[發明專利]一種用于研究磁線圈束流的實驗裝置

有效

• 申請號: 201910558907.2
• 申請日: 2019-06-26
• 公開（公告）號: CN110364060B
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發明（設計）人: 湯海濱;劉一澤;陳志遠;章喆;王一白;任軍學
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G09B23/18
• 分類號: G09B23/18
• 代理公司: 北京航智知識產權代理事務所(普通合伙) 11668
• 代理人: 黃川;史繼穎

1.一種用于研究磁線圈束流的實驗裝置，其特征在于，包括空心陰極、霍爾推力器、型材、截流盤、磁線圈、線圈骨架、等離子體診斷系統，其中，

所述空心陰極與所述霍爾推力器分別通過電路、氣路及機械連接；

所述型材將所述截流盤和所述線圈骨架吊裝并固定在所述霍爾推力器與所述等離子體診斷系統之間；所述霍爾推力器、所述截流盤、所述線圈骨架三者同軸，所述截流盤的外凸面朝向所述霍爾推力器，所述截流盤的內凹面朝向所述線圈骨架；

所述截流盤的外凸面和所述線圈骨架之間保持一定安裝距離；

所述截流盤中心開設有截流孔，所述截流盤中心開設的截流孔的半徑確定方式如下：在不受磁場約束條件下，使用所述等離子體診斷系統獲取所述霍爾推力器靠近所述截流盤一端軸向距離400mm-800mm范圍內的離子密度徑向分布，離子密度徑向分布曲線隨著距離所述霍爾推力器軸向距離的增加而由倒V形轉變為M形，轉變過程中離子密度在徑向距離為R的位置均勻分布，所述截流盤中心開設的截流孔的半徑小于所述的徑向距離R；

所述磁線圈繞在所述線圈骨架上；

所述等離子體診斷系統包含法拉第探針、朗繆爾探針、阻滯能量分析儀、位移機構及其控制器、數據采集儀、探針電源，所述等離子體診斷系統的位移機構的行程覆蓋范圍為距離所述線圈骨架靠近所述等離子體診斷系統一端的軸向距離100mm-300mm，徑向距離0mm-500mm。

2.根據權利要求1所述的一種用于研究磁線圈束流的實驗裝置，其特征在于，所述截流盤中心開設的截流孔的半徑為5mm-20mm。

3.根據權利要求1或2所述的一種用于研究磁線圈束流的實驗裝置，其特征在于，所述截流盤的外凸面與所述磁線圈骨架之間的安裝間距為10mm-15mm。

4.根據權利要求1或2所述的一種用于研究磁線圈束流的實驗裝置，其特征在于，所述線圈骨架在軸線方向的長度為40mm-45mm，所述線圈骨架具有圓筒狀的繞芯，所述繞芯內徑為40mm-100mm、外徑大于所述截流盤上的截流孔內徑的5倍，所述線圈骨架的剖面呈工字型，所述線圈骨架的第一端靠近所述截流盤的內凹面，所述線圈骨架的第二端通過螺栓和螺母固定連接在所述型材上。

5.根據權利要求1所述的一種用于研究磁線圈束流的實驗裝置，其特征在于，所述截流盤的外側有與所述截流盤的軸心成45°的盤沿。