[發(fā)明專利]一種結(jié)勢壘肖特基二極管在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910458056.4 | 申請日: | 2019-05-29 |
| 公開(公告)號: | CN110197853A | 公開(公告)日: | 2019-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 宋慶文;張玉明;湯曉燕;袁昊;張藝蒙;范鑫 | 申請(專利權(quán))人: | 西安電子科技大學(xué) |
| 主分類號: | H01L29/872 | 分類號: | H01L29/872;H01L29/06;H01L21/329 |
| 代理公司: | 西安嘉思特知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 張捷 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 減小 外延層 結(jié)勢壘肖特基二極管 器件中心 上表面中心 隔離介質(zhì)層 肖特基接觸 陽極電極層 陰極電極層 有效抑制 逐漸減小 邊緣處 襯底層 電遷移 上表面 溫度差 | ||
1.一種結(jié)勢壘肖特基二極管,其特征在于,自上而下依次包括陽極電極層(1)、隔離介質(zhì)層(2)、N-外延層(3)、N+襯底層(4)和陰極電極層(5),其中,
在所述N-外延層(3)的上表面設(shè)置有多個P型離子注入?yún)^(qū)(6);
相鄰所述P型離子注入?yún)^(qū)(6)的間距從所述N-外延層(3)的上表面中心至邊緣呈減小趨勢;
所述P型離子注入?yún)^(qū)(6)的深度從所述N-外延層(3)的上表面中心至邊緣呈減小趨勢。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)勢壘肖特基二極管,其特征在于,多個所述P型離子注入?yún)^(qū)(6)均為同心的環(huán)形結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)勢壘肖特基二極管,其特征在于,多個所述P型離子注入?yún)^(qū)(6)均為矩形,并且在所述N-外延層(3)的上表面分布成陣列結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)勢壘肖特基二極管,其特征在于,相鄰所述P型離子注入?yún)^(qū)(6)的間距從所述N-外延層(3)的上表面中心至邊緣以連續(xù)方式減小。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)勢壘肖特基二極管,其特征在于,相鄰所述P型離子注入?yún)^(qū)(6)的間距從所述N-外延層(3)的上表面中心至邊緣以階梯方式減小。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)勢壘肖特基二極管,其特征在于,多個所述P型離子注入?yún)^(qū)(6)的深度從所述N-外延層(3)的上表面中心至邊緣以連續(xù)方式減小。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)勢壘肖特基二極管,其特征在于,多個所述P型離子注入?yún)^(qū)(6)的深度從所述N-外延層(3)的上表面中心至邊緣以階梯方式減小。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)勢壘肖特基二極管,其特征在于,所述N-外延層(3)與所述陽極電極層(1)之間形成N型肖特基接觸區(qū)(7),每個所述P型離子注入?yún)^(qū)(6)與所述陽極電極層(1)之間均形成P型肖特基接觸區(qū)(8)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)勢壘肖特基二極管,其特征在于,相鄰所述P型離子注入?yún)^(qū)(6)的間距≥2μm。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-9中任一項所述的結(jié)勢壘肖特基二極管,其特征在于,每個所述P型離子注入?yún)^(qū)(6)的深度均≥1.5μm。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





