[發明專利]一種縫紉制品走線質量的評估方法及裝置

在審

• 申請號: 201910542290.5
• 申請日: 2019-06-21
• 公開（公告）號: CN110264087A
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發明（設計）人: 劉永彬
• 申請（專利權）人: 劉永彬
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q50/04
• 代理公司: 合肥市浩智運專利代理事務所(普通合伙) 34124
• 代理人: 丁瑞瑞

1.一種縫紉制品走線質量的評估方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取制造人員制備的縫紉制品的走線圖；

獲取所述走線圖中包含的走線的幾何參數，其中，所述幾何參數包括：走線中的直線段的長度、相鄰兩直線段之間的夾角、走線中曲線的軌跡、曲線的曲率、平行線段之間的間距、走線的起點以及走線的終點中的一種或組合；

根據所述走線圖中的走線的幾何參數與對應的標準走線的幾何參數之間的區別，獲取每一種幾何參數對應的目標差值；

根據各個目標差值以及與目標差值對應的權重，計算縫紉制品走線質量的評估結果。

2.根據權利要求1所述的一種縫紉制品走線質量的評估方法，其特征在于，所述獲取制造人員制備的縫紉制品的走線圖，包括：

使用攝像機拍攝制造人員制備的縫紉制品，利用圖像識別算法獲取出制造人員制備的縫紉制品中的走線，并將包含走線的圖作為制造人員制備的縫紉制品的走線圖。

3.根據權利要求1所述的一種縫紉制品走線質量的評估方法，其特征在于，根據所述走線圖中的走線的幾何參數與對應的標準走線的幾何參數之間的區別，獲取每一種幾何參數對應的目標差值，包括：

根據所述走線圖中的走線的長度與標準走線的長度之間的比例關系，將走線圖中的走線縮放為與標準走線相同的尺寸；

獲取縮放后的走線圖中的各個幾何參數與標準走線中對應的幾何參數之間的差值；

針對每一個差值，根據所述差值以及對應于該差值的預設范圍，對所述差值進行歸一化；

將歸一化后的差值作為每一種幾何參數對應的目標差值。

4.根據權利要求3所述的一種縫紉制品走線質量的評估方法，其特征在于，所述針對每一個差值，根據所述差值以及對應于該差值的預設范圍，對所述差值進行歸一化，包括：

針對每一個差值，根據所述差值以及對應于該差值的預設范圍，利用公式，對所述差值進行歸一化，其中，

l_i為第i個歸一化后的目標差值；x_i為縮放后的走線圖中的第i個幾何參數與標準走線中對應的幾何參數之間的差值；x_imax為縮放后的走線圖中的第i個幾何參數與標準走線中對應的幾何參數之間的差值的最大值；x_imin為縮放后的走線圖中的第i個幾何參數與標準走線中對應的幾何參數之間的差值的最小值。

5.根據權利要求1所述的一種縫紉制品走線質量的評估方法，其特征在于，所述根據各個目標差值以及與目標差值對應的權重，計算縫紉制品走線質量的評估結果，包括：

根據各個目標差值以及與目標差值對應的權重，利用公式，計算縫紉制品走線質量的評估結果，其中，

s為縫紉制品走線質量的評估結果；∑為求和函數；m為目標差值的數量；i為目標差值的序號；l_i為第i個歸一化后的目標差值；w_i為第i個目標差值對應的權重。

6.一種縫紉制品走線質量的評估裝置，其特征在于，所述裝置包括：

獲取模塊，獲取制造人員制備的縫紉制品的走線圖；

獲取所述走線圖中包含的走線的幾何參數，其中，所述幾何參數包括：走線中的直線段的長度、相鄰兩直線段之間的夾角、走線中曲線的軌跡、曲線的曲率、平行線段之間的間距、走線的起點以及走線的終點中的一種或組合；

根據所述走線圖中的走線的幾何參數與對應的標準走線的幾何參數之間的區別，獲取每一種幾何參數對應的目標差值；

計算模塊，用于根據各個目標差值以及與目標差值對應的權重，計算縫紉制品走線質量的評估結果。

7.根據權利要求6所述的一種縫紉制品走線質量的評估裝置，其特征在于，所述獲取模塊，用于：

使用攝像機拍攝制造人員制備的縫紉制品，利用圖像識別算法獲取出制造人員制備的縫紉制品中的走線，并將包含走線的圖作為制造人員制備的縫紉制品的走線圖。