[發明專利]一種巖性識別方法

在審

• 申請號: 201910463463.4
• 申請日: 2019-05-30
• 公開（公告）號: CN112012726A
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 袁多;李永杰;吳海燕
• 申請（專利權）人: 中石化石油工程技術服務有限公司;中國石油化工股份有限公司石油工程技術研究院
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;G01V11/00
• 代理公司: 北京聿華聯合知識產權代理有限公司 11611
• 代理人: 李哲偉;張文娟

1.一種巖性識別方法，其特征在于，所述方法包括：

步驟一、根據獲取到的待分析工區的灰巖骨架的不同測井參數數值分別確定對應的成圖數值范圍；

步驟二、根據所述成圖數據值范圍對所述待分析工區的各個測井參數曲線分別進行成圖操作；

步驟三、判斷經過成圖操作所得到曲線是否存在重疊區域，其中，如果存在，則將所述重疊區域的巖性判定為灰巖。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步驟一中，利用巖性標準模型，結合所述待分析工區的純灰巖巖心試驗測量結果，確定所述灰巖骨架的不同測井參數數值。

3.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述測井參數包括以下所列項中的至少兩項：

聲波時差、補償中子和密度。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，在所述步驟二中，

基于預設初始補償中子成圖范圍，根據所述補償中子數值分別確定所述灰巖骨架的補償中子數值在成圖數值范圍下距離成圖上邊界距離和距離成圖下邊界距離占整體范圍的比值，根據該比值確定補償中子成圖數值范圍。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，根據如下表達式確定灰巖骨架的補償中子數值在成圖數值范圍下距離成圖上邊界距離占整體范圍的比值：

其中，perc_high表示灰巖骨架的補償中子數值在成圖數值范圍下距離成圖上邊界距離占整體范圍的比值，CNL_high和CNL_low分別表示預設初始補償中子成圖范圍的上限值和下限值，CNL_lim表示待分析工區的灰巖骨架的補償中子數值。

6.如權利要求4或5所述的方法，其特征在于，根據如下表達式確定灰巖骨架的補償中子數值在成圖數值范圍下距離成圖下邊界距離占整體范圍的比值：

perc_low＝1-perc_high

其中，perc_low表示灰巖骨架的補償中子數值在成圖數值范圍下距離成圖下邊界距離占整體范圍的比值，perc_high表示灰巖骨架的補償中子數值在成圖數值范圍下距離成圖上邊界距離占整體范圍的比值。

7.如權利要求3～6中任一項所述的方法，其特征在于，在所述步驟二中，

根據所述待分析工區的孔隙度上限和灰巖骨架的密度數值確定密度曲線成圖下邊界；

根據所述密度曲線成圖下邊界和補償中子曲線成圖數值范圍確定密度曲線成圖上邊界。

8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，根據如下表達式確定所述密度曲線成圖下邊界：

DEN_low＝α[DEN_lim-φ_high(DEN_lim-DEN_f)]

其中，DEN_low表示密度曲線成圖下邊界，α表示第一修正因子，DEN_lim表示灰巖骨架的密度數值，φ_high表示孔隙度上限，DEN_f表示孔隙流體的密度數值。

9.如權利要求7或8所述的方法，其特征在于，根據如下表達式確定所述密度曲線成圖上邊界：

DEN_high＝[(DEN_lim-DEN_low)perc_high+DEN_limperc_low]/perc_low

其中，DEN_high表示密度曲線成圖上邊界，DEN_lim表示灰巖骨架的密度數值，DEN_low表示密度曲線成圖下邊界，perc_high和perc_low表示補償中子曲線成圖數值范圍的上限制和下限值。