[發明專利]一種相控陣天線的損傷檢測方法、損傷檢測裝置及終端

有效

• 申請號: 201910492779.6
• 申請日: 2019-06-06
• 公開（公告）號: CN110208271B
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 呂波;張宏偉;馬俊濤;郭宇寧;呂萌;尹園威;史林
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍陸軍工程大學;深圳前海漢視科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 秦敏華

1.一種相控陣天線的損傷檢測方法，其特征在于，所述損傷檢測方法包括：

獲取目標相控陣天線的損傷陣面對應的損傷二維圖像；

將所述損傷二維圖像與預設的基準三維模型進行視角匹配，以確定與所述損傷二維圖像對應的基準二維圖像，其中，所述基準三維模型為基于所述目標相控陣天線對應的基準相控陣天線構建；

將所述損傷二維圖像與所述基準二維圖像進行特征比較，得到所述損傷陣面的損傷特征矩陣；

基于所述損傷特征矩陣對所述目標相控陣天線進行損傷評估，得到所述目標相控陣天線的損傷結果；

在將所述損傷二維圖像與預設的基準三維模型進行視角匹配之前還包括：

獲取基準相控陣天線的多個不同視角下的二維圖像；

基于所述多個不同視角下的二維圖像，構建所述基準相控陣天線的基準三維模型；

所述將所述損傷二維圖像與預設的基準三維模型進行視角匹配，以確定與所述損傷二維圖像對應的基準二維圖像包括：

調整所述基準三維模型的視角至目標視角，以使所述基準三維模型在所述目標視角下對應的二維圖像與所述損傷二維圖像的相似度大于指定相似度閾值；

將所述基準三維模型在所述目標視角下對應的二維圖像確定為與所述損傷二維圖像對應的基準二維圖像；

所述將所述損傷二維圖像與所述基準二維圖像進行特征比較，得到所述損傷陣面的損傷特征矩陣包括：

獲取所述損傷二維圖像的損傷二維特征點集；

獲取所述基準二維圖像的基準二維特征點集；

將所述損傷二維特征點集和所述基準二維特征點集進行匹配，得到所述損傷二維特征點集中的二維點與所述基準二維特征點集中的二維點的匹配關系；

獲取所述基準二維特征點集在所述基準三維模型中的基準三維點云集；

基于所述匹配關系，將所述損傷二維特征點集與所述基準三維點云集進行對應，得到所述損傷二維特征點集對應的損傷三維點云集；

將所述基準三維點云集和所述損傷三維點云集進行比較，得到所述損傷陣面的損傷特征矩陣；

所述基于所述損傷特征矩陣對所述目標相控陣天線進行損傷評估，得到所述目標相控陣天線的損傷結果包括：

將所述損傷特征矩陣輸入到預設的損傷評估模型，得到所述目標相控陣天線的損傷結果；

所述損傷評估模型在xyz空間坐標系中的數學表示為：

其中，表示目標相控陣天線的陣因子，S_nm表示N×M的目標相控陣天線的損傷特征矩陣，表示目標相控陣天線中各陣元的輻射場強，θ表示遠場輻射方向與xyz空間坐標系中z軸方向的夾角，表示遠場輻射方向的投影與xyz空間坐標系中x軸方向的夾角，其中，n,m均為大于0的正整數，1≤n≤N,1≤m≤M。

2.一種相控陣天線的損傷檢測裝置，其特征在于，適用于如權利要求1所述的相控陣天線的損傷檢測方法，所述損傷檢測裝置，包括：

獲取單元，用于獲取目標相控陣天線的損傷陣面對應的損傷二維圖像；

視角匹配單元，用于將所述損傷二維圖像與預設的基準三維模型進行視角匹配，以確定與所述損傷二維圖像對應的基準二維圖像，其中，所述基準三維模型為基于所述目標相控陣天線對應的基準相控陣天線構建；

比較單元，用于將所述損傷二維圖像與所述基準二維圖像進行特征比較，得到所述損傷陣面的損傷特征矩陣；

評估單元，用于基于所述損傷特征矩陣對所述目標相控陣天線進行損傷評估，得到所述目標相控陣天線的損傷結果。

3.一種終端，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1所述相控陣天線的損傷檢測方法的步驟。

4.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現如上的權利要求1所述相控陣天線的損傷檢測方法的步驟。