[發明專利]磁共振掃描方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 201910452372.0
• 申請日: 2019-05-28
• 公開（公告）號: CN110261804B
• 公開（公告）日: 2021-07-16
• 發明（設計）人: 黃文慧;劉柳
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技股份有限公司
• 主分類號: G01R33/58
• 分類號: G01R33/58;A61B5/055
• 代理公司: 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606
• 代理人: 李姣姣

1.一種磁共振掃描方法，所述方法包括：

根據接收到的掃描指令確定掃描協議，所述掃描協議包括校準序列和成像序列集合；

根據所述成像序列集合中的第一成像序列確定第一成像線圈組合；

根據磁共振掃描設備中線圈單元的位置和預設掃描范圍確定所述校準序列對應的校準線圈組合，所述校準線圈組合包括所述第一成像線圈組合；

基于所述校準序列和對應的校準線圈組合得到校準數據，以及基于所述成像序列集合中各成像序列和各成像序列對應的成像線圈組合得到成像數據；

根據所述校準數據，對所述成像序列集合中各成像序列對應的成像數據進行校準；

重建校準后的成像數據，得到校準的磁共振圖像。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述校準數據，對所述成像序列集合中各成像序列對應的成像數據進行校準的步驟，包括：

根據所述成像數據對應的線圈組合，從所述校準數據中提取出所述成像數據對應的校準數據；

利用所述成像數據對應的校準數據，對所述成像數據進行校準。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用所述成像數據對應的校準數據，對所述成像數據進行校準的步驟，包括：

根據所述成像數據對應的校準數據進行靈敏度計算，得到靈敏度分布信息；

根據所述靈敏度分布信息對所述成像數據進行校準。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，當根據所述成像數據對應的線圈組合確定所述成像數據存在可復用的靈敏度分布信息時，將所述可復用的靈敏度分布信息作為所述成像數據對應的校準數據。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據磁共振掃描設備中線圈單元的位置和預設掃描范圍確定所述校準序列對應的校準線圈組合，所述校準線圈組合包含所述第一成像線圈組合的步驟，包括：

當所述磁共振掃描設備中線圈單元的位置處于所述預設掃描范圍內時，將處于所述預設掃描范圍內的線圈單元進行組合，得到預測線圈組合；

將所述第一成像線圈組合加入所述預測線圈組合中，得到校準序列對應的校準線圈組合。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述成像序列集合包括第一成像序列和第二成像序列；

所述第一成像序列和第二成像序列分別對應同一掃描部位的不同切面；

或者，所述第一成像序列和第二成像序列對應同一掃描部位的同一切面，且所述第一成像序列和第二成像序列所對應的掃描范圍不同；

所述切面包括橫斷面、矢狀面和冠狀面的至少一者。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述校準序列和對應的校準線圈組合得到校準數據，以及基于所述成像序列集合中各成像序列和各成像序列對應的成像線圈組合得到成像數據的步驟，包括：

控制所述磁共振掃描設備激發所述校準序列進行校準掃描，并利用所述校準序列對應的校準線圈組合采集校準掃描得到的校準數據；

依次控制所述磁共振掃描設備激發所述成像序列集合中的各成像序列進行成像掃描，并利用所述成像序列對應的成像線圈組合采集成像掃描得到的成像數據。

8.一種磁共振掃描裝置，其特征在于，所述裝置包括：

確定模塊，用于根據接收到的掃描指令確定掃描協議，所述掃描協議包括校準序列和成像序列集合；

所述確定模塊還用于根據所述成像序列集合中的第一成像序列確定第一成像線圈組合；

預測模塊，用于根據磁共振掃描設備中線圈單元的位置和預設掃描范圍確定所述校準序列對應的校準線圈組合，所述校準線圈組合包括所述第一成像線圈組合；

控制模塊，用于基于所述校準序列和對應的校準線圈組合得到校準數據，以及基于所述成像序列集合中各成像序列和各成像序列對應的成像線圈組合得到成像數據；

校準模塊，用于根據所述校準數據，對所述成像序列集合中各成像序列對應的成像數據進行校準；

重建模塊，用于重建校準后的成像數據，得到校準的磁共振圖像。