[發(fā)明專利]一種絕緣油中水分無損檢測裝置及方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910476774.4
• 申請日: 2019-06-03
• 公開（公告）號: CN110082293A
• 公開（公告）日: 2019-08-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉榮海;孔旭暉;李宗紅;郭新良;鄭欣;楊迎春;許宏偉;何運華;周靜波;楊雪瀅;虞鴻江;宋玉鋒;焦宗寒;代克順;陳國坤;程雪婷
• 申請（專利權(quán)）人: 云南電網(wǎng)有限責任公司電力科學(xué)研究院
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/3577;G01N21/3586
• 代理公司: 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

本申請?zhí)峁┝艘环N絕緣油中水分無損檢測裝置及方法，包括太赫茲波產(chǎn)生部件、樣品測試部件、數(shù)據(jù)處理部件和配套計算機，方法包括建立數(shù)據(jù)庫和樣品測試，利用太赫茲波對于金屬物質(zhì)、非極性物質(zhì)和極性物質(zhì)有些較大的差異的原理，在不需要添加化學(xué)藥劑的前提下檢測出絕緣油中水分含量。絕緣油中水含量的信息通過太赫茲波的振幅差異顯示出來，經(jīng)過放大處理，相比于傳統(tǒng)的庫侖滴定法，能夠減小庫侖滴定法中在滴定中存在由于干擾產(chǎn)生空白電流的誤差，提高測量的準確度。樣品測量后，樣品幾乎不會發(fā)生變化，測量后的樣品可以回收利用，能夠達到無損檢測。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請屬于絕緣油質(zhì)量檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種絕緣油中水分無損檢測裝置及方法。

背景技術(shù)

水分是絕緣油質(zhì)量檢測的重要指標之一。應(yīng)用于變壓器中絕緣油的水分來源主要是大氣中的濕器從設(shè)備外侵入，以及絕緣材料的纖維素吸附的水分滲入，或是絕緣材料的纖維素老化分解產(chǎn)生的水分侵入。處于運行設(shè)備中的絕緣油含有的水分會對絕緣油作為絕緣介質(zhì)的電性能和理化性能造成影響。具體為，絕緣油中的水分可鞥導(dǎo)致絕緣油的擊穿電壓降低、介質(zhì)損耗因素增大，以及絕緣油老化程度加劇，更主要會造成紙絕緣永久性的破壞，從而導(dǎo)致充油電氣設(shè)備的運行可靠性和壽命降低，甚至造成絕緣事故。因此，定期對處于運行設(shè)備中的絕緣油進行水分檢測對充油電氣設(shè)備的安全運行具有重要意義。

現(xiàn)有技術(shù)中，采用庫倫滴定法以及微水檢測儀對絕緣油中的水分進行檢測。檢測過程中，采用電解電流自動控制系統(tǒng)，保證了分析過程的精度、靈敏度和速度。但是，該方法在檢測過程中會受到多種干擾因素，例如，電解池密封不嚴、絕緣油在電解池中放置時間過長以至于從空氣中吸入水分、受潮進而產(chǎn)生空白電流，另外無損檢測裝置中的陶瓷濾板吸收水分、硅膠失效等都會導(dǎo)致空白電流的產(chǎn)生，從而影響測量結(jié)果的準確性。

發(fā)明內(nèi)容

本申請?zhí)峁┝艘环N絕緣油中水分無損檢測裝置及方法，以解決在檢測過程中會受到多種干擾因素，例如，電解池密封不嚴、絕緣油在電解池中放置時間過長以至于從空氣中吸入水分、受潮進而產(chǎn)生空白電流，另外無損檢測裝置中的陶瓷濾板吸收水分、硅膠失效等都會導(dǎo)致空白電流的產(chǎn)生，從而影響測量結(jié)果的準確性的技術(shù)問題。

一種絕緣油中水分無損檢測裝置，所述絕緣油中水分無損檢測裝置包括太赫茲波產(chǎn)生部件、樣品測試部件、數(shù)據(jù)處理部件和配套計算機；

所述太赫茲波產(chǎn)生部件通過所述樣品測試部件與所述數(shù)據(jù)處理部件相連接；

所述樣品測試部件通過所述數(shù)據(jù)處理部件與所述配套計算機相連接；

所述數(shù)據(jù)處理部件通過所述配套計算機與所述太赫茲波產(chǎn)生部件相連接；

所述太赫茲波產(chǎn)生部件包括太赫茲波產(chǎn)生箱體、太赫茲波源、分光棱鏡和斬波器；

所述太赫茲波源、所述分光棱鏡和所述斬波器設(shè)置在所述太赫茲波產(chǎn)生箱體的內(nèi)部；

所述太赫茲波產(chǎn)生箱體靠近所述樣品測試箱體的側(cè)面上設(shè)有第一孔隙和第二孔隙；

所述分光棱鏡有間隔設(shè)置在所述太赫茲波源靠近所述樣品測試部件的方向上；

所述斬波器有間隔設(shè)置在所述分光棱鏡的一側(cè)；

所述分光棱鏡傳播太赫茲波經(jīng)過所述第二孔隙；

所述斬波器傳播太赫茲波經(jīng)過所述第一孔隙；

所述樣品測試部件包括樣品測試箱體、第一透射太赫茲波探測器、反射太赫茲波探測器、光孔板、樣品臺、第二透射太赫茲波探測器、樣品空氣和樣品瓶；

所述第一透射太赫茲波探測器、所述反射太赫茲波探測器、所述光孔板、所述樣品臺、所述第二透射太赫茲波探測器、所述樣品空氣所述樣品瓶設(shè)置在所述樣品測試箱體的內(nèi)部；

所述樣品瓶設(shè)置在所述樣品臺上；