[發明專利]一種光學鏡頭色差測量裝置在審
| 申請號: | 201910545794.2 | 申請日: | 2019-06-23 |
| 公開(公告)號: | CN110542539A | 公開(公告)日: | 2019-12-06 |
| 發明(設計)人: | 何同軍;汪淵 | 申請(專利權)人: | 江蘇同勝光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 212333 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 鏡頭固定 機倉 色差測量 內壁 檢測 外壁設置 通光 鏡頭 變色鏡片 標準色板 待測位置 頂部外壁 封閉環境 光學鏡頭 光柵透鏡 滑動連接 夾持機構 控制面板 弱光環境 通槽內壁 顯示面板 因素影響 抽屜式 通光量 原有的 殘影 疊合 卡接 通槽 拍照 配合 | ||
本發明公開了一種光學鏡頭色差測量裝置,包括機倉,所述機倉的一側外壁設置有顯示面板和控制面板,且機倉的另一側外壁設置有檢測通槽,檢測通槽內壁滑動連接有鏡頭固定倉,所述鏡頭固定倉的內壁設置有夾持機構,且鏡頭固定倉的一側內壁卡接有光柵透鏡,鏡頭固定倉的另一側內壁設置有變色鏡片,所述機倉的頂部外壁設置有通光機構。本發明通過抽屜式檢測倉固定待檢測鏡頭片,將鏡頭片置于色差測量半球端部,通過多元件之間配合,對各個鏡頭待測位置殘影拍照對比疊合,后續和標準色板對比得出數據,通光機構通過改變色差測量半球內部的通光量,將原有的封閉環境改為弱光環境,減少其他因素影響。
技術領域
本發明涉及鏡頭色差測量技術領域,尤其涉及一種光學鏡頭色差測量裝置。
背景技術
色差是指光學上透鏡無法將各種波長的色光都聚焦在同一點上的現象。它的產生是因為透鏡對不同波長的色光有不同的折射率(色散現象)。對于波長較長的色光,透鏡的折射率較低。在成像上,色差表現為高光區與低光區交界上呈現出帶有顏色的“邊緣”,這是由于透鏡的焦距與折射率有關,從而光譜上的每一種顏色無法聚焦在光軸上的同一點。色差的檢測對于折射系統和折反混合系統具有重要意義, 一方面在光學鏡頭制造過程中通過色差的檢測可以判斷光學系統的制造精度, 作為鏡頭制造過程中的質量檢測與控制環節; 另一方面, 對于未知光學參數的光學鏡頭, 其色差測量結果可以作為評估該鏡頭的成像質量的重要依據, 從而輔助用戶篩選鏡頭。
現有的光學鏡頭的色差測量設備中,它們都要求樣品表面的顏色是比較均勻的,對于表面顏色不均勻的測量誤差會有偏差,同時在進行鏡頭的色差檢測過程中未對鏡頭的通光量調節,會產生因為漫反射在檢測倉內的光斑影響鏡頭上待測區域的折射率的問題。
發明內容
本發明的目的是為了解決現有技術中存在的缺點,而提出的一種光學鏡頭色差測量裝置。
為了實現上述目的,本發明采用了如下技術方案:
一種光學鏡頭色差測量裝置,包括機倉,所述機倉的一側外壁設置有顯示面板和控制面板,且機倉的另一側外壁設置有檢測通槽,檢測通槽內壁滑動連接有鏡頭固定倉,所述鏡頭固定倉的內壁設置有夾持機構,且鏡頭固定倉的一側內壁卡接有光柵透鏡,鏡頭固定倉的另一側內壁設置有變色鏡片,所述機倉的頂部外壁設置有通光機構,且機倉的內壁靠近通光機構設置有色差測量半球,所述色差測量半球的外壁設置有卡槽和光柵通道,且光柵透鏡卡接在光柵通道的一端內壁上,所述卡槽內壁設置有光澤陷阱,且光澤陷阱的另一端外壁設置有高清鏡頭,所述通光機構位于光柵通道和光澤陷阱之間,所述機倉靠近握把的一側內壁設置有光源,且光源和光柵通道、色差測量半球位于同一個軸線處。
優選的,所述機倉的頂部外壁熔接有握把,且握把的內壁粘接有防護膠墊。
優選的,所述色差測量半球的內壁靠近變色鏡片的一側設置有視覺探測器組件,且視覺探測器組件的信號端通過信號線連接有微處理器。
優選的,所述色差測量半球的兩側內壁均粘接有光傳感器,且光傳感器的信號端通過信號線和微處理器相連接,所述光源為標準光源和D光源的其中一個。
優選的,所述夾持機構之間卡接有待測鏡頭片,且待測鏡頭片和通光機構位于同一垂直軸線處。
優選的,所述機倉遠離握把的一端外壁設置有觀察鏡頭,且觀察鏡頭和變色鏡片位于同一垂直軸線處。
優選的,所述光源連接有開關,且開關通過導線和微處理器相連接。
本發明的有益效果為:
1.本光學鏡頭色差測量裝置通過抽屜式檢測倉固定待檢測鏡頭片,將鏡頭片置于色差測量半球端部,通過多元件之間的配合,通過光源進行光柵通道變化打在樣品端,配合上高清鏡頭對各個鏡頭待測位置殘影進行拍照對比疊合,便于后續和標準色板進行對比,檢測設備結構合理便攜,檢測過程簡單易上手;
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