[發明專利]地震數據時差、相位差自動識別及校正方法

有效

• 申請號: 201910572834.2
• 申請日: 2019-06-27
• 公開（公告）號: CN110261911B
• 公開（公告）日: 2021-07-20
• 發明（設計）人: 王東凱;李繼光;韓宏偉;趙愛國;韓智;金昌昆;張麗
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司勝利油田分公司物探研究院
• 主分類號: G01V1/36
• 分類號: G01V1/36
• 代理公司: 濟南日新專利代理事務所(普通合伙) 37224
• 代理人: 崔曉艷

本發明提供一種地震數據時差、相位差自動識別及校正方法，包括：步驟1，輸入標準地震道數據與待校正地震道數據；步驟2，確定步長，在指定相位區間對待校正地震道數據進行相位校正掃描；步驟3，對應每次掃描，對標準地震道數據和校正后的地震道數據做互相關處理；步驟4，更新互相關值最大時對應的時差、相位差校正量；步驟5，重復步驟2?4，完成在指定區間內地震道數據的相位掃描；步驟6，完成時差、相位差校正量的自動識別；步驟7，對地震道數據進行定量時差、相位差校正；步驟8，輸出校正后地震道數據。該地震數據時差、相位差自動識別及校正方法提高了不同地震數據體之間的連續性和一致性，為后續處理及解釋過程提供了支撐和保障。

技術領域

本發明涉及油田開發技術領域，特別是涉及到一種地震數據時差、相位差自動識別及校正方法。

背景技術

隨著地震勘探技術向更精細化發展，高分辨率地震勘探對精度的要求越來越高，提高地震剖面的信噪比和分辨率成為地震資料處理的關鍵問題。地震數據的動力學信息受到越來越多的關注，時間、相位信息顯得更加重要。時差、相位校正技術能消除地震記錄的時差、相位差異，提高疊加剖面的質量，提供更利于解釋的處理剖面。在地震資料處理中通常用反褶積技術提高地震資料的縱向分辨率，而后經疊加技術獲得更高信噪比的剖面，時差、相位差異是影響疊加剖面質量的主要因素，其中相位的影響最為嚴重。

無論是采集年代不同的連片地震資料，還是相同區塊中具有不同震源參數或者多分量接收的地震資料，受到采集時激發、接收端不同參數以及不同處理過程的影響，不可避免的會產生系統或者人為帶來的時間、相位差異。以連片地震資料為例，常規的做法是利用互相關算法進行各區塊之間的系統時差校正后進行連片處理，但其實各區塊資料采集時間、設備和采用的處理流程都不可能完全相同，所形成的疊加剖面在時間、相位上都會有一定差異，僅僅校正時差并不能得到較好的一致性處理結果。同樣，對于多分量數據來說，加速度分量和速度分量在理論上存在90度的相位差異，但受到檢波器制作工藝及施工條件的影響，實際相位差異與理論值往往存在較大偏離，需要通過實驗識別并加以校正，之后再進一步進行時差校正，因為時差求取的前提是基于各地震道之間相位相同的假設。在依次經過相位差、時差一致性處理后，可以有效提高如雙檢合成等后續處理步驟的精度，使剖面質量得到提高。

針對不同情況下地震數據中同時存在時差、相位差的情況，本發明采用基于希爾伯特變換的相位掃描的思路，結合互相關算法求取時差，實現了地震數據時差、相位差的自動識別及校正。之所以采用相位掃描而不是時差掃描的思路，是因為相位差和時差在求取的先后順序上有一定的依賴關系。時差求取的前提是基于各地震道之間相位相同的假設，所以必須要先進行相位的識別及校正，反過來會造成時差求取精度降低，影響一致性處理效果。

在申請號為CN201710935821.8的中國專利申請中，涉及到一種三維地震數據動態拉伸時差校正方法及系統，包括：1)分別逐線讀取第一組三維地震數據和第二組三維地震數據，計算兩組三維數據的每個點的時移量，獲得三維時移量數據；2)對三維時移量數據進行平滑處理；3)利用經平滑處理的時移量數據對于第二組三維地震數據逐線進行時差校正。該發明通過逐點計算進行時移校正，無法設置校正步長，增大了計算量，同時回避了數據之間的可能存在的相位差異，無法定量描述數據整體或一定區域內的時差及相位差。

在申請號為CN201610663124.7的中國專利申請中，涉及到一種地震數據時差校正的方法及系統，所述方法包括：獲取目標區域第一時間對應的基礎地震數據，和第二時間對應的監測地震數據；分別獲取基礎地震數據和監測地震數據中相同位置對應的第一地震道數據和第二地震道數據，分別選取第一地震道數據和第二地震道數據中第一時窗位置處的時間樣點；預設多個第一時差量，計算與每個所述第一時差量分別對應的第一時窗位置處的時間樣點的第一方差值；根據第一方差值確定最小方差值，將最小方差值對應的第二時差量作為第二地震道數據中第一時窗位置處的時間樣點對應的目標時差量；根據目標時差量對所述監測地震數據進行時差校正，得到目標地震數據。該發明只考慮了基礎地震數據和監測地震數據間的時間差異，而本發明兼顧數據間的時差、相位差，校正精度更高。