[發明專利]含有環保涂層的無取向硅鋼的膜厚測量方法及測量設備在審
| 申請號： | 201910551796.2 | 申請日： | 2019-06-25 |
| 公開（公告）號： | CN112129249A | 公開（公告）日： | 2020-12-25 |
| 發明（設計）人： | 劉金學;沈科金;高煜;施葉明;楊光;王雁;侯彬 | 申請（專利權）人： | 寶山鋼鐵股份有限公司 |
| 主分類號： | G01B15/02 | 分類號： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 上海集信知識產權代理有限公司 31254 | 代理人： | 周成 |
| 地址： | 201900 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 含有 環保 涂層 取向 硅鋼 測量方法 測量 設備 | ||
【權利要求書】：
1.一種含有環保涂層的無取向硅鋼的膜厚測量方法，其特征在于，包括如下步驟：
將標準樣品用在線膜厚儀進行檢測，繪制出特征元素含量與環保涂層膜厚線性關系的上表面擬合曲線和下表面擬合曲線；
分別將所述上表面擬合曲線和下表面擬合曲線錄入在線膜厚儀，對待測樣品進行檢測，根據所測得的特征元素含量計算出環保涂層的膜厚；
其中，所述標準樣品為特征元素含量已知、環保涂層厚度已知的無取向硅鋼，所述特征元素為環保涂層中所含有的金屬元素。
2.如權利要求1所述的含有環保涂層的無取向硅鋼的膜厚測量方法，其特征在于，所述特征元素為鈦或鋅。
3.一種用于權利要求1所述的含有環保涂層的無取向硅鋼的膜厚測量方法的測量設備，其特征在于，包括上行走軌道、下行走軌道、上表面測量器和下表面測量器，所述上表面測量器活動設置于上行走軌道上，所述下表面測量器活動設置于下行走軌道上。
4.如權利要求3所述的測量設備，其特征在于，所述上表面測量器的內側和下表面測量器的內側各固設有一個接收器和一個X射線發生器。
5.如權利要求4所述的測量設備，其特征在于，所述X射線發生器的表面可拆卸地設有濾光片。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于寶山鋼鐵股份有限公司，未經寶山鋼鐵股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910551796.2/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：板坯邊緣精確定位系統及方法
- 下一篇：一種控制電工鋼涂層膜厚的裝置及方法
