[發明專利]基于CCD圖像傳感器的指紋模組檢測系統及方法

有效

• 申請號: 201910557223.0
• 申請日: 2019-06-25
• 公開（公告）號: CN110440716B
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: 郝建華;李會斌;高金生
• 申請（專利權）人: 鹽城華昱光電技術有限公司
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26;G01B11/06
• 代理公司: 北京華際知識產權代理有限公司 11676
• 代理人: 范登峰

本發明公開了一種基于CCD圖像傳感器的指紋模組檢測系統及方法，所述檢測系統包括數據存儲模塊、人工檢查模塊、深入檢查模塊和加工產線評估模塊，所述數據存儲模塊用于待檢測指紋模組的總數以及待檢測指紋模組中的合格數量，所述人工檢查模塊用于人工初步篩選檢查指紋模組，所述深入檢查模塊用于使用機器對指紋模組進行深入檢查，所述加工產線評估模塊根據人工檢查模塊和深入檢查模塊的結果評估指紋模組加工產線的狀況，并根據評估狀況提出建議；所述數據存儲模塊包括待檢測總數存儲模塊，初步檢查合格數存儲模塊和深入檢查合格數存儲模塊，所述初步檢查合格數存儲模塊用于存儲人工檢查的指紋模組中指紋模組合格的數量。

技術領域

本發明涉及指紋模組檢測領域，具體是一種基于CCD圖像傳感器的指紋模組檢測系統及方法。

背景技術

指紋模組是指紋鎖的核心部件，安裝在如指紋門禁或者硬盤等器件上，用來完成指紋的采集和指紋的識別的模塊。指紋模組主要由指紋采集模塊、指紋識別模塊和擴展功能模塊(如鎖具驅動模塊)組成。指紋識別具有高唯一性、高穩定性、高準確性、高安全性等特點，因此，指紋模組的應用越來越廣，市場潛力巨大。指紋模組在加工過程中，需要加工指紋模組的倒角，如果指紋模組的倒角出現損傷或者加工精度較低，將會影響指紋模組的使用，降低指紋識別解鎖的效率。現有技術中，缺少對于指紋模組的加工倒角情況的有效檢測。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于CCD圖像傳感器的指紋模組檢測系統及方法，以解決現有技術中的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種基于CCD圖像傳感器的指紋模組檢測系統，所述檢測系統包括數據存儲模塊、人工檢查模塊、深入檢查模塊和加工產線評估模塊，所述數據存儲模塊用于待檢測指紋模組的總數以及待檢測指紋模組中的合格數量，所述人工檢查模塊用于人工初步篩選檢查指紋模組，所述深入檢查模塊用于使用機器對指紋模組進行深入檢查，所述加工產線評估模塊根據人工檢查模塊和深入檢查模塊的結果評估指紋模組加工產線的狀況，并根據評估狀況提出建議。

作為優選方案，所述數據存儲模塊包括待檢測總數存儲模塊，初步檢查合格數存儲模塊和深入檢查合格數存儲模塊，所述初步檢查合格數存儲模塊用于存儲人工檢查的指紋模組中指紋模組合格的數量，所述人工檢查模塊用于人工檢查倒角上是否存在劃傷，所述深入檢查合格數存儲模塊用于存儲機器檢查的指紋模組中指紋模組合格的數量，所述深入檢查模塊包括圖像采集模塊、指紋模組圖像預處理模塊、倒角區域確定模塊和倒角區域檢測模塊，所述圖像采集模塊為CCD圖像傳感器，所述圖像采集模塊用于采集多張指紋模組圖像，所述指紋模組圖像預處理模塊包括亮度分布計算模塊、圖像合成模塊、校正值計算模塊、指紋模組圖像校正模塊和濾波去噪處理模塊，所述亮度分布計算模塊用于計算每張指紋模組圖像上各亮度分布的特征量，所述圖像合成模塊用與將圖像采集模塊所采集到的指紋模組圖像相加并合成獲得合成指紋模組圖像，所述校正值計算模塊用于需要對合成指紋模組圖像進行色調校正的校正值，所述指紋模組圖像校正模塊根據計算出的校正值對合成指紋模組進行校正，所述濾波去噪處理模塊用于對校正后的合成指紋模組圖像進行高斯平滑處理；所述倒角區域確定模塊包括輪廓線搜索模塊、灰度值計算模塊和灰度值比較模塊，所述輪廓線搜索模塊用于確定合成指紋模組圖像的輪廓線，所述灰度值計算模塊用于計算在輪廓線的垂直方向上計算各點之間的灰度值之差，所述灰度值比較模塊用于比較各點之間的灰度值之差，并篩選出灰度值之差最大的兩點之間的區域，將該區域作為倒角區域，所述倒角區域檢測模塊包括厚度計算模塊和倒角區域評估模塊，所述厚度計算模塊用于計算倒角區域中多點的平均厚度以及他們的厚度方差，所述倒角區域評估模塊用于根據平均厚度和厚度方差評估倒角區域加工的是否合格，所述加工產線評估模塊根據人工檢查的指紋模組中指紋模組合格的數量和機器檢查的指紋模組中指紋模組合格的數量計算出初步檢查合格率P和深入檢查合格率Q，并提出加工產線的改善建議。

一種基于CCD圖像傳感器的指紋模組檢測方法，所述檢測方法包括以下步驟：

S1：確定該批待檢測指紋模組的總數量；