[發明專利]矩形多光源打光裝置及其應用的缺陷檢測方法有效
| 申請號: | 201910507312.4 | 申請日: | 2019-06-12 |
| 公開(公告)號: | CN110231342B | 公開(公告)日: | 2022-05-27 |
| 發明(設計)人: | 金閎奇;陳新度;吳磊 | 申請(專利權)人: | 廣東工業大學 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/01;H04N5/265 |
| 代理公司: | 廣州專理知識產權代理事務所(普通合伙) 44493 | 代理人: | 譚昉 |
| 地址: | 510006 廣東省廣州*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 矩形 光源 打光 裝置 及其 應用 缺陷 檢測 方法 | ||
本發明公開了一種矩形多光源打光裝置及其應用的缺陷檢測方法,所述打光裝置包括:調節支架,包括z向支架以及可沿z向支架豎直運動的活動框架;打光支架,包括“井”字形框架,所述“井”字形框架于周向延伸形成四對懸臂,兩兩相對的懸臂內側用于架設光源,兩兩相對的懸臂外側用于設置角度調節裝置;所述“井”字形框架于底部還設有拍攝組件;呈物臺,于所述打光支架底部形成的待測區域;控制器,用于控制各所述光源按預設規則點亮或熄滅,并控制所述拍攝組件獲取待測工件的圖像;機器視覺檢測模塊,用于根據所有照明環境下拍攝組件獲取的待測工件的圖像,生成合成圖像。所述缺陷檢測方法,應用于上述打光裝置。本發明模塊化組裝保障了檢測可靠性。
技術領域
本發明涉及自動化檢測裝置領域,尤其涉及一種矩形多光源打光裝置及其應用的缺陷檢測方法。
背景技術
現有的零件表面缺陷檢測通常依靠人工完成,其檢測速度慢、主觀因素影響大,可靠性低、影響產品的加工質量。于是出現了基于圖像識別技術的缺陷檢測方法,而上述檢測方法與對應的打光裝置及相應的成像系統具有較大依賴性。
目前的打光裝置通常結構較為復雜,為保證應用缺陷檢測方法時的檢測效率和可靠性,攝像頭、各光源的高度和位置等參數通常需要專業技術人員進行安裝和調試,二次組裝難度大且費時費力,一方面提升了應用方的技術人員的專業要求,另一方面也增加了其前期成本,在安裝出現偏差時也容易對檢測可靠性產生影響。
發明內容
為克服現有的打光裝置二次組裝難度大、對安裝技術技術人員的要求高的問題,本發明實施例一方面提供了一種矩形多光源打光裝置,包括:
調節支架,所述調節支架包括z向支架以及設于z向支架上并可沿z向支架豎直運動的活動框架;
打光支架,包括用于與活動框架連接的結合部和位于所述結合部下方的“井”字形框架,所述“井”字形框架于周向延伸形成四對懸臂,兩兩相對的懸臂內側用于架設光源,兩兩相對的懸臂外側用于設置角度調節裝置;所述“井”字形框架于底部還設有拍攝組件;
呈物臺,所述呈物臺于所述打光支架底部形成的待測區域;
控制器,至少用于控制各所述光源按預設規則點亮或熄滅,并在各照明環境下控制所述拍攝組件獲取待測工件的圖像;
機器視覺檢測模塊,用于根據所有照明環境下拍攝組件獲取的待測工件的圖像,生成合成圖像。
進一步,上述所述呈物臺為x向傳動的傳送帶,所述活動框架包括x向橫梁和y向橫梁,所述打光支架通過所述結合部設置在所述x向橫梁上,且所述打光支架可以沿x向橫梁運動。
進一步,上述所述視覺檢測模塊還用于獲取待測工件的實時圖像,并根據所述實時圖像確定所述待測工件的實時幾何中心點與攝像組件的額外x偏移量,所述控制器還用于根據所述額外x偏移量確定所述打光支架的x向行程,以使所述攝像組件和所述待測工件的實時幾何中心點保持預設x偏移量。
進一步,上述所述x向橫梁包括位于中部的第一x向橫梁以及位于兩側的第二x向橫梁,所述打光支架通過所述結合部設置于所述第一x向橫梁上。
進一步,上述所述第一x向橫梁設置在所述y向橫梁之間,且所述第一 x向橫梁可以在所述y向橫梁上滑動,所述視覺檢測模塊還用于根據待測工件的實時圖像確定所述待測工件的實時幾何中心點與攝像組件的額外y偏移量,所述控制器還用于根據所述額外y偏移量確定所述第一x向橫梁的y向行程,以使所述攝像組件和所述待測工件的實時幾何中心點保持預設y偏移量。
進一步,上述兩兩相對的懸臂內側設置有用于套設光源的聯動安裝桿,所述角度調節裝置包括設于任一懸臂外側的角度調節旋鈕,以及設于兩兩相鄰的懸臂外側的聯動齒輪,所述聯動齒輪包括兩兩嚙合的錐齒輪,所述錐齒輪與對應的聯動安裝桿同軸固定連接。
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