[發明專利]涉及自測試電壓調節電路的設備和方法

在審

• 申請號: 201910514657.2
• 申請日: 2019-06-13
• 公開（公告）號: CN110609157A
• 公開（公告）日: 2019-12-24
• 發明（設計）人: 簡-彼得·斯考特
• 申請（專利權）人: 恩智浦有限公司
• 主分類號: G01R1/28
• 分類號: G01R1/28
• 代理公司: 11021 中科專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 倪斌

一種設備實施例包括：電壓調節器電路，其提供調節電壓供應信號；邏輯狀態電路系統；測試控制電路系統；以及供應信號監測電路。邏輯狀態電路系統包括邏輯模塊，邏輯模塊在應用控制自測試模式之間被重新配置，在應用控制自測試模式下，數據被移位通過邏輯模塊并同時由調節電壓供應信號供電。測試控制電路系統通過致使數據的預定集移位通過邏輯模塊來操作控制自測試模式，并通過對電壓調節器電路加壓而致使邏輯狀態電路系統對電壓調節器電路加載。供應信號監測電路監測調節電壓供應信號的質量參數并提供調節電壓供應信號的特性的指示，特性影響電壓調節器電路與有缺陷的電路系統相關聯的可能性。

技術領域

各個實施例的方面涉及使用變化的負載條件來自測試電壓調節電路。

背景技術

線性電壓調節器電路用于維持穩定的電壓。舉例來說，調節器輸出傳遞裝置的電阻根據負載電流而變化，從而產生恒定的電壓輸出。對于各個實施方案，標準可能要求電壓調節電路的參數在各種限度內和/或在所述電路的壽命期間保持如此。

對于多種應用，這些和其它事項已對自測試電壓調節電路實施方案提出了挑戰。

發明內容

根據本發明的第一方面，提供一種設備，包括：

電壓調節器電路，其被配置和布置成提供調節電壓供應信號作為電壓電源；

邏輯狀態電路系統，其包括邏輯模塊，所述邏輯模塊被配置和布置成在應用模式與控制自測試模式之間被重新配置，在所述應用模式和所述控制自測試模式下，數據響應于時鐘信號而被移位通過所述邏輯模塊，同時由所述調節電壓供應信號供電；

測試控制電路系統，其被配置和布置成通過使用掃描模式致使所述數據的預定集移位通過所述邏輯模塊來操作所述控制自測試模式，所述掃描模式通過對所述電壓調節器電路加壓而致使所述邏輯狀態電路系統對所述電壓調節器電路加載，其中所述數據的所述預定集致使所述邏輯狀態電路系統的所述邏輯模塊中的每個邏輯模塊針對所述控制自測試模式被練習；以及

供應信號監測電路，其被配置和布置成監測所述調節電壓供應信號的至少一個質量參數并作為響應而提供所述調節電壓供應信號的特性的指示，所述特性影響所述電壓調節器電路的持續操作與有缺陷的電路系統相關聯的可能性。

在一個或多個實施例中，所述測試控制電路系統和所述供應信號監測電路被合作地配置和布置成在所述控制自測試模式期間使對所述電壓調節器電路的壓力最大化，同時使用所述供應信號監測電路來測試所述電壓調節器電路。

在一個或多個實施例中，所述邏輯模塊包括可配置用于在所述控制自測試模式下作為掃描鏈而操作的多路復用器和觸發器，且其中所述測試控制電路系統被進一步配置和布置成通過使所述數據以包括反饋的循環方式移位而致使所述邏輯狀態電路系統對所述電壓調節器電路加載，其中所述數據被移位通過和離開所述掃描鏈并回到所述掃描鏈的輸入中，使得在所述控制自測試模式期間正被移位的所述數據開始時，所述數據在所述邏輯狀態電路系統中被還原。

在一個或多個實施例中，所述邏輯模塊是可配置用于在所述控制自測試模式下操作的掃描鏈，且其中所述測試控制電路系統被進一步配置和布置成通過使所述數據以包括反饋的循環方式移位而致使所述邏輯狀態電路系統極端地對所述電壓調節器電路加載，以使得到n個移位時鐘循環時通過所述邏輯狀態電路系統進行數目n次數據移位，所述邏輯狀態電路系統的先前內容被還原。

在一個或多個實施例中，所述測試控制電路系統被進一步配置和布置成通過致使預定義數據樣式移位通過所述邏輯狀態電路系統而致使所述邏輯狀態電路系統對所述電壓調節器電路加載，且所述預定義數據樣式致使所述邏輯狀態電路系統極端地對所述電壓調節器電路加載。

在一個或多個實施例中，所述電壓調節器電路包括低壓差電壓調節器(LDO)。

在一個或多個實施例中，所述測試控制電路系統被進一步配置和布置成提供所述時鐘信號。