在于,包括如下步驟:
第一步,在硅襯底(1)上,依次制備第三復(fù)合層、第四復(fù)合層,其中,復(fù)合層由絕緣層(2)-及其上方的多晶硅層(3)構(gòu)成;
第二步,依次經(jīng)過蝕刻工藝形成設(shè)置第三絕緣體(6-2)、第二陽極(4-2)、第一絕緣體(6-1)、第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第二絕緣體(7-1)、第二陰極(5-2)、第四絕緣體(7-2)的空洞;其中,第一陽極(4-1)的空洞、第一陰極(5-1)的空洞、第一絕緣體(6-1)的空洞以及第二絕緣體(7-1)的空洞分別垂直穿透第四復(fù)合層的多晶硅層,但不垂直穿透第四復(fù)合層的絕緣層;第二陽極(4-2)的空洞、第二陰極(5-2)的空洞、第三絕緣體(6-2)的空洞以及第四絕緣體(7-2)的空洞分別垂直穿透第四復(fù)合層以及第三復(fù)合層的多晶硅層,但不垂直穿透第三復(fù)合層的絕緣層;
第三步,利用制膜工藝,在第三絕緣體(6-2)、第一絕緣體(6-1)、第二絕緣體(7-1)、第四絕緣體(7-2)的空洞內(nèi)填充絕緣體;
第四步,利用制膜工藝,在第二陽極(4-2)、第一陽極(4-1)、第一陰極(5-1)、第二陰極(5-2)的空洞內(nèi)填導(dǎo)電金屬。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





