[發明專利]大規模陣列天線測量系統、方法、裝置和存儲介質有效
| 申請號: | 201910531708.2 | 申請日: | 2019-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN110261687B | 公開(公告)日: | 2021-01-15 |
| 發明(設計)人: | 賴展軍;卜斌龍;馮穗力 | 申請(專利權)人: | 華南理工大學;京信通信技術(廣州)有限公司 |
| 主分類號: | G01R29/10 | 分類號: | G01R29/10 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 周玲 |
| 地址: | 510640 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 大規模 陣列 天線 測量 系統 方法 裝置 存儲 介質 | ||
1.一種大規模陣列天線測量系統,其特征在于,包括:
射頻開關模塊,用于與待測試大規模陣列天線配合形成組合模塊;其中,所述射頻開關模塊包括接入端口和多個切換端口,各所述切換端口用于與所述待測試大規模陣列天線的各射頻端口一一對應連接;所述射頻開關模塊用于控制所述接入端口與其中一個所述切換端口之間形成通路;所述接入端口的數量為一個;
矢量網絡分析儀,用于測量所述組合模塊的S參數;所述矢量網絡分析儀包含兩個測試端口,其中一個所述測試端口連接所述接入端口,另一個所述測試端口用于連接所述待測試大規模陣列天線的校準端口;
處理設備,連接所述矢量網絡分析儀,用于獲取所述射頻開關模塊的S參數和所述組合模塊的S參數,并處理所述組合模塊的S參數和所述射頻開關模塊的S參數,得到所述待測試大規模陣列天線的S參數。
2.根據權利要求1所述的大規模陣列天線測量系統,其特征在于,所述射頻開關模塊還包括接入切換開關,和連接在所述接入切換開關和所述切換端口之間的中間切換單元;其中,所述中間切換單元包括多個中間切換開關;
所述接入切換開關的動端連接所述接入端口,所述接入切換開關的各固定端與各中間切換開關的動端一一對應連接;所述中間切換開關的各固定端連接對應的所述切換端口。
3.根據權利要求2所述的大規模陣列天線測量系統,其特征在于,所述射頻開關模塊還包括連接在所述中間切換開關的固定端和對應的所述切換端口之間的狀態切換單元;所述狀態切換單元包括狀態切換開關和接地電阻;
所述狀態切換開關的動端連接所述切換端口,所述狀態切換開關的一個固定端連接所述中間切換開關的固定端,所述狀態切換開關的另一個固定端通過所述接地電阻接地。
4.根據權利要求1至3任一項所述的大規模陣列天線測量系統,其特征在于,所述處理設備包括:
第一控制接口,連接所述射頻開關模塊的控制板;所述第一控制接口用于控制所述接入端口與其中一個所述切換端口之間形成通路;
第二控制接口,連接所述矢量網絡分析儀的控制端口;所述第二控制接口用于控制所述矢量網絡分析儀測量所述組合模塊的S參數。
5.一種大規模陣列天線測量方法,其特征在于,所述方法應用于大規模陣列天線測量系統;所述大規模陣列天線測量系統包括射頻開關模塊和矢量網絡分析儀;所述射頻開關模塊用于與待測試大規模陣列天線配合形成組合模塊,其中,所述射頻開關模塊包括接入端口和多個切換端口,各所述切換端口用于與所述待測試大規模陣列天線的各射頻端口一一對應連接;所述矢量網絡分析儀包含兩個測試端口,其中一個所述測試端口連接所述接入端口,另一個所述測試端口用于連接所述待測試大規模陣列天線的校準端口;所述接入端口的數量為一個;
所述方法包括:
通過所述射頻開關模塊控制所述接入端口與其中一個所述切換端口之間形成通路,并獲取所述矢量網絡分析儀測量得到的所述組合模塊的S參數;
處理所述組合模塊的S參數和獲取到的所述射頻開關模塊的S參數,得到所述待測試大規模陣列天線的S參數。
6.根據權利要求5所述的大規模陣列天線測量方法,其特征在于,通過所述射頻開關模塊控制所述接入端口與其中一個所述切換端口之間形成通路,并獲取所述矢量網絡分析儀測量得到的所述組合模塊的S參數的步驟包括:
發送開關切換指令給所述射頻開關模塊;所述開關切換指令用于指示所述射頻開關模塊控制所述接入端口與其中一個所述切換端口之間形成通路;
發送測試指令給所述矢量網絡分析儀;所述測試指令用于指示所述矢量網絡分析儀測量所述組合模塊的S參數。
7.根據權利要求5所述的大規模陣列天線測量方法,其特征在于,所述射頻開關模塊的S參數為通過所述矢量網絡分析儀測量得到;
所述組合模塊的S參數包括所述接入端口的反射信號,和所述校準端口的反射信號。
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