[發明專利]一種中階梯光柵光譜儀的自動調試系統及方法有效
| 申請號: | 201910542604.1 | 申請日: | 2019-06-21 |
| 公開(公告)號: | CN110260973B | 公開(公告)日: | 2021-09-07 |
| 發明(設計)人: | 趙英飛;曹海霞;王衛東;羅劍秋;夏鐘海;周偉 | 申請(專利權)人: | 鋼研納克檢測技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01J3/28 | 分類號: | G01J3/28;G01J3/02 |
| 代理公司: | 北京中安信知識產權代理事務所(普通合伙) 11248 | 代理人: | 李彬;張小娟 |
| 地址: | 100081 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 階梯 光柵 光譜儀 自動 調試 系統 方法 | ||
本發明涉及一種中階梯光柵光譜儀的自動調試系統及方法,該系統包括自動調試平臺,自動調試平臺上設置有上位機、控制模塊、存儲模塊、譜圖分析模塊、調試模型、電機控制器和姿態調整電機組;探測器采集模塊將采集的譜圖傳遞給譜圖分析模塊;譜圖分析模塊通過特征光斑的相對位置信息來解析譜圖,判斷待調試模塊的工作姿態;調試模型根據預存的調試參數和接收到的待調試模塊的工作姿態的判斷結果,計算待調試模塊的調整方式及調整量,發送給上位機,上位機給控制模塊發送調試指令;控制模塊用于對電機控制器發出指令,電機控制器通過驅動器控制姿態調整電機組,從而實現待調試模塊工作狀態的改變。本發明人力成本低、可靠性高。
技術領域
本發明屬于光學儀器技術領域,特別是涉及一種中階梯光柵光譜儀的自動調試系統及方法。
背景技術
中階梯光柵光譜儀是一種對裝調工藝要求非常高的光學系統,其裝調工藝對調試者的調試經驗要求非常高。現有技術中至今尚未發現任何關于中階梯光柵光譜儀的自動裝調專利/專利申請,所有的裝調過程均需人手操作,根據經驗進行調試并驗證。因此,如果全部通過人力手動調試的話,所需的周期會比較長,需要2-3小時,而且對裝調經驗的要求非常高。若要大量生產,就需要耗費非常大的人力資源、運營成本會很高。
此外,因為中階梯光柵光譜儀的現有調試技術均需人力操作,其準確性、可靠性等指標均受制于操作人員的工藝水平。因此對操作人員的培訓及管理十分重要,同時,每一位操作人員均需一套調試平臺及生產空間,所以中階梯光柵光譜儀裝調技術的設置成本高,包括廠房設置費、平臺建設費等輔助設備。當要增加產量時,招聘人手、人員培訓、廠房建設、平臺建設等各種因素都會限制增長的速度。因此,本領域中對于可對中階梯光柵光譜儀實施自動調試的技術,有迫切的需求。
發明內容
針對當前中階梯光柵光譜儀在裝調過程中存在的問題,提供一種人力成本低、可靠性高的中階梯光柵光譜儀的自動調試系統及方法。
為了實現上述目的,本發明提供了如下技術方案:
一種中階梯光柵光譜儀的自動調試系統,用于調試中階梯光柵光譜儀2,所述中階梯光柵光譜儀2包括光源3、待調試模塊4和探測器采集模塊5,所述待調試模塊4包括準直鏡模塊401、中階梯光柵模塊402和聚焦鏡模塊403。
該系統包括自動調試平臺1,所述自動調試平臺1上設置有上位機6、控制模塊7、存儲模塊8、譜圖分析模塊9、調試模型10、電機控制器11和姿態調整電機組12。
所述姿態調整電機組12包括多個用于調整待調試模塊4的姿態調整電機。
所述探測器采集模塊5將采集的譜圖傳遞給譜圖分析模塊9。
所述譜圖分析模塊9通過對特征光斑的相對位置信息來解析譜圖,判斷待調試模塊4的工作姿態,并將譜圖解析結果和判斷結果分別傳遞給存儲模塊8和調試模型10。
所述調試模型10根據預存的調試參數和接收到的待調試模塊4的工作姿態的判斷結果,計算待調試模塊4的調整方式及調整量,然后將調整方式及調整量的信息發送給上位機6,上位機6給控制模塊7發送調試指令。
所述控制模塊7用于對電機控制器11發出指令,電機控制器11通過驅動器控制姿態調整電機組12的各姿態調整電機,從而實現待調試模塊4工作狀態的改變。
所述譜圖分析模塊9還用于判斷譜圖是否達到測試需求。
所述上位機6還用于將調整方式及調整量的信息存儲在存儲模塊8中。
所述姿態調整電機組12包括用于調整準直鏡模塊401工作姿態的準直鏡姿態調整電機、用于調整中階梯光柵模塊402工作姿態的中階梯光柵姿態調整電機和用于調整聚焦鏡模塊403工作姿態的聚焦鏡姿態調整電機。
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