[發(fā)明專利]光子模數(shù)轉(zhuǎn)換的級(jí)聯(lián)調(diào)制器芯片在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910487730.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-06-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110333638A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-10-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄒衛(wèi)文;李俊燕;于磊;周林杰;陳建平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G02F7/00 | 分類號(hào): | G02F7/00 |
| 代理公司: | 上海恒慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 張寧展 |
| 地址: | 200240 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 模數(shù)轉(zhuǎn)換 光子 級(jí)聯(lián)調(diào)制器 解復(fù)用 芯片 調(diào)制 并行 功能電極 多通道 光端口 采樣 模數(shù)轉(zhuǎn)換系統(tǒng) 光輸入端口 采樣結(jié)構(gòu) 測(cè)試端口 調(diào)制芯片 高穩(wěn)定性 核心模塊 射頻電極 輸出測(cè)試 直流電極 電極 低功耗 復(fù)雜度 延遲線 上光 功耗 級(jí)聯(lián) 減小 失配 | ||
1.一種光子模數(shù)轉(zhuǎn)換的級(jí)聯(lián)調(diào)制器芯片,其特征在于,在一塊芯片上包括多個(gè)調(diào)制結(jié)構(gòu)、功能電極和光端口,
所述的多個(gè)調(diào)制結(jié)構(gòu)包括光采樣結(jié)構(gòu)和多通道并行解復(fù)用結(jié)構(gòu),所述的光采樣結(jié)構(gòu)包含1級(jí)1×1的調(diào)制結(jié)構(gòu),用于實(shí)現(xiàn)時(shí)域連續(xù)變化電信號(hào)的采樣;所述的多通道并行解復(fù)用結(jié)構(gòu)包含N級(jí)1×2的調(diào)制結(jié)構(gòu),第1級(jí)包含一個(gè)1×2的調(diào)制結(jié)構(gòu),第2級(jí)包含兩個(gè)1×2的調(diào)制結(jié)構(gòu),第3級(jí)包含四個(gè)1×2的調(diào)制結(jié)構(gòu)、……、第N級(jí)包含2N-1個(gè)1×2的調(diào)制結(jié)構(gòu);第1級(jí)1×2的調(diào)制結(jié)構(gòu)的輸入端和所述的光采樣結(jié)構(gòu)的輸出端相連,第1級(jí)1×2的調(diào)制結(jié)構(gòu)的輸出端分別與第2級(jí)兩個(gè)1×2的調(diào)制結(jié)構(gòu)的輸入端相連,每個(gè)第2級(jí)1×2的調(diào)制結(jié)構(gòu)的輸出端分別與第3級(jí)兩個(gè)1×2的調(diào)制結(jié)構(gòu)的輸入端相連,以此類推,從而產(chǎn)生2N路解復(fù)用的輸出通道,用于實(shí)現(xiàn)高速光采樣序列的多通道解復(fù)用;所述的光采樣結(jié)構(gòu)的輸出端直接與多通道并行解復(fù)用結(jié)構(gòu)的輸入端相連;
所述的功能電極包括直流電極、射頻電極和熱移相電極,所述的直流電極包含N個(gè),位于芯片上部的左右兩側(cè),分別給N個(gè)調(diào)制結(jié)構(gòu)供電;所述的射頻電極(RF)包含N個(gè),位于芯片左下側(cè),分別給N個(gè)調(diào)制結(jié)構(gòu)提供射頻信號(hào);所述的熱移相電極(R)包含N個(gè),位于芯片右下側(cè),分別給N個(gè)調(diào)制結(jié)構(gòu)提供熱移相信號(hào);
所述的光端口包括對(duì)光端口、光輸入端口、輸出測(cè)試端口和測(cè)試端口,所述的對(duì)光端口為2個(gè),位于光端口的兩側(cè),在對(duì)光時(shí)使用,作為光纖與調(diào)制器的進(jìn)光端口對(duì)準(zhǔn)的參照;所述的輸入端口為1個(gè),為第一級(jí)調(diào)制結(jié)構(gòu)的輸入端,即光采樣結(jié)構(gòu)的輸入端;所述的輸出測(cè)試端口為第N級(jí)的2N-1個(gè)調(diào)制結(jié)構(gòu)的輸出測(cè)試端口,共計(jì)2N個(gè);所述的測(cè)試端口為多通道并行解復(fù)用結(jié)構(gòu)中的調(diào)制結(jié)構(gòu)的輸入端口,共計(jì)2N-1個(gè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光子模數(shù)轉(zhuǎn)換的級(jí)聯(lián)調(diào)制器芯片,其特征在于,所述的級(jí)聯(lián)調(diào)制器芯片中各調(diào)制結(jié)構(gòu)之前可加或不加延遲線。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光子模數(shù)轉(zhuǎn)換的級(jí)聯(lián)調(diào)制器芯片,其特征在于,所述的芯片采用硅基SOI集成、體硅基集成、硅基鈮酸鋰薄膜集成、硅基鍵合鈮酸鋰集成、石墨烯集成、半導(dǎo)體異質(zhì)集成或半導(dǎo)體異構(gòu)集成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的光子模數(shù)轉(zhuǎn)換的級(jí)聯(lián)調(diào)制器芯片,其特征在于,所述的單個(gè)調(diào)制結(jié)構(gòu)為馬赫-曾德?tīng)?MZ)單臂調(diào)制干涉結(jié)構(gòu)(MZI)、或推挽式MZ雙臂調(diào)制干涉結(jié)構(gòu)。
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