[發明專利]場強成像系統及其成像方法

在審

• 申請號: 201910520102.9
• 申請日: 2019-06-17
• 公開（公告）號: CN110333396A
• 公開（公告）日: 2019-10-15
• 發明（設計）人: 康延光
• 申請（專利權）人: 廣州視源電子科技股份有限公司;廣州睿耳聲學科技有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 陳金普

本發明涉及一種場強成像系統及其成像方法，通過天線組件中的各測量天線，分別接收被測設備的電磁波能量，并通過第一場強測試組件將各電磁波能量轉換為電磁場信號。同時，成像控制裝置獲取攝像組件拍攝的被測設備的顯示畫面，并根據各電磁場信號，獲得標注有標注信息的顯示畫面。基于此，相關測試人員可通過觀察標注有標注信息的顯示畫面，直觀地尋找出被測設備上電磁場信號出現異常的位置，以便于及時找出EMC認證失敗的問題根源，提高產品在EMC認證失敗后的整改效率。

技術領域

本發明涉及計算機攝像學技術領域，特別是涉及一種場強成像系統及其成像方法。

背景技術

在電子行業中，EMC(Electro Magnetic Compatibility電磁兼容性)認證是檢驗電子產品是否合格的一項重要標準。通過EMC認證的設備應能在一定的電磁環境下正常工作，即該設備應具備一定的電磁抗擾度；其次，該設備自身產生的電磁騷擾不能對其他電子產品產生過大的影響，即電磁騷擾。

在EMC認證中，往往會出現電子產品認證失敗的情況。一旦電子產品無法通過EMC認證，就需要對該產品進行整改，找出認證失敗的問題根源。一般地，會通過專業工具查找電子產品上出現EMC認證失敗的問題根源，以縮短該產品的量產時間。傳統的專業工具一般為頻譜分析儀，通過頻譜分析儀逐點尋找電子產品上導致EMC認證失敗的位置或結構。然而，通過頻譜分析儀逐點尋找的整改方式效率低，難以及時找出EMC認證失敗的問題根源，極大地提高了產品整改的時間。

發明內容

基于此，有必要針對逐點尋找的整改方式效率低，難以及時找出EMC認證失敗的問題根源，極大地提高了產品整改的時間的缺陷問題，提供一種場強成像系統及其成像方法。

一種場強成像系統，包括天線組件、攝像組件、第一場強測量組件以及成像控制裝置；

天線組件包括多個測量天線，各測量天線用于分別接收被測設備的電磁波能量；

攝像組件用于拍攝被測設備的顯示畫面；

第一場強測量組件用于根據電磁波能量獲得電磁場信號；其中，各電磁場信號與各測量天線一一對應；

成像控制裝置用于根據顯示畫面和各電磁場信號，獲得標注有標注信息的顯示畫面；其中，標注信息與各電磁場信號一一對應。

在其中一個實施例中，成像控制裝置包括智能終端和成像控制器；

成像控制器分別連接第一場強測量組件和攝像組件，并用于驅動攝像組件拍攝顯示畫面；

智能終端用于通過成像控制器獲取顯示畫面和各電磁場信號，并用于根據顯示畫面和各電磁場信號，獲得標注有標注信息的顯示畫面。

在其中一個實施例中，還包括切換控制器；

切換控制器分別連接各測量天線；

成像控制器還用于驅動切換控制器，以使切換控制器分別控制各測量天線分別接收被測設備的電磁波能量。

在其中一個實施例中，還包括數據切換開關；成像控制裝置還包括第二場強測量組件；

數據切換開關用于將各測量天線接收的電磁波能量傳輸至第一場強測量組件或第二場強測量組件；

第二場強測量組件用于根據電磁波能量獲得電磁場信號，并將電磁場信號通過成像控制器傳輸至智能終端。

在其中一個實施例中，第一場強測量組件和第二場強測量組件均包括頻譜分析儀。

在其中一個實施例中，還包括濾波器；

成像控制器用于通過濾波器驅動切換控制器，還用于通過濾波器獲取顯示畫面。

在其中一個實施例中，各測量天線呈陣列式排列。