[發(fā)明專利]顯示亮度調(diào)試方法以及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910555721.1
• 申請日: 2019-06-25
• 公開（公告）號: CN110264977A
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發(fā)明（設計）人: 邱彬
• 申請（專利權）人: 惠科股份有限公司;重慶惠科金渝光電科技有限公司
• 主分類號: G09G5/10
• 分類號: G09G5/10
• 代理公司: 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 左幫勝

本申請涉及一種顯示亮度調(diào)試方法以及裝置。方法包括：將顯示面板劃分為n個測試區(qū)塊，相鄰兩個測試區(qū)塊之間具有過渡區(qū)，n為大于1的正整數(shù)。測試各測試區(qū)塊的顯示亮度。選擇其中一個測試區(qū)塊作為參考區(qū)塊。根據(jù)參考區(qū)塊的顯示亮度與其他各測試區(qū)塊的顯示亮度的差異，對其他各測試區(qū)塊的背光亮度進行補償。調(diào)整過渡區(qū)的背光亮度，使得至少一個過渡區(qū)的背光亮度位于其兩側的兩個相鄰測試區(qū)塊的補償后的背光亮度之間。本申請的顯示亮度調(diào)試方法以及裝置可以有效提高顯示均勻度。

技術領域

本申請涉及顯示技術領域，特別是涉及一種顯示亮度調(diào)試方法以及裝置。

背景技術

隨著顯示技術的發(fā)展，人們對于顯示均勻性的要求越來越高。對于顯示面板的顯示亮度的調(diào)試方法，目前通常是對子像素的充電時間進行調(diào)整，進而調(diào)整充電量，從而調(diào)整顯示亮度。

但是，受到走線阻抗以及寄生電容等的影響，充電時間與顯示亮度并不是線形的。因此，上述顯示亮度的均勻度仍有待提高。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種提高顯示均勻度的顯示亮度調(diào)試方法以及裝置。

上述顯示亮度調(diào)試方法以及裝置，以參考區(qū)塊的顯示亮度為參考，對其他各測試區(qū)塊的背光亮度進行補償。進而使得整個顯示面板可以更加均勻的顯示。并且，本實施例顯示亮度調(diào)試裝置的至少一個過渡區(qū)的調(diào)整后的背光亮度位于其兩側的兩個相鄰測試區(qū)塊的補償后的背光亮度之間。因此，相應的相鄰測試區(qū)塊的亮度可以進行較均勻地過渡，進而進一步提高了顯示面板的均勻性。

附圖說明

圖1為一個實施例中顯示亮度調(diào)試方法流程示意圖；

圖2為一個實施例中顯示面板及其顯示亮度示意圖；

圖3為一個實施例中顯示面板及其背光亮度示意圖；

圖4為一個實施例中選擇其中一個測試區(qū)塊作為參考區(qū)塊的流程示意圖；

圖5-圖8為不同實施例中判斷各測試區(qū)塊的灰階所在的范圍，并根據(jù)判斷結果選擇參考區(qū)塊的流程示意圖；

圖9為一個實施例中根據(jù)參考區(qū)塊的顯示亮度與其他各測試區(qū)塊的顯示亮度的差異，對其他各測試區(qū)塊的背光亮度進行補償?shù)牧鞒淌疽鈭D；

圖10為一個實施例中顯示亮度調(diào)試裝置模塊示意圖。

具體實施方式

為了使本申請的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本申請進行進一步詳細說明。應當理解，此處描述的具體實施例僅僅用以解釋本申請，并不用于限定本申請。

本申請?zhí)峁┑娘@示亮度調(diào)試方法，可以但不限于應用于液晶顯示產(chǎn)品的顯示亮度的調(diào)試。

在一個實施例中，參考圖1以及圖2，提供了一種顯示亮度調(diào)試方法，包括：

步驟S1，將顯示面板100劃分為n個測試區(qū)塊110，相鄰兩個測試區(qū)塊110之間具有過渡區(qū)120，n為大于1的正整數(shù)。

這里的n為大于1的正整數(shù)，即將顯示面板劃分為至少兩個測試區(qū)塊110。具體地測試區(qū)塊110的數(shù)量可以根據(jù)實際需求進行設計。一般地，可以將測試區(qū)塊110劃分為9個測試區(qū)塊。各個測試區(qū)塊110的形狀尺寸可以相同，也可以不同，其也可以根據(jù)實際需求進行設計。

步驟S2，測試各測試區(qū)塊110的顯示亮度。

顯示亮度即顯示面板最終顯示出來的亮度。這里對每個測試區(qū)塊110進行顯示亮度的測量。在圖2中，顯示面板100劃分為9個形狀尺寸相同的測試區(qū)塊110，各測試區(qū)塊110的顯示亮度分別為x1-x9。

步驟S3，選擇其中一個測試區(qū)塊110作為參考區(qū)塊110a。