[發明專利]電子校準件以及校準系統、方法、裝置和存儲介質

有效

• 申請號: 201910532115.8
• 申請日: 2019-06-19
• 公開（公告）號: CN110286347B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 賴展軍;馮穗力;卜斌龍
• 申請（專利權）人: 華南理工大學;京信通信技術（廣州）有限公司
• 主分類號: G01R35/02
• 分類號: G01R35/02;G08C19/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 周玲

1.一種電子校準件，其特征在于，包括：

第一測試端口，用于連接矢量網絡分析儀；

第二測試端口，用于連接所述矢量網絡分析儀；

至少3個傳輸標準電路；所述傳輸標準電路的第一端連接所述第一測試端口，第二端連接所述第二測試端口；各所述傳輸標準電路為符合對應的傳輸標準的電路，所述傳輸標準包括線纜結構參數、電氣參數和S參數中的至少一種；各所述傳輸標準電路對應的傳輸標準不同；

射頻開關模塊，連接在所述第一測試端口和所述傳輸標準電路之間，用于控制所述第一測試端口與其中一個所述傳輸標準電路形成通路；其中，所述射頻開關模塊包括連接所述第一測試端口的射頻開關動端，和至少3個射頻開關固定端；各所述射頻開關固定端與各所述傳輸標準電路的第一端一一對應連接；

所述電子校準件中不使用反射標準。

2.根據權利要求1所述的電子校準件，其特征在于，還包括：

隔離開關模塊，連接在所述第二測試端口和所述傳輸標準電路之間，用于控制所述第二測試端口與其中一個所述傳輸標準電路形成通路；其中，所述隔離開關模塊包括連接所述第二測試端口的隔離開關動端，和至少3個隔離開關固定端；各所述隔離開關固定端與各所述傳輸標準電路的第二端一一對應連接。

3.根據權利要求2所述的電子校準件，其特征在于，還包括：

通信接口，用于連接計算機設備；

處理模塊，分別連接所述射頻開關模塊、所述隔離開關模塊和所述通信接口。

4.根據權利要求1至3任一項所述的電子校準件，其特征在于，

所述第一測試端口用于通過測試電纜連接所述矢量網絡分析儀的第一端口；

所述第二測試端口用于通過測試電纜連接所述矢量網絡分析儀的第二端口。

5.一種校準系統，其特征在于，包括：如權利要求3所述的電子校準件，和計算機設備；

所述第一測試端口用于通過測試電纜連接所述矢量網絡分析儀的第一端口；

所述第二測試端口用于通過測試電纜連接所述矢量網絡分析儀的第二端口；

所述計算機設備通過第一控制線連接所述通信接口，通過第二控制線連接所述矢量網絡分析儀的控制端口；

所述計算機設備用于向所述電子校準件發送控制指令，以使所述電子校準件控制其中一個所述傳輸標準電路與所述第一測試端口形成通路、且與所述第二測試端口形成通路；所述計算機設備還用于獲取所述矢量網絡分析儀的測量數據。

6.根據權利要求5所述的校準系統，其特征在于，所述計算機設備還用于向所述矢量網絡分析儀發送設置指令；所述設置指令用于指示所述矢量網絡分析儀設置測量參數和測量曲線。

7.根據權利要求5或6所述的校準系統，其特征在于，還包括：

存儲設備，用于存儲各所述傳輸標準的基準數據；所述存儲設備連接所述計算機設備。

8.一種基于如權利要求5至7任一項所述校準系統的方法，其特征在于，包括：

所述計算機設備向所述電子校準件發送控制指令；所述控制指令用于指示所述電子校準件控制其中一個所述傳輸標準電路與所述第一測試端口形成通路、且與所述第二測試端口形成通路；

所述計算機設備獲取所述矢量網絡分析儀的測量數據、以及各所述傳輸標準的基準數據，并處理所述測量數據和所述基準數據，得到所述矢量網絡分析儀的誤差值。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述計算機設備獲取所述矢量網絡分析儀的測量數據的步驟之前，還包括：

所述計算機設備向所述矢量網絡分析儀發送設置指令；所述設置指令用于指示所述矢量網絡分析儀設置測量參數和測量曲線。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，所述測量參數包括測量頻段、掃描點數和中頻帶寬中的至少一種。