[發明專利]一種探測器調焦方法及探測器

有效

• 申請號: 201910533546.6
• 申請日: 2019-06-19
• 公開（公告）號: CN110390793B
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發明（設計）人: 宋佳城;萬躍敏;靳東風;楊正通;華志軍
• 申請（專利權）人: 深圳市泰和安科技有限公司
• 主分類號: G08B17/107
• 分類號: G08B17/107;G01N21/01;G02B7/28
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 顏思晨

1.一種探測器調節方法，其特征在于，包括：

檢測探測器在預設坐標系中的探頭位置、所述探測器的反射器與所述探頭之間的反射距離；

根據所述探頭位置和所述反射距離計算調整所述探頭時的調整距離；所述調整距離包括在所述坐標系中X軸和Y軸方向上的距離；

根據所述調整距離和所述探頭位置調整所述探頭的位置，并根據二分法的一步走法對調整之后的探頭位置進行微調；

檢測在微調過程中所述反射器在各個坐標處的反射光線的紅外強度值，根據所述紅外強度值確定最終調節結果；

所述根據所述調整距離和所述探頭位置調整所述探頭的位置，并根據二分法的一步走法對調整之后的探頭位置進行微調，包括：

根據所述調整距離和所述探頭位置的第一坐標，計算在將所述探頭移動所述調整距離時對應的第二坐標，將所述探頭移動至所述第二坐標對應的位置；所述第二坐標為所述第一坐標加上所述調整距離所得的坐標；

根據所述第二坐標和所述調整距離，計算所述探頭在微調時對應的第三坐標和第四坐標，分別移動所述探頭至所述第三坐標和所述第四坐標對應的位置；所述第三坐標為所述第二坐標的橫坐標或縱坐標加上所述調整距離所得的坐標，所述第四坐標為所述第二坐標的橫坐標或縱坐標減去所述調整距離所得的坐標；

所述檢測在微調過程中所述反射器在各個坐標處的反射光線的紅外強度值，根據所述紅外強度值確定最終調節結果，包括：

檢測所述反射器在所述第二坐標、所述第三坐標以及所述第四坐標處的反射光線的紅外強度值；

從所述第二坐標、所述第三坐標以及所述第四坐標對應的紅外強度值中識別出最大強度和次大強度，確定所述最大強度對應的最大坐標、所述次大強度對應的次大坐標；

將所述最大坐標與所述次大坐標的中點坐標識別為第五坐標；

檢測所述探頭在所述第五坐標處的測量精度；

若所述精度大于或者等于預設的精度閾值，則所述第五坐標為所述最終調節結果；

所述根據所述探頭位置和所述反射距離計算調整所述探頭時的調整距離，包括：

根據所述第一坐標、所述反射距離、預設的所述探測器的電機轉動時間和電機轉速，通過如下公式計算調整所述探頭時的調整距離：

其中，S用于表示所述調整距離；N用于表示所述探測器的電機轉速，L用于表示所述反射距離；t用于表示所述探測器的電機轉動時間。

2.如權利要求1所述的探測器調節方法，其特征在于，所述檢測探測器在預設坐標系中的探頭位置、所述探測器的反射器與所述探頭之間的反射距離之前，還包括：

將所述探頭的位置粗調至預設的調節范圍內。