[發明專利]基于折射率匹配的背光角度控制方法

在審

• 申請號: 201910519715.0
• 申請日: 2019-06-17
• 公開（公告）號: CN110262128A
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發明（設計）人: 王緒豐;樊衛華;高慧芳;洪乙又;吳金華;曹允;吳添德;孫磊;李忠良
• 申請（專利權）人: 南京國兆光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13357
• 分類號: G02F1/13357
• 代理公司: 南京天華專利代理有限責任公司 32218
• 代理人: 瞿網蘭;徐冬濤

1.一種基于折射率匹配的背光角度控制方法，其特征是在光學膜表面設計一微結構，使微結構的折射率與光學膜基材折射率匹配，同時在出光微結構間隙內填充一層滿足所需折射率的介質層，調整介質層的形狀，通過上述組合中參數的調整，使經過此光學膜出射的光線經過所述的介質層后再進入空氣介質中，從而控制背光角度按照多位觀察者需要的角度出射。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征是光學膜表面微結構形狀為非對稱或者對稱。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征是光學膜表面微結構形狀為特殊曲面、矩形、梯形或者其他形狀。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征是所述的介質層的厚度不低于微結構的垂直高度。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征是所述的控制角度光學膜基材折射率范圍在1.62至1.75之間，微結構折射率范圍在1.55至1.62之間，介質層的折射率介于1.2-1.4之間。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征是所述的微結構的尺寸：20μm至150μm。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征是所述的微結構為等節距或非等距結構。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征是所述的介質層的透光率大于98%。

9.根據權利要求1所述的方法，其特征是所述的介質層表面形狀可以為曲面或者其他形狀。

10.根據權利要求1所述的方法，其特征是背光方式為側背光或直下式背光。