[發明專利]雪崩光電二極管的偏壓控方法和裝置、存儲介質

有效

• 申請號: 201910528075.X
• 申請日: 2019-06-18
• 公開（公告）號: CN110244812B
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發明（設計）人: 徐剛;劉子釗;朱立崗;覃育富;孫忠玉;王雪云;陳雷;張朋良;肖少劍
• 申請（專利權）人: 珠海優特電力科技股份有限公司
• 主分類號: G05F1/567
• 分類號: G05F1/567
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 周婷婷

本發明公開了一種雪崩光電二極管的偏壓控方法和裝置、存儲介質。該方法包括：獲取位于光纖傳感系統中的雪崩光電二極管APD的參數信息及與APD連接的目標段光纖的參數信息；在檢測到APD的第一環境溫度從第一溫度值變化為第二溫度值的情況下，根據APD的屬性信息及第二溫度值，確定第一偏壓值；根據目標段光纖的第二環境溫度及光信號強度，對第一偏壓值進行調整，得到第二偏壓值；按照第二偏壓值對與APD關聯的偏壓控制電路執行偏壓控制操作。本發明解決了對APD的偏壓控制操作復雜度較高的技術問題。

技術領域

本發明涉及光纖傳感領域，具體而言，涉及一種雪崩光電二極管的偏壓控方法和裝置、存儲介質。

背景技術

雪崩光電二級管(Avalanche Photo Diode，簡稱APD)具有很高的靈敏度和內部增益，可大大提高探測器系統的探測靈敏度和信噪比。但是APD的增益和擊穿電壓常常會隨溫度變化，因而在應用時往往需對APD偏壓進行溫度補償，以保證APD的增益恒定、APD不被高壓反向擊穿。

目前，對APD偏壓進行溫度補償的方法有以下幾種：1、采取TEC恒溫方法。但功耗大，設備運行溫度高，影響系統穩定性及設備使用壽命。2、電路補償方法。但APD增益和擊穿電壓具有離散差異性，生產時需對每個分別APD進行測試、修改電路參數，使得生產流程更加繁瑣，造成批量生產效率低的問題。此外，APD的偏壓隨溫度變化是非線性的，導致對APD的偏壓控制操作復雜度較高的問題。

發明內容

本發明實施例提供了一種雪崩光電二極管的偏壓控制方法和裝置、存儲介質，以至少解決相關技術中由于APD的偏壓隨溫度變化是非線性的，導致對APD的偏壓控制操作復雜度較高的問題。

根據本發明的一個實施例，提供了一種雪崩光電二極管的偏壓控制方法，包括：獲取位于光纖傳感系統中的雪崩光電二極管APD的參數信息及與上述APD連接的目標段光纖的參數信息，其中，上述APD的參數信息包括上述APD的屬性信息及上述APD當前所在環境的第一環境溫度，上述目標段光纖的參數信息包括上述目標段光纖當前所在環境的第二環境溫度以及上述目標段光纖在上述第二環境溫度下的光信號強度；在檢測到上述APD的上述第一環境溫度從第一溫度值變化為第二溫度值的情況下，根據上述APD的屬性信息及上述第二溫度值，確定第一偏壓值；根據上述目標段光纖的上述第二環境溫度及上述光信號強度，對上述第一偏壓值進行調整，得到第二偏壓值；按照上述第二偏壓值對與上述APD關聯的偏壓控制電路執行偏壓控制操作。

可選地，上述根據上述APD的屬性信息及上述第二溫度值，確定第一偏壓值包括：從上述APD的屬性信息中讀取上述APD的分段點溫度、分段點基礎偏壓、分段溫度系數，其中，上述分段點溫度為在與上述APD相匹配的偏壓控制模型中溫度系數發生變化的溫度，上述分段點基礎偏壓為在上述偏壓控制模型中與上述分段點溫度對應的偏壓，上述分段溫度系數為上述偏壓控制模型中的曲線斜率，上述偏壓控制模型用于指示上述APD的擊穿電壓與環境溫度之間的關系曲線；在上述第二溫度值大于上述分段點溫度的情況下，獲取上述第二溫度值與上述分段點溫度之間的第一差值；根據上述第一差值、上述分段點基礎偏壓及上述分段溫度系數中的第一系數確定上述第一偏壓值，其中，上述第一系數與上述分段點溫度相匹配；在上述第二溫度值小于上述分段點溫度的情況下，獲取上述第二溫度值與上述分段點溫度之間的第二差值；根據上述第二差值、上述分段點基礎偏壓及上述分段溫度系數中的第二系數確定上述第一偏壓值，其中，上述第二系數與上述分段點溫度相匹配。

可選地，在上述根據上述APD的屬性信息及上述第二溫度值，確定第一偏壓值之前，還包括：檢測上述APD的上述第一環境溫度；在確定上述APD在當前檢測周期的上述第一環境溫度為上述第二溫度值，上述APD在上述當前檢測周期之前的上一個檢測周期的上述第一環境溫度為上述第一溫度值的情況下，確定上述APD的上述第一環境溫度發生變化。