[發(fā)明專(zhuān)利]原位實(shí)時(shí)等離子腔室狀態(tài)監(jiān)測(cè)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910457530.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-05-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111261544A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-06-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | T-Y·謝;S·R·庫(kù)拉庫(kù)拉 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 應(yīng)用材料公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/67 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/67 |
| 代理公司: | 上海專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 汪駿飛;侯穎媖 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 原位 實(shí)時(shí) 等離子 狀態(tài) 監(jiān)測(cè) | ||
1.一種方法,包括:
對(duì)于腔室中的每個(gè)晶片,原位監(jiān)測(cè)所述腔室中的自由基的頻率和波長(zhǎng);
將所述自由基的所述頻率和所述波長(zhǎng)與至少一種選定的化學(xué)物質(zhì)相關(guān)聯(lián);以及
將所相關(guān)聯(lián)的自由基與指數(shù)進(jìn)行比較,其中所述指數(shù)包括所述至少一種選定的化學(xué)物質(zhì)中的每種化學(xué)物質(zhì)的目標(biāo)范圍。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括當(dāng)所相關(guān)聯(lián)的自由基不在所述目標(biāo)范圍內(nèi)時(shí),響應(yīng)于所述比較而改變?cè)磺皇覡顟B(tài)配方。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括將所述腔室置于以下中的一個(gè)中:
當(dāng)所相關(guān)聯(lián)的自由基降至低于所述目標(biāo)范圍時(shí)將所述腔室置于預(yù)防性維護(hù)周期;并且
當(dāng)所相關(guān)聯(lián)的自由基在所述目標(biāo)范圍內(nèi)時(shí)將所述腔室置于生產(chǎn)周期中。
4.如權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括繪制每個(gè)比較。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括當(dāng)在以下中的至少一個(gè)時(shí)提供警報(bào):
所相關(guān)聯(lián)的自由基在所述目標(biāo)范圍內(nèi);
所相關(guān)聯(lián)的自由基低于所述目標(biāo)范圍;以及
所相關(guān)聯(lián)的自由基高于所述目標(biāo)范圍。
6.如權(quán)利要求1所述的方法,其中在以下中的一個(gè)期間發(fā)生監(jiān)測(cè):
晶片生產(chǎn)周期;以及
腔室清潔周期。
7.如權(quán)利要求6所述的方法,其中所述腔室清潔周期包括:
腔室調(diào)配周期;以及
腔室檢定周期。
8.如權(quán)利要求7所述的方法,進(jìn)一步包括:
調(diào)配晶片,直到所述腔室內(nèi)的氫氧化物水平處于穩(wěn)定狀態(tài);以及
執(zhí)行檢定周期。
9.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述監(jiān)測(cè)和所述比較包括以下中的至少一個(gè):
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與氫氧化物相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并且將所相關(guān)聯(lián)的氫氧化物自由基與關(guān)于氫氧化物的指數(shù)進(jìn)行比較;以及
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與氟相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并將所相關(guān)聯(lián)的氟自由基與關(guān)于氟的指數(shù)進(jìn)行比較。
10.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述監(jiān)測(cè)和所述比較包括以下中的至少一個(gè):
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與氫氧化物相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并且將所相關(guān)聯(lián)的氫氧化物自由基與關(guān)于氫氧化物的指數(shù)進(jìn)行比較;
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與氟相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并且將所相關(guān)聯(lián)的氟自由基與關(guān)于氟的指數(shù)進(jìn)行比較;
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與氫相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并且將所相關(guān)聯(lián)的氫自由基與關(guān)于氫的指數(shù)進(jìn)行比較;
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與氯相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并且將所相關(guān)聯(lián)的氯自由基與關(guān)于氯的指數(shù)進(jìn)行比較;
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與氧相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并且將所相關(guān)聯(lián)的氧自由基與關(guān)于氧的指數(shù)進(jìn)行比較;
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與氬相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并且將所相關(guān)聯(lián)的氬自由基與關(guān)于氬的指數(shù)進(jìn)行比較;
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與氙相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并且將所相關(guān)聯(lián)的氙自由基與關(guān)于氙的指數(shù)進(jìn)行比較;
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與硅相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并且將所相關(guān)聯(lián)的硅自由基與關(guān)于硅的指數(shù)進(jìn)行比較;
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與氮化硅相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并且將所相關(guān)聯(lián)的氮化硅自由基與關(guān)于氮化硅的指數(shù)進(jìn)行比較;以及
監(jiān)測(cè)在所述腔室中與碳相關(guān)聯(lián)的所述自由基的頻率和波長(zhǎng),并且將所相關(guān)聯(lián)的碳自由基與關(guān)于碳的指數(shù)進(jìn)行比較。
11.如權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括將多個(gè)晶片插入所述等離子體腔室中。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于應(yīng)用材料公司,未經(jīng)應(yīng)用材料公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910457530.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專(zhuān)門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 伸縮臂架原位信號(hào)發(fā)生裝置、長(zhǎng)度校正系統(tǒng)及工程機(jī)械
- 原位雜交方法
- 一種原子力顯微鏡導(dǎo)電探針原位加熱、原位表征納米塞貝克系數(shù)的裝置
- 一種基于原位分析技術(shù)研究材料損傷微觀機(jī)理的實(shí)驗(yàn)方法
- 原位紅外表征氣體水合物生成和分解過(guò)程的裝置及其使用方法
- 升級(jí)裝置及車(chē)載智能設(shè)備系統(tǒng)
- 一種用于修復(fù)污染土壤和地下水的原位注入一體井裝置
- 一種用于紫外和熒光同時(shí)原位檢測(cè)的反應(yīng)池
- 一種污染場(chǎng)地原位修復(fù)藥劑及施工方法
- 一種管模擬原位生物修復(fù)裝置及其方法
- 實(shí)時(shí)解碼系統(tǒng)與實(shí)時(shí)解碼方法
- 實(shí)時(shí)穩(wěn)定
- 實(shí)時(shí)監(jiān)控裝置、實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)以及實(shí)時(shí)監(jiān)控方法
- 實(shí)時(shí)或準(zhǔn)實(shí)時(shí)流傳輸
- 實(shí)時(shí)或準(zhǔn)實(shí)時(shí)流傳輸
- 實(shí)時(shí)通信方法和實(shí)時(shí)通信系統(tǒng)
- 實(shí)時(shí)更新
- 實(shí)時(shí)內(nèi)核
- 用于通信網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備及相關(guān)方法
- 實(shí)時(shí)量化方法及實(shí)時(shí)量化系統(tǒng)
- 狀態(tài)檢測(cè)裝置及狀態(tài)檢測(cè)方法
- 狀態(tài)估計(jì)裝置以及狀態(tài)估計(jì)方法
- 經(jīng)由次級(jí)狀態(tài)推斷管理狀態(tài)
- 狀態(tài)估計(jì)裝置及狀態(tài)估計(jì)方法
- 狀態(tài)估計(jì)裝置、狀態(tài)估計(jì)方法
- 狀態(tài)預(yù)測(cè)裝置以及狀態(tài)預(yù)測(cè)方法
- 狀態(tài)推定裝置、狀態(tài)推定方法和狀態(tài)推定程序
- 狀態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)及狀態(tài)檢測(cè)方法
- 狀態(tài)判定裝置、狀態(tài)判定方法以及狀態(tài)判定程序
- 狀態(tài)判斷裝置以及狀態(tài)判斷方法





