[發(fā)明專利]一種能提供等離子體環(huán)境的原位漫反射紅外光譜反應(yīng)池在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910500672.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-06-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110296939A | 公開(公告)日: | 2019-10-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉璐;馬玉東;彭亦蘭;袁壽其;劉馨琳;糜建立;王軍峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/03 | 分類號(hào): | G01N21/03 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 212013 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反應(yīng)池 外罩 等離子體環(huán)境 板狀電極 電加熱腔 紅外光 紅外光譜 針狀電極 漫反射 出射 入射 底座 催化劑表面 高壓電源 物種結(jié)構(gòu) 原位檢測(cè) 接地 電熱絲 伸入 罩設(shè) 外部 | ||
本發(fā)明提供了一種能提供等離子體環(huán)境的原位漫反射紅外光譜反應(yīng)池,包括:底座;反應(yīng)池基座,安裝于所述底座上,反應(yīng)池基座的頂部設(shè)有第一凹槽和電加熱腔,電加熱腔位于第一凹槽的周向外側(cè);外罩,罩設(shè)于反應(yīng)池上;板狀電極,設(shè)置于第一凹槽內(nèi);介質(zhì),位于板狀電極上;針狀電極,一端從外罩的頂部伸入至介質(zhì)的上方,另一端位于外罩外部;電熱絲,設(shè)置于電加熱腔內(nèi);及紅外光入射和出射單元,用于使得紅外光能夠入射至外罩內(nèi),并從外罩內(nèi)出射;其中,針狀電極與高壓電源連接,板狀電極接地,本發(fā)明能夠提供等離子體環(huán)境中的催化劑表面物種結(jié)構(gòu)的原位檢測(cè)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及漫反射紅外光譜分析測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種能提供等離子體環(huán)境的原位漫反射紅外光譜反應(yīng)池。
背景技術(shù)
低溫等離子體中含有大量的電子、離子、自由基和亞穩(wěn)態(tài)分子,它們的化學(xué)性質(zhì)非常活躍,很容易和其它原子、分子或其它自由基發(fā)生反應(yīng)。低溫等離子體與催化劑能夠產(chǎn)生協(xié)同作用,提高選擇性和反應(yīng)速率,低溫等離子體協(xié)同催化技術(shù)在污染物治理、燃料轉(zhuǎn)化方面具有廣闊的應(yīng)用前景。然而,目前相應(yīng)的協(xié)同反應(yīng)過程和機(jī)理仍然不夠清晰,需要有效的表征手段加以研究。同催化反應(yīng)一樣,等離子體參與的催化反應(yīng)也包括反應(yīng)物在催化劑表面的吸附、反應(yīng)轉(zhuǎn)化、生成物解吸等過程,認(rèn)識(shí)催化反應(yīng)機(jī)理的過程,就是要獲取催化反應(yīng)各個(gè)歷程的詳細(xì)信息。由于低溫等離子體中的正負(fù)離子、自由基壽命較短,非原位表征往往只能間接得到反應(yīng)過程的信息,難以真正剖析瞬態(tài)反應(yīng)過程。一般來說,原位紅外光譜表征是進(jìn)行催化反應(yīng)機(jī)理研究的有效手段,可以給出反應(yīng)條件下反應(yīng)物在催化劑表面的吸附態(tài)及其動(dòng)態(tài)轉(zhuǎn)化信息,常被運(yùn)用于催化反應(yīng)機(jī)理的研究中。但是等離子體放電裝置復(fù)雜,而且涉及幾千伏到幾十千伏的高電壓放電,給原位表征的反應(yīng)池設(shè)計(jì)帶來了困難,因此目前缺乏相關(guān)的檢測(cè)裝置和方法。
漫反射紅外光譜技術(shù)由于不破壞樣品固有形態(tài)等優(yōu)點(diǎn)而被運(yùn)用于原位紅外光譜表征領(lǐng)域,但通用的原位漫反射光譜池,如Thermo Spectra-Tech的原位漫反射池,并不能對(duì)等離子體環(huán)境下的樣品進(jìn)行測(cè)定。
現(xiàn)有技術(shù)公開了一種一段式等離子體催化原位漫反射紅外檢測(cè)裝置,該裝置采用同軸式介質(zhì)阻擋放電,等離子放電區(qū)域與催化劑具有一定的距離,只能保證壽命比較長的幾種自由基到達(dá)催化劑表面,尚不能真正為催化反應(yīng)提供等離子體環(huán)境。
綜上所述,現(xiàn)階段還沒有相關(guān)裝置能夠提供等離子體環(huán)境中的催化劑表面物種結(jié)構(gòu)的原位檢測(cè)。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在不足,本發(fā)明提供了一種能提供等離子體環(huán)境的原位漫反射紅外光譜反應(yīng)池,能夠提供等離子體環(huán)境中的催化劑表面物種結(jié)構(gòu)的原位檢測(cè)。
本發(fā)明是通過以下技術(shù)手段實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的的。
一種能提供等離子體環(huán)境的原位漫反射紅外光譜反應(yīng)池,包括:
底座;
反應(yīng)池基座,安裝于所述底座上,所述反應(yīng)池基座的頂部設(shè)有第一凹槽;
外罩,罩設(shè)于所述反應(yīng)池上,底部與所述底座連接,所述外罩的內(nèi)壁與所述反應(yīng)池基座之間形成通氣通道,所述外罩上設(shè)有進(jìn)氣口和出氣口,所述進(jìn)氣口和出氣口均與所述通氣通道連通;
板狀電極,設(shè)置于所述第一凹槽內(nèi);
介質(zhì),位于所述板狀電極上,所述介質(zhì)以及第一凹槽的內(nèi)壁面構(gòu)成樣品池;
針狀電極,一端從所述外罩的頂部伸入至所述介質(zhì)的上方,另一端位于所述外罩外部;及
紅外光入射和出射單元,用于使得紅外光能夠入射至所述外罩內(nèi),并從外罩內(nèi)出射,所述紅外光入射至外罩內(nèi)后進(jìn)入所述樣品池內(nèi),經(jīng)反射和部分折射后射出外罩;
其中,所述針狀電極與高壓電源連接,所述板狀電極接地。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





