[發明專利]一種應用于波束掃描的毫米波寬帶寬角圓極化天線

有效

• 申請號: 201910490655.4
• 申請日: 2019-06-06
• 公開（公告）號: CN110112560B
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發明（設計）人: 程鈺間;夏飛揚;柏航;樊勇;張波;林先其;張永鴻;趙明華
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: H01Q1/38
• 分類號: H01Q1/38;H01Q1/50;H01Q9/28;H01Q9/04;H01Q21/08;H01Q21/00
• 代理公司: 電子科技大學專利中心 51203
• 代理人: 甘茂

1.一種應用于波束掃描的毫米波寬帶寬角圓極化天線，包括天線輻射結構與基片集成波導饋電結構，其中，所述基片集成波導饋電結構包括從下往上依次層疊的下金屬覆銅層（3）、介質基板層（2）及上金屬覆銅層（1），所述下金屬覆銅層（3）與上金屬覆銅層（1）通過貫穿于介質基板層（2）的金屬化孔連接，以形成基片集成波導；其特征在于，所述天線輻射結構與基片集成波導饋電結構共用介質基板層（2），天線輻射結構包括介質基板層（2）、位于介質基板層（2）上的上層偶極子臂（11）及位于介質基板層下的下層偶極子臂（31），所述上層偶極子臂（11）與下層偶極子臂（31）結構相同、設置方向相反、共同構成一個偶極子，所述上層偶極子臂（11）、下層偶極子臂（31）分別與上金屬覆銅層（1）、下金屬覆銅層（3）相連，且兩者與基片集成波導饋電結構水平方向的中心線保持有相同的偏移距離；所述上金屬覆銅層（1）、下金屬覆銅層（3）還分別開設有上缺口結構（12）、下缺口結構（32），所述上缺口結構（12）與下缺口結構（32）分別對應于下層偶極子臂（31）與上層偶極子臂（11）設置；所述天線輻射結構中，偶極子的輻射場與介質基板層中的輻射場相互垂直、幅度相同，并且具有90°相位差。

2.按權利要求1所述應用于波束掃描的毫米波寬帶寬角圓極化天線，其特征在于，所述介質基板層的厚度為3λ/20~5λ/20，λ為工作波長。