[發明專利]一種高反光材料表面檢測方法及系統

在審

• 申請號: 201910510529.0
• 申請日: 2019-06-13
• 公開（公告）號: CN110412035A
• 公開（公告）日: 2019-11-05
• 發明（設計）人: 王永力;王星澤
• 申請（專利權）人: 合刃科技（武漢）有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G06T7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種高反光材料表面檢測方法及系統，逐一采用不同照射角度的偏振光源對待測材料表面進行照射，所述偏振光源具有不同的偏振方向；采用檢偏器對每個偏振光源的反射光進行檢偏，并拍攝相應的偏振光源下所述待測材料表面的第一圖片；將由所述第一圖片構成的圖片序列進行圖像融合處理得到第二圖片；根據所述第二圖片分析待測材料的表面缺陷。本發明的技術方案能夠更全面地檢測高反光材料表面缺陷，減少漏檢發生。

技術領域

本發明涉及工業檢測領域，特別涉及一種高反光材料表面檢測方法及系統。

背景技術

在工業檢測領域，高反光材料(例如玻璃、鋁板和不銹鋼板等)表面的劃痕、灰塵、油污、裂痕等缺陷的檢測一直是一個難點。高反光材料的表面反射系數高，在利用視覺系統進行缺陷檢測時，高反光材料強烈的反射光線時常導致檢測相機拍攝到的圖像過飽和，對缺陷檢測產生較大的干擾。

鑒于上述情況，針對高反光材料表面檢測，通常采用一種能夠抑制表面高反光的基于正交偏振的視覺檢測系統，該系統采用偏振光源對高反光物體表面進行照明，并在相機拍攝光路上設置與偏振光源偏振方向垂直的檢偏器，從而抑制高反光材料表面的強烈反光。但是，由于材料表面缺陷的形狀、大小和類型等存在很大差異，可能會出現缺陷處反射光無法有效進入相機或者檢測相機拍攝到的圖像中缺陷處對比度不明顯等情況，極易導致視覺檢測系統發生漏檢。

發明內容

本發明提供了一種高反光材料表面檢測方法及系統，能夠更全面地檢測高反光材料表面缺陷，降低漏檢發生概率。

第一方面，本發明提供一種高反光材料表面檢測方法，所述方法包括：

逐一采用不同照射角度的偏振光源對待測材料表面進行照射，所述偏振光源具有不同的偏振方向；

采用檢偏器對每個偏振光源的反射光進行檢偏，并拍攝相應的偏振光源下所述待測材料表面的第一圖片；

將由所述第一圖片構成的圖片序列進行圖像融合處理得到第二圖片；

根據所述第二圖片分析待測材料的表面缺陷。

作為一種可選的方案，所述將由所述第一圖片構成的圖片序列進行圖像融合處理得到第二圖片，包括：

由所述第一圖片構成的圖片序列G1、G2、G3……Gn圖像序列進行圖像融合處理得到所述第二圖片F，所述第一圖片和第二圖片大小均為m×n，圖像融合方法表示為：

F(m,n)＝max{G1(m,n),G2(m,n),G3(m,n),…Gn(m,n)}；

其中：m、n分別為圖像中像素的行號和列號，在融合處理時，比較圖像序列G1、G2、G3……Gn中對應位置(m，n)處像素灰度值的大小，以其中灰度值最大的像素作為所述第二圖片F在位置(m，n)處的像素。

作為一種可選的方案，所述根據所述第二圖片分析待測材料表面缺陷，包括：

將所述第二圖片輸入預設的神經網絡模型，所述神經網絡模型輸出檢測結果。

第二方面，本發明提供一種高反光材料表面檢測系統，包括光源組、用于放置待測材料的置物臺、檢偏器、相機以及上位機；

所述光源組具有多個偏振方向不同的偏振光源，多個所述偏振光源分別以不同的照射角度對所述置物臺上的待測材料表面進行照射產生反射光；

所述檢偏器包括多個偏振片，其根據所述偏振光源的偏振方向切換偏振片；

所述相機用于拍攝待測材料，獲取第一圖片；

所述上位機用于根據所述第一圖片構成的圖片序列進行圖像融合得到第二圖片，并根據所述第二圖片分析待測材料的表面缺陷。