[發明專利]一種基于輕氣炮沖擊加載下樣品透射率的測量裝置

有效

• 申請號: 201910540322.8
• 申請日: 2019-06-21
• 公開（公告）號: CN110220775B
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 任月虹;陳建勇;吳浪;汪貽高;范茁寧;孫燕云;劉福生;張明建
• 申請（專利權）人: 西南交通大學
• 主分類號: G01N3/06
• 分類號: G01N3/06;G01N3/30;G01N21/59
• 代理公司: 成都華飛知識產權代理事務所(普通合伙) 51281
• 代理人: 杜群芳

1.一種基于輕氣炮沖擊加載下樣品透射率的測量裝置，其特征在于，包括輕氣炮、真空倉和信號收集裝置，所述真空倉內設置有固定靶，所述固定靶包括基板、探針固定機構、前窗口、后窗口、樣品室、半透鏡、激光器、第一光探針、第二光探針、以及兩個第一電探針、兩個第二電探針，所述輕氣炮用于向固定靶的基板左側發射飛片，所述基板為導電基板，所述探針固定機構設置在基板的右側，探針固定機構和基板之間設有間隙，所述第一電探針、第二電探針的左端分別穿過探針固定機構與間隙連接，且第一電探針與第一電源構成回路，第二電探針與第二電源、激光器構成回路，所述前窗口、樣品室、后窗口從左向右依次設置在探針固定機構內，所述探針固定機構的右端設置有光室，所述半透鏡設置在光室內，所述激光器發射的光線射向半透鏡，并產生反射光和透過光，所述反射光依次穿過后窗口、樣品室、前窗口，所述第一光探針用于收集反射光信號，所述第二光探針用于收集透過光信號，所述信號收集裝置分別與第一電源、第一光探針、第二光探針連接。

2.根據權利要求1所述的一種基于輕氣炮沖擊加載下樣品透射率的測量裝置，其特征在于，所述基板、探針固定機構分別為不透光材質。

3.根據權利要求2所述的一種基于輕氣炮沖擊加載下樣品透射率的測量裝置，其特征在于，所述基板、探針固定機構分別為鋁材圓柱形結構。

4.根據權利要求1所述的一種基于輕氣炮沖擊加載下樣品透射率的測量裝置，其特征在于，所述探針固定機構的右端具有反光層。

5.根據權利要求1所述的一種基于輕氣炮沖擊加載下樣品透射率的測量裝置，其特征在于，所述樣品室的側壁上分別設置有進口管和出口管，所述進口管和出口管分別穿過探針固定機構與樣品室連通。

6.根據權利要求1所述的一種基于輕氣炮沖擊加載下樣品透射率的測量裝置，其特征在于，所述第一電探針、第二電探針的左端端點位于同一水平面。

7.根據權利要求6所述的一種基于輕氣炮沖擊加載下樣品透射率的測量裝置，其特征在于，所述第一電探針以探針固定機構中軸線對稱設置，所述第二電探針以探針固定機構中軸線對稱設置。

8.根據權利要求6所述的一種基于輕氣炮沖擊加載下樣品透射率的測量裝置，其特征在于，所述第一電探針分別設置在探針固定機構的0°和180°位置上，所述第二電探針分別設置在探針固定機構的90°和270°位置上。

9.根據權利要求1所述的一種基于輕氣炮沖擊加載下樣品透射率的測量裝置，其特征在于，所述第一光探針、第二光探針分別通過瞬態高溫計與信號收集裝置連接。

10.根據權利要求1所述的一種基于輕氣炮沖擊加載下樣品透射率的測量裝置，其特征在于，所述信號收集裝置包括示波器。