[發明專利]單固定型故障基于可測試性影響錐的測試精簡方法及系統有效
| 申請號： | 201910554410.3 | 申請日： | 2019-06-25 |
| 公開（公告）號： | CN110221196B | 公開（公告）日： | 2020-06-16 |
| 發明（設計）人： | 向東 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | G01R31/317 | 分類號： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人： | 苗曉靜 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 固定 故障 基于 測試 影響 精簡 方法 系統 | ||
1.一種單固定型故障基于可測試性影響錐的測試精簡方法，其特征在于，包括：
S1.1，獲取所述單固定型故障點集合中所有故障點的影響錐；
S1.2，從單固定型故障點集合中獲取目標故障點f的ST故障集合，并設置所述ST故障集合的大小為指定數目，ST←Ф；
S1.3，從所述單固定型故障點集合中提取故障點f1，所述故障點f1與所述目標故障點f的影響錐具有最小重合度；
S1.4，若所述故障點f1與所述目標故障點f的可測試性影響錐不交叉時，ST←ST∪{f1}；
S1.5，重復S1.3-S1.4，遍歷所述單固定型故障點集合中所有故障點，直至獲取到所述指定數目的故障點，構成所述ST故障集合；
生成所述目標故障點f的測試向量并在所述f測試向量的約束下獲取所述ST故障集合中故障的測試向量集合；
S1.6，若所述單固定型故障點集合非空，重復執行S1.2-S1.5,直至完成動態測試精簡；
S1.7，對經過動態精簡的所述測試向量集合，進行靜態測試精簡，獲取精簡后的最終測試向量集合；
所述影響錐為：待測數字集成電路中掃描觸發器的輸入端集合PPIs與所述待測數字集成電路輸入集合PIs的最小集合；
所述可測試性影響錐為：將所述待測數字集成電路中某一門設置為確定值時，所需要置為確定值的所述輸入端集合PPIs及所述輸入集合PIs的最小集合。
2.根據權利要求1所述的單固定型故障基于可測試性影響錐的測試精簡方法，其特征在于，所述可測試性影響錐的生成算法，包括：
S21，以所述待測數字集成電路中的門l為起點，以門為單位掃描所述待測數字集成電路，計算RCi(PI)＝{PI},RCi(PPI)＝{PPI},i∈{0，1}；其中，RCi(l)指將門l輸出置為i值，需要將掃描觸發器對應的所述輸入端集合PPIs以及所述輸入集合PIs置為確定值的最小集合；
若門l為AND門輸出，則RC1(l)＝RC1(A)∪RC1(B)；其中，若|RC0(A)|≤|RC0(B)|，RC0(l)＝RC0(A)；若|RC0(A)||RC0(B)|，RC0(l)＝RC0(B)；
若門l為OR門輸出，則RC0(l)＝RC0(A)∪RC0(B)；其中，若|RC1(A)|≤|RC1(B)|，RC1(l)＝RC1(A)；若|RC1(A)||RC1(B)|，RC1(l)＝RC1(B)；
若門l為NOT門的輸出，則輸入為A，RC1(l)＝RC0(A),RC1(l)＝RC1(A)；
若門l為扇出源，分支為：B1,B2,…,Bk，RCi(Bj)＝{RCi(Bj)}，其中，所述Bj表示扇出源的扇出分支門，j∈{1,2,…k}；
S22，重復執行步驟S21，遍歷所述待測數字集成電路的所有的門，直至出現PPOs或POs時終止，獲取所述輸入端集合PPIs與所述輸入集合PIs后構成所述故障點的可測試性影響錐；
所述PPOs為：掃描觸發器的輸出端集合；所述POs為：待測數字集成電路的輸出端集合。
3.根據權利要求1所述的單固定型故障基于可測試性影響錐的測試精簡方法，其特征在于，所述目標故障點為：所述單固定型故障點集合中與最小影響錐相對應的故障點。
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