[發明專利]半導體存儲裝置有效
| 申請號: | 201910554490.2 | 申請日: | 2019-06-25 |
| 公開(公告)號: | CN111354399B | 公開(公告)日: | 2023-05-23 |
| 發明(設計)人: | 吉原宏;天野哲哉 | 申請(專利權)人: | 鎧俠股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C16/04 | 分類號: | G11C16/04;G11C16/08;G11C16/30 |
| 代理公司: | 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287 | 代理人: | 楊林勳 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 存儲 裝置 | ||
1.一種半導體存儲裝置,具備:
第1字線,連接于第1記憶胞;
第2字線,連接于第2記憶胞;以及
電壓產生電路,向電連接于所述第1字線的第1配線供給第1電壓,且向電連接于所述第2字線的第2配線供給第2電壓;且
所述電壓產生電路具備:
第1調節器,向所述第1配線輸出所述第1電壓,并且與所述第1電壓對應而輸出第1信號;
第2調節器,向所述第2配線輸出所述第2電壓,并且與所述第2電壓對應而輸出第2信號;以及
開關電路,基于所述第1信號或所述第2信號的至少任一信號,將所述第1配線與所述第2配線之間保持為連接狀態或阻斷狀態的任一狀態。
2.根據權利要求1所述的半導體存儲裝置,其中所述第1調節器具備將所述第1電壓與第3電壓的電壓差放大并輸出所述第1信號的放大電路。
3.根據權利要求1所述的半導體存儲裝置,其中從所述第1調節器輸出的所述第1信號隨著所述第1電壓的變化而連續地發生變化。
4.根據權利要求1所述的半導體存儲裝置,其中
所述開關電路具備:
第1晶體管,電連接于所述第1配線與所述第2配線之間;以及
下拉電路,電連接于所述第1晶體管的柵極,且根據所述第1信號進行動作。
5.根據權利要求4所述的半導體存儲裝置,其中
下拉電路具有第2晶體管,且
向所述第2晶體管的柵極供給所述第1信號,在第1端電連接所述第1晶體管的柵極,且向第2端供給接地電壓。
6.根據權利要求1所述的半導體存儲裝置,其中所述開關電路具備:
第1晶體管,電連接于所述第1配線與所述第2配線之間;以及
第2晶體管與第3晶體管,并聯連接于所述第1晶體管的柵極與接地電壓端之間;且
向所述第2晶體管的柵極供給所述第1信號,向所述第3晶體管的柵極供給所述第2信號。
7.根據權利要求1所述的半導體存儲裝置,其中所述開關電路具備:
第1晶體管,電連接于所述第1配線與所述第2配線之間;以及
提升電路,電連接于所述第1晶體管的柵極,且根據所述第1信號及所述第2信號進行動作。
8.根據權利要求7所述的半導體存儲裝置,其中
下拉電路具有第2晶體管及第3晶體管,且
向所述第2晶體管的柵極供給所述第1信號,向所述第3晶體管的柵極供給所述第2信號,
在所述第3晶體管的第1端電連接所述第1晶體管的柵極,在所述第3晶體管的第2端電連接所述第2晶體管的第1端,且向所述第2晶體管的第2端供給接地電壓。
9.根據權利要求1所述的半導體存儲裝置,其中所述開關電路具備:
第1晶體管,電連接于所述第1配線與所述第2配線之間;以及
第2晶體管與第3晶體管,串聯連接于所述第1晶體管的柵極與接地電壓端之間;且
向所述第2晶體管的柵極供給所述第1信號,向所述第3晶體管的柵極供給所述第2信號。
10.根據權利要求4所述的半導體存儲裝置,其中所述第1晶體管包含n信道MOS場效晶體管。
11.根據權利要求7所述的半導體存儲裝置,其中所述第1晶體管包含p信道MOS場效晶體管。
12.根據權利要求1所述的半導體存儲裝置,還具備第1電路,所述第1電路是當所述開關電路從所述連接狀態轉換為所述阻斷狀態時,阻斷流向所述開關電路的電流。
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