[發(fā)明專利]一種PCB設(shè)計中差分線過孔附近GND過孔檢查的方法和系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910573780.1
• 申請日: 2019-06-28
• 公開（公告）號: CN110377975B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 呂瑞倩;付深圳
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F30/39
• 分類號: G06F30/39;G06F115/12
• 代理公司: 濟(jì)南誠智商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司 37105
• 代理人: 侯德玉

1.一種PCB設(shè)計中差分線過孔附近GND過孔檢查的方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取待檢查的差分線，將待檢查的差分線中兩個ID相同的差分線，作為差分線對；

將差分線對中第一差分線和第二差分線中的過孔對應(yīng)起來，作為過孔對；

分別以差分線對中任意過孔對的其中一個過孔為圓心，以與相鄰過孔對之間的間距為半徑畫圓，篩選出所述圓中屬性為GND的過孔，并采用函數(shù)unique刪除掉重復(fù)的GND過孔，得到差分線附近GND過孔的數(shù)量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB設(shè)計中差分線過孔附近GND過孔檢查的方法，其特征在于，將差分線對中第一差分線和第二差分線中的過孔對應(yīng)起來，作為過孔對的第一種方法為：

S1：框選待檢查的差分線，將待檢查的差分線中兩個ID相同的差分線，作為差分線對，并將每個差分線對作為一個元素存入到數(shù)列A中；

S2：遍歷數(shù)列A中的差分線對，所述差分線對中包括第一差分線和第二差分線，所述第一差分線上的過孔放入數(shù)列List_A中，所述第二差分線上的過孔放入數(shù)列List_B中；

S3：計算數(shù)列List_A和數(shù)列List_B中過孔之間的距離，距離最小的過孔為數(shù)列List_A和數(shù)列List_B中相對應(yīng)的過孔對，并將所述相對應(yīng)的過孔對放入數(shù)列List_C中。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB設(shè)計中差分線過孔附近GND過孔檢查的方法，其特征在于，將差分線對中第一差分線和第二差分線中的過孔對應(yīng)起來，作為過孔對的第二種方法為：

獲取差分線對中第一差分線的引腳和第二差分線引腳，并對第一差分線的引腳和第二差分線的引腳進(jìn)行排序，第一差分線和第二差分線一共有4個引腳，所述4個引腳位于兩個零件上，根據(jù)所述4個引腳所在的零件進(jìn)行排序；

通過path函數(shù)獲取排列后引腳相對應(yīng)的路徑via和cline，所述路徑對應(yīng)的路徑屬性為via；所述cline對應(yīng)的路徑屬性為segment，通過判斷路徑類型是不是via，如果類型不是via，就刪掉路徑cline，得到相對應(yīng)的過孔對。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種PCB設(shè)計中差分線過孔附近GND過孔檢查的方法，其特征在于，所述計算數(shù)列List_A和數(shù)列List_B中過孔之間的距離的方法為，所述數(shù)列List_A中過孔的坐標(biāo)為（X，Y），所述數(shù)列List_B中過孔的坐標(biāo)為（P，Q）；則所述過孔之間的距離為

。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種PCB設(shè)計中差分線過孔附近GND過孔檢查的方法，其特征在于，

以數(shù)列List_C中任一個過孔對的兩個過孔分別作為圓心，以與所述過孔對相鄰過孔對之間的間距D為半徑畫圓，通過判斷過孔的net屬性是否為GND,并篩選出兩個圓內(nèi)的GND過孔。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種PCB設(shè)計中差分線過孔附近GND過孔檢查的方法，其特征在于，

所述List_A為（VIA_A_1、VIA_B_1……VIA_N_1）；所述List_B為（VIA_A_2、VIA_B_2……VIA_N_2）；所述List_C為(‘( VIA_A_1 VIA_A_2) ‘( VIA_B_1 VIA_B_2)……‘( VIA_N_1VIA_N_2) )；

以VIA_A_1過孔的坐標(biāo)（X1，Y1）作為圓心,D為半徑畫第一圓；以VIA_A_2過孔的坐標(biāo)（X2，Y2）作為圓心,D為半徑畫第二圓；并分別篩選第一圓中的GND過孔和第二圓中的GND過孔；合并第一圓的GND過孔和第二圓中的GND過孔；并去掉重復(fù)的GND過孔，得到差分線附近GND過孔的數(shù)量。

7.根據(jù)權(quán)利要求3或6所述的一種PCB設(shè)計中差分線過孔附近GND過孔檢查的方法，其特征在于，采用length函數(shù)判斷所述得到差分線附近GND過孔的數(shù)量是否大于等于2，如果大于等于2，則所述差分線過孔附近設(shè)置GND過孔。