[發明專利]一種TIADC系統直流偏置和增益誤差校準方法及裝置

在審

• 申請號: 201910516384.5
• 申請日: 2019-06-14
• 公開（公告）號: CN112087232A
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發明（設計）人: 楊浩
• 申請（專利權）人: 北京新岸線移動多媒體技術有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種TIADC系統直流偏置和增益誤差校準方法，其特征在于，包括：

獲取第一直流校準信號下每個通道至少兩個周期采樣值，記為所屬通道的第一采樣值，計算第一采樣值平均值；

獲取第二直流校準信號下每個通道至少兩個周期采樣值，記為所述通道的第二采樣值，計算第二采樣值平均值；

根據所述第一采樣值平均值和第二采樣值平均值，對輸入為工作信號下的采樣數據進行直流偏置和增益誤差校準。

2.如權利要求1所述的誤差校準方法，其特征在于，

將所述第一采樣值平均值、所述第二采樣值平均值，以及工作信號的采樣數據輸入預設的校準模型，得到所述工作信號的校準數據。

3.根據權利要求2所述的校準方法，其特征在于，所述預設的校準模型如下所示：

其中，V1(i)為輸入所述第一直流校準信號時，第i個通道的第一采樣值平均值，V2(i)為輸入所述第二直流校準信號時，第i個通道的第二采樣值平均值，Vo(i)為輸入所述工作信號時，第i個通道的采樣數據，Vc(i)為第i個通道的校準數據，Vref為TIADC的使用參考電壓，P和Q為1～2n-1之間的整數，N為3～2n之間的整數，n為所述采樣模塊中模數轉換器的位數，且PQN。

4.根據權利要求3所述的校準方法，其特征在于，

所述第一直流校準信號的電壓為所述使用參考電壓的P/N；

所述第二直流校準信號的電壓為所述使用參考電壓的Q/N。

5.一種TIADC系統直流偏置和增益誤差校準裝置，其特征在于，包括：

內部校準信號源，用于對TIADC系統進行直流偏置和增益誤差校準；

所述內部校準信號源包括：第一直流校準信號和第二直流校準信號；

采樣模塊，用于獲取系統輸入為工作信號、第一直流校準信號和第二直流校準信號，每個通道至少兩個周期采樣值；

校準模塊，包括計算單元，用于基于第一直流校準信號的至少兩個周期采樣值計算得到第一采樣值平均值；基于第二直流校準信號的至少兩個周期采樣值計算得到第二采樣值平均值；

所述校準模塊，還包括存儲單元，用于存儲所述第一采樣值平均值、第二采樣值平均值，和所述工作信號的采樣數據；

所述校準模塊，還包括校準單元，用于基于預設的校準模型和所述存儲單元中存儲的數據校準對所述工作信號進行校準。

6.根據權利要求5所述的誤差校準裝置，其特征在于，所述裝置，還包括：

控制模塊，用于控制所述第一直流校準信號、所述第二直流校準信號以及所述工作信號，時間誤差校準模塊之間的切換。