[發明專利]平整度檢測設備、檢測件和平整度檢測方法

在審

• 申請號: 201910559643.2
• 申請日: 2019-06-26
• 公開（公告）號: CN111272112A
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 于子鵬
• 申請（專利權）人: 深圳市鴻合創新信息技術有限責任公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30
• 代理公司: 深圳市君之泉知識產權代理有限公司 44366
• 代理人: 呂戰竹

1.一種平整度檢測設備，用于對待測表面進行平整度檢測，其特征在于，包括光網裝置和檢測件，所述光網裝置用于提供光網，所述光網由若干條交錯的光線構成網狀，所述檢測件至少包括抵靠部和遮擋部，所述抵靠部用于抵靠在所述待測表面上，所述遮擋部用于置于所述光網內，所述遮擋部構造為，當所述抵靠部抵靠在所述待測表面的具有不同平整度的位置時，所述遮擋部對所述光線的有效遮擋數量不同。

2.根據權利要求1所述的平整度檢測設備，其特征在于，所述光網為縱橫交錯的直掃光網或者扇形光網。

3.根據權利要求1所述的平整度檢測設備，其特征在于，所述檢測件包括錐形結構，所述錐形結構的側面構成所述遮擋部，所述錐形結構的大端的端面構成所述抵靠部。

4.根據權利要求3所述的平整度檢測設備，其特征在于，還包括便于握持的手柄，所述手柄與所述錐形結構的小端相連。

5.根據權利要求4所述的平整度檢測設備，其特征在于，所述手柄包括呈桿狀的手柄部和凸出部，所述凸出部沿所述手柄部的周向設置且凸出方向與所述手柄部的延伸方向呈夾角設置，所述凸出部用于標示握持的極限位置。

6.根據權利要求1-5任一項所述的平整度檢測設備，其特征在于，所述待測表面包括多個檢測位置，每個所述檢測位置的所述光網的疏密程度一致。

7.一種檢測件，用于對紅外觸摸顯示屏中的玻璃進行平整度檢測，所述紅外觸摸顯示屏能夠形成紅外光網，其特征在于，所述檢測件包括抵靠部和遮擋部，所述抵靠部用于抵靠在所述玻璃表面上，所述遮擋部用于置于所述紅外光網內，所述紅外光網由若干條交錯的紅外光線構成網狀，所述遮擋部構造為，當所述抵靠部抵靠在所述待測表面的具有不同平整度的位置時，所述遮擋部對所述紅外光線的有效遮擋數量不同。

8.根據權利要求7所述的檢測件，其特征在于，所述檢測件包括錐形結構，所述錐形結構的側面構成所述遮擋部，所述錐形結構的大端的端面構成所述抵靠部。

9.一種平整度檢測方法，用于對待測表面進行平整度檢測，其特征在于，提供光網和檢測件，所述光網由若干條交錯的光線構成網狀，所述檢測件至少包括抵靠部和遮擋部，所述抵靠部用于抵靠在所述待測表面上，所述遮擋部用于置于所述光網內，所述遮擋部構造為，當所述抵靠部抵靠在所述待測表面的具有不同平整度的位置時，所述遮擋部對所述光線的有效遮擋數量不同；

所述方法包括以下步驟：

S1：將待測表面置于所述光網的一側；

S2：將所述遮擋部置于所述光網中，并使得所述抵靠部置于所述待測表面的檢測位置；

S3：獲取在所述檢測位置所述遮擋部遮擋的所述光網的光線數量；

S4：根據步驟S3中獲取的所述光線數量，得到所述待測表面的平整度。

10.根據權利要求9所述的平整度檢測方法，其特征在于，所述檢測件包括錐形結構，所述錐形結構的側面構成所述遮擋部，所述錐形結構的大端的端面構成所述抵靠部；

所述步驟S4具體包括：

S41：根據步驟S3中獲取的所述光線數量，得到在所述檢測位置所述遮擋部遮擋光線的位置距離錐頂的距離；

S42：根據步驟S41得到的所述遮擋部遮擋光線的位置距離所述錐頂的距離，得到所述檢測位置的高度；

S43：根據步驟S42得到的多個所述檢測位置的高度，得到所述待測表面的平整度。

11.根據權利要求10所述的平整度檢測方法，其特征在于，步驟S41中，所述遮擋部遮擋光線的位置距離錐頂的距離H2具體通過如下公式計算：

H2＝H1*[(N1/N2)1/2]；

其中，H1為大端距離錐頂的實際高度；N1為大端實際能夠遮擋的光網的光線數量；N2為所述遮擋部遮擋光線的位置實際能夠遮擋的光網的光線數量。