[發(fā)明專利]一種使用全站儀和水準(zhǔn)儀監(jiān)測(cè)平面位移的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910457048.8
• 申請(qǐng)日: 2019-05-29
• 公開（公告）號(hào): CN110057342B
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉垚;劉國(guó)良;周凱;盧金棟;劉玉濤;馬宏建;許俊偉;李治國(guó);李坤;李學(xué)剛;張澤衛(wèi);盧衛(wèi)鋒;劉坤昊;肖方奇;姜山;劉建軍;李秋光;鄭湘芝;夏晟;王洋洋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中鐵隧道局集團(tuán)有限公司;中鐵隧道勘察設(shè)計(jì)研究院有限公司
• 主分類號(hào): G01C3/00
• 分類號(hào): G01C3/00
• 代理公司: 西安維賽恩專利代理事務(wù)所(普通合伙) 61257
• 代理人: 劉艷霞

本發(fā)明公開了一種使用全站儀和水準(zhǔn)儀監(jiān)測(cè)平面位移的方法，該方法包括如下：使兩個(gè)強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩位于同一坐標(biāo)系下；從其中一個(gè)強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩上測(cè)量出監(jiān)測(cè)點(diǎn)到該強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩的斜距S₁，測(cè)量監(jiān)測(cè)點(diǎn)與該全站儀之間的高程差H₁；從另一個(gè)強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩上測(cè)量出監(jiān)測(cè)點(diǎn)到該強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩的斜距S₂，測(cè)量出監(jiān)測(cè)點(diǎn)與全站儀之間的高程差H₂；計(jì)算出平距D₁和D₂；使用平距D₁和D₂求解出監(jiān)測(cè)點(diǎn)的平面坐標(biāo)(x₁，y₁)；再測(cè)量監(jiān)測(cè)點(diǎn)，得此時(shí)監(jiān)測(cè)點(diǎn)的平面坐標(biāo)(x₂，y₂)；將平面坐標(biāo)(x₂，y₂)和平面坐標(biāo)(x₁，y₁)相比對(duì)，得到對(duì)應(yīng)的差值。使用本發(fā)明中的方法，不需要測(cè)量角度，避免了全站儀測(cè)角誤差。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于工程監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種使用全站儀和水準(zhǔn)儀監(jiān)測(cè)平面位移的方法。

背景技術(shù)

近年來，隨著我國(guó)經(jīng)濟(jì)快速發(fā)展，各種基礎(chǔ)設(shè)施建設(shè)日益增多，在使用全站儀進(jìn)行平面位移監(jiān)測(cè)過程中，由于全站儀測(cè)角精度受地形和氣候影響很大，從而降低了全站儀監(jiān)測(cè)平面位移的精度。

目前為了提高全站儀監(jiān)測(cè)平面位移精度，主要采用縮短監(jiān)測(cè)視距或者避開影響大的地形，但隨著城市化的發(fā)展，很多待測(cè)區(qū)域附近不存在這樣的監(jiān)測(cè)條件，從而無法進(jìn)行有效的監(jiān)測(cè)，所以需要對(duì)原有使用全站儀監(jiān)測(cè)的方法進(jìn)行改進(jìn)，使其可以避免地形和氣候?qū)y(cè)角精度的影響。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種使用全站儀和水準(zhǔn)儀監(jiān)測(cè)平面位移的方法，不需要測(cè)量角度，避免了全站儀測(cè)角誤差。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是，一種使用全站儀和水準(zhǔn)儀監(jiān)測(cè)平面位移的方法，該方法包括如下步驟：

步驟1：在被監(jiān)測(cè)目標(biāo)上選定一個(gè)監(jiān)測(cè)點(diǎn)；

步驟2：在監(jiān)測(cè)點(diǎn)附近穩(wěn)定區(qū)建立兩個(gè)強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩，各強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩均分別與各監(jiān)測(cè)點(diǎn)通視。

步驟3：建立坐標(biāo)系，使兩個(gè)強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩位于同一坐標(biāo)系下，其中一個(gè)強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩的坐標(biāo)為A(x_a，y_a)，另一個(gè)強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩的坐標(biāo)為B(x_b，y_b)；其中：x_a、y_a、x_b和y_b均為任意數(shù)。

步驟4：使用全站儀從其中一個(gè)強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩上測(cè)量出監(jiān)測(cè)點(diǎn)到該強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩的斜距S₁；使用水準(zhǔn)儀測(cè)量出監(jiān)測(cè)點(diǎn)與該全站儀之間的高程差H₁；其中：S₁和H₁為任意數(shù)。

使用全站儀從另一個(gè)強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩上測(cè)量出監(jiān)測(cè)點(diǎn)到該強(qiáng)制對(duì)中觀測(cè)墩的斜距S₂；使用水準(zhǔn)儀測(cè)量出監(jiān)測(cè)點(diǎn)與該全站儀之間的高程差H₂；其中：S₂和H₂為任意數(shù)。

步驟5：使用步驟4中的高程差H₁與斜距S₁，計(jì)算出平距D₁；使用高程差H₂與斜距S₂，計(jì)算出平距D₂；其中：D₁和D₂均為正數(shù)。

步驟6：使用平距D₁和D₂求解出監(jiān)測(cè)點(diǎn)的平面坐標(biāo)(x₁，y₁)，并存儲(chǔ)為初始值。