[發(fā)明專利]動(dòng)態(tài)調(diào)整低精度的DAC輸出的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910471237.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-05-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110190851A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-08-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳清;黃涌;楊細(xì)芳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 湖南恩智測(cè)控技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H03M1/10 | 分類號(hào): | H03M1/10 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)沙軒榮專利代理有限公司 43235 | 代理人: | 張勇 |
| 地址: | 410000 湖南省長(zhǎng)沙市長(zhǎng)沙高新*** | 國(guó)省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 輸出 高精度ADC 動(dòng)態(tài)調(diào)整 軟件算法 實(shí)際輸出 采樣 持續(xù)監(jiān)測(cè) 存儲(chǔ)介質(zhì) 可移植性 連續(xù)動(dòng)態(tài) 溫度環(huán)境 線路損耗 應(yīng)用過(guò)程 自動(dòng)校正 輸出端 溫漂 校正 采集 追蹤 修正 | ||
1.一種動(dòng)態(tài)調(diào)整低精度的DAC輸出的方法,其特征在于,通過(guò)高精度ADC來(lái)采集DAC的實(shí)際輸出,再通過(guò)軟件算法進(jìn)行連續(xù)動(dòng)態(tài)校正。
2.如權(quán)利要求1所述的一種動(dòng)態(tài)調(diào)整低精度的DAC輸出的方法,其特征在于,在DAC輸出端添加ADC采樣,以實(shí)時(shí)、連續(xù)的追蹤DAC實(shí)際輸出值,并通過(guò)MCU將ADC采樣值與DAC設(shè)定值進(jìn)行比較,以確認(rèn)設(shè)定值與實(shí)際值的差值是否在允許的精度范圍內(nèi);若存在誤差則計(jì)算對(duì)應(yīng)的DAC調(diào)整值,并通過(guò)DAC輸出,同時(shí)ADC持續(xù)監(jiān)測(cè)實(shí)時(shí)DAC輸出。
3.如權(quán)利要求2所述的一種動(dòng)態(tài)調(diào)整低精度的DAC輸出的方法,其特征在于,具體的所述DAC調(diào)整值計(jì)算步驟如下所示:
步驟1:計(jì)算調(diào)整允許偏差值范圍,所述偏差值范圍由實(shí)際使用場(chǎng)景以及DAC精度和位數(shù)確定,其范圍情況為只有下限或同時(shí)具有上下限,然后調(diào)整上下限值,調(diào)整所述下限值為用輸出滿量程實(shí)際值除以DAC最大輸出值得到調(diào)整后的下限值,調(diào)整上限值為由實(shí)際使用場(chǎng)景決定是否存在和大??;
步驟2:計(jì)算實(shí)際偏差值,所述實(shí)際偏差值=DA輸出實(shí)際值-AD采樣實(shí)際值;
步驟3:確認(rèn)實(shí)際偏差值是否在調(diào)整允許偏差值范圍內(nèi);若實(shí)際偏差值在調(diào)整允許偏差值范圍內(nèi),則將實(shí)際偏差值換算成對(duì)應(yīng)的DA值并輸出,DA新設(shè)定值=DA設(shè)定值+差值DA值;若實(shí)際偏差值不在調(diào)整允許偏差值范圍內(nèi),則保持當(dāng)前DA輸出回到所述步驟2,繼續(xù)等待下次數(shù)據(jù)更新與比較。
4.如權(quán)利要求3所述的一種動(dòng)態(tài)調(diào)整低精度的DAC輸出的方法,其特征在于,所述連續(xù)動(dòng)態(tài)校正在實(shí)現(xiàn)過(guò)程中為確保每次DAC輸出值調(diào)整ADC能采集到穩(wěn)定的輸出實(shí)際值,每次對(duì)DAC值進(jìn)行調(diào)整后,到下一次比較調(diào)整預(yù)留一定的延時(shí)等待時(shí)間。
5.如權(quán)利要求4所述的一種動(dòng)態(tài)調(diào)整低精度的DAC輸出的方法,其特征在于,所述的延時(shí)等待時(shí)間由DAC輸出穩(wěn)定時(shí)間以及ADC采樣時(shí)間確定。
6.如權(quán)利要求5所述的一種動(dòng)態(tài)調(diào)整低精度的DAC輸出的方法,其特征在于,輸入采集與輸出控制組合成一個(gè)反饋控制系統(tǒng),通過(guò)輸入采集來(lái)判斷輸出值是否達(dá)到設(shè)定值。
7.如權(quán)利要求6所述的一種動(dòng)態(tài)調(diào)整低精度的DAC輸出的方法,其特征在于,根據(jù)不同場(chǎng)合的負(fù)載情況,通過(guò)MCU將ADC采樣值與DAC設(shè)定值進(jìn)行比較后動(dòng)態(tài)補(bǔ)償不同的電壓值達(dá)到理想的輸出。
8.如權(quán)利要求7所述的一種動(dòng)態(tài)調(diào)整低精度的DAC輸出的方法,其特征在于,所述高精度ADC配置為通過(guò)選通器與多個(gè)DAC連接,通過(guò)所述選通器執(zhí)行多個(gè)低精度的DAC的輸出動(dòng)態(tài)調(diào)整,且所述的高精度ADC的采樣率為120Msps分辨率為32bit的ADC。
9.一種電子裝置,其特征在于,包括:
處理器;以及,
存儲(chǔ)器,用于存儲(chǔ)所述處理器的可執(zhí)行指令;
其中,所述處理器配置為經(jīng)由執(zhí)行所述可執(zhí)行指令來(lái)執(zhí)行權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的動(dòng)態(tài)調(diào)整低精度的DAC輸出的方法。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的動(dòng)態(tài)調(diào)整低精度的DAC輸出的方法。
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