[發明專利]回歸反光球光學球度測量裝置在審
| 申請號: | 201910495560.1 | 申請日: | 2019-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN110207615A | 公開(公告)日: | 2019-09-06 |
| 發明(設計)人: | 繆寅宵;宋金城;劉柯;郭力振;朱浩 | 申請(專利權)人: | 北京航天計量測試技術研究所;中國運載火箭技術研究院 |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24;G01M11/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100076 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 反光球 回歸 光學球 旋轉托架 度測量裝置 成像模塊 旋轉軸線 光源 精密工程測量 球心 閉合曲線 測量裝置 軸線旋轉 轉軸旋轉 裝置結構 圓心 反射 射出 轉軸 直觀 圖像 | ||
本發明涉及精密工程測量技術領域,提供一種回歸反光球光學球度測量裝置,包括回歸反光球、旋轉托架、光源和成像模塊?;貧w反光球安裝于旋轉托架,回歸反光球的球心位于旋轉托架的旋轉軸線上,旋轉托架帶動回歸反光球以旋轉軸線為軸線旋轉;光源射出的光線經回歸反光球反射后進入成像模塊。本發明提供的回歸反光球光學球度測量裝置,當回歸反光球在旋轉托架的帶動下以通過自身圓心的轉軸為轉軸旋轉一圈時,成像模塊所成的圖像將形成一個可反應回歸反光球的光學球度誤差的閉合曲線;裝置結構簡單、操作方便,測量結果能夠準確、直觀表征回歸反光球的光學球度,為回歸反光球光學球度提供了一種有效、可靠、實用的測量裝置。
技術領域
本發明涉及精密工程測量技術領域,尤其涉及一種回歸反光球光學球度測量裝置。
背景技術
在精密工程測量技術領域,攝影測量系統作為快速、非接觸測量的代表,在幾何量測量中發揮著重要的作用。攝影測量系統在測量前常需要使用回歸反光球桿作為標定基準進行參數標定,標定時以兩個或多個標準回歸反光球球心間距作為已知約束,對攝影測量系統未知參數進行賦值。因此,回歸反光球球心間距的準確度將直接影響參數標定的精度,進而影響攝影測量系統測量的準確度。其中,回歸反光球的球度誤差是影響球心間距測量準確度的主要因素。
對于球度的校準和測量,通常可以采用坐標法、圓度儀法和測長機法等。與其他反光球不同,回歸反光球利用了反光球表面回歸反射特性,其幾何形狀與實際光學形狀存在較大不同。因此,不能以上述方法測量的回歸反光球幾何球度代替其光學球度。
發明內容
本發明實施例提供一種回歸反光球光學球度測量裝置,為回歸反光球光學球度提供一種結構簡單、操作方便、有效可靠的測量裝置。
本發明實施例提供一種回歸反光球光學球度測量裝置,包括回歸反光球、旋轉托架、光源和成像模塊;
所述回歸反光球安裝于所述旋轉托架,所述回歸反光球的球心位于所述旋轉托架的旋轉軸線上,所述旋轉托架帶動所述回歸反光球以所述旋轉軸線為軸線旋轉;所述光源射出的光線經所述回歸反光球反射后進入所述成像模塊。
本發明實施例提供的回歸反光球光學球度測量裝置,光源射出的光線經回歸反光球反射后進入成像模塊成像。當回歸反光球在旋轉托架的帶動下以通過自身圓心的轉軸為轉軸旋轉時,成像模塊所成的圖像將由于回歸反光球的光學球度誤差而產生偏移,當回歸反光球旋轉一圈時,成像模塊所成的圖像將形成一個閉合曲線,此閉合曲線即可反應回歸反光球的光學球度誤差。本發明提供的回歸反光球光學球度測量裝置,結構簡單、操作方便,測量結果能夠準確、直觀表征回歸反光球的光學球度,為回歸反光球光學球度提供了一種有效、可靠、實用的測量裝置。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案,下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖是本發明的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發明實施例提供的回歸反光球光學球度測量裝置結構示意圖;
圖中:1、回歸反光球;2、旋轉托架;3、成像鏡頭;4、成像終端;5、環形同軸光源;6、底座;7、旋轉主軸;8、支撐桿;9、水平調節板;10、橫向調整機構;11、縱向調整機構。
具體實施方式
為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚,下面將結合本發明實施例中的附圖,對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例是本發明一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒景l明中的實施例,本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發明保護的范圍。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京航天計量測試技術研究所;中國運載火箭技術研究院,未經北京航天計量測試技術研究所;中國運載火箭技術研究院許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910495560.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





