[發明專利]一種耗材芯片通信方法、耗材芯片、墨盒有效
| 申請號: | 201910552418.6 | 申請日: | 2019-06-25 |
| 公開(公告)號: | CN112123942B | 公開(公告)日: | 2022-01-28 |
| 發明(設計)人: | 余海建;俞夢龍;李速 | 申請(專利權)人: | 杭州旗捷科技有限公司 |
| 主分類號: | B41J2/175 | 分類號: | B41J2/175;B41J29/393;G06F3/12 |
| 代理公司: | 浙江千克知識產權代理有限公司 33246 | 代理人: | 趙衛康 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 耗材 芯片 通信 方法 墨盒 | ||
1.一種耗材芯片通信方法,其特征在于,包括:
當耗材芯片接收到成像設備發送的校驗命令時,耗材芯片將固定反饋數據區內的校驗命令的反饋數據反饋給成像設備,以使成像設備在接收到固定反饋數據區內的校驗命令的反饋數據時報錯;其中,固定反饋數據區內的校驗命令的反饋數據為:在此前耗材芯片接收到成像設備發送的校驗命令而反饋的實時數據被預存于固定反饋數據區內;
在成像設備報錯期間,耗材芯片初始配置的使用第一碼表信息階段的永久使用模式被更換為使用第二碼表信息階段的永久使用模式;其中,第二碼表信息的初始內容與第一碼表信息的初始內容相同;
所述耗材芯片能在重新上電后,使用第二碼表信息與成像設備通信。
2.根據權利要求1所述的一種耗材芯片通信方法,其特征在于,所述當耗材芯片接收到成像設備發送的校驗命令時,耗材芯片將固定反饋數據區內的校驗命令的反饋數據反饋給成像設備步驟的觸發條件為下述任意一條件:
耗材芯片接收到成像設備發送的校驗命令的次數達到次數設定值時;
耗材芯片檢測到打印頁數達到頁數閾值時;
耗材芯片檢測到打印時間達到時間閾值時;
耗材芯片檢測到耗材使用量或耗材消耗量或耗材剩余量達到耗材閾值時;
耗材芯片識別到觸發標識符時。
3.根據權利要求1所述的一種耗材芯片通信方法,其特征在于,所述當耗材芯片接收到成像設備發送的校驗命令時,耗材芯片將固定反饋數據區內的校驗命令的反饋數據反饋給成像設備步驟的觸發條件是:
當耗材使用量達到耗材使用閾值時,耗材芯片接收到成像設備發送的校驗命令時,就將固定反饋數據區內的校驗命令的反饋數據反饋給成像設備;
其中,固定反饋數據區內的校驗命令的反饋數據為:在耗材使用量達到耗材使用閾值前,耗材芯片接收到成像設備發送的校驗命令而反饋的實時數據被存儲于固定反饋數據區內。
4.根據權利要求3所述的一種耗材芯片通信方法,其特征在于,在耗材使用量達到耗材使用閾值時,耗材芯片接收到成像設備發送的校驗命令而反饋的實時數據不再被存儲于固定反饋數據區內。
5.根據權利要求1所述的一種耗材芯片通信方法,其特征在于,還包括在耗材芯片與成像設備通信之前的配置步驟:
耗材芯片上電后,耗材芯片被配置為使用第一碼表信息階段的永久使用模式,并開啟響應成像設備的工作狀態;所述第二碼表信息被存儲于耗材芯片內。
6.根據權利要求5所述的一種耗材芯片通信方法,其特征在于,所述耗材芯片被配置為使用第一碼表信息階段的永久使用模式的過程具體為:當耗材芯片判斷存儲于內的功能配置參數為永久使用配置參數時,耗材芯片被配置為使用第一碼表信息階段的永久使用模式。
7.根據權利要求1所述的一種耗材芯片通信方法,其特征在于,所述耗材芯片重新上電的方式為下述任意一種:
方式一,耗材容器重裝;
方式二,成像設備重新上電;
方式三,耗材芯片插拔上電。
8.一種耗材芯片,其特征在于,包括:
存儲單元,用于存儲第一碼表信息、第二碼表信息和固定反饋數據區;
控制單元,用于在接收到成像設備發送的校驗命令時,將固定反饋數據區內的校驗命令的反饋數據反饋給成像設備,以使成像設備在接收到固定反饋數據區內的檢驗校驗命令的反饋數據時報錯;在成像設備報錯期間,將耗材芯片初始配置的使用第一碼表信息階段的永久使用模式更換為使用第二碼表信息階段的永久使用模式;在配置為第二碼表信息階段后,能在耗材芯片重新上電后,使用第二碼表信息與成像設備通信;
其中,固定反饋數據區內的校驗命令的反饋數據為:在接收到成像設備發送的校驗命令后,將固定反饋數據區內的校驗命令的反饋數據反饋給成像設備之前,耗材芯片接收到成像設備發送的校驗命令而反饋的實時數據被預存于固定反饋數據區內;所述第二碼表信息的初始內容與第一碼表信息的初始內容相同。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于杭州旗捷科技有限公司,未經杭州旗捷科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910552418.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種冷軋帶鋼表面波紋度的測量方法
- 下一篇:MRAM底電極的制備方法





