[發(fā)明專利]胎兒頸部透明層厚度測量方法、設備及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910451627.1
• 申請日: 2019-05-28
• 公開（公告）號: CN110163907B
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發(fā)明（設計）人: 殷晨;李璐;趙明昌
• 申請（專利權）人: 無錫祥生醫(yī)療科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/60
• 分類號: G06T7/60;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/66;A61B8/08
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104
• 代理人: 曹祖良

1.一種胎兒頸部透明層厚度測量方法，其特征在于，包括：

獲取至少包含胎兒頸部透明層的超聲圖像；

通過卷積神經(jīng)網(wǎng)絡模型識別所述超聲圖像中頸部透明層的第一分布區(qū)域；

根據(jù)梯度方式從頸部透明層的第一分布區(qū)域中分割出包含頸部透明層的第二分布區(qū)域，所述第二分布區(qū)域的識別精度大于所述第一分布區(qū)域的識別精度；

遍歷所述第二分布區(qū)域中的像素單元，以獲取所述第二分布區(qū)域沿寬度方向的最大寬度值；

所述根據(jù)梯度方式從頸部透明層的第一分布區(qū)域中分割出包含頸部透明層的第二分布區(qū)域之前，所述方法還包括：

計算所述第一分布區(qū)域旋轉至水平位置所需的旋轉角度；

若所述旋轉角度不為零，則根據(jù)所述旋轉角度對所述第一分布區(qū)域進行仿射變換，將所述第一分布區(qū)域旋轉至水平位置；

所述計算所述第一分布區(qū)域旋轉至水平位置所需的旋轉角度，包括：

獲取所述第一分布區(qū)域的像素坐標P_n；

根據(jù)所述像素坐標P_n標記所述第一分布區(qū)域的外接矩形R_n；

將所述外接矩形R_n沿長度方向平均分割為第一外接矩形R_l和第二外接矩形R_r；

計算所述第一外接矩形R_l的第一質(zhì)心坐標C_l和所述第二外接矩形R_r的第二質(zhì)心坐標C_r；

根據(jù)所述第一質(zhì)心坐標C_l和第二質(zhì)心坐標C_r計算所述第一分布區(qū)域所需旋轉角度。

2.如權利要求1所述的胎兒頸部透明層厚度測量方法，其特征在于，所述遍歷所述第二分布區(qū)域中的像素單元，包括：

突出顯示所述第二分布區(qū)域的輪廓；

通過像素值方式遍歷第二分布區(qū)域輪廓內(nèi)的像素單元。

3.如權利要求1或2所述的胎兒頸部透明層厚度測量方法，其特征在于，所述根據(jù)梯度方式從頸部透明層的第一分布區(qū)域中分割出包含頸部透明層的第二分布區(qū)域，包括：

獲取第一分布區(qū)域上下邊緣像素坐標B_N；

根據(jù)第一損失函數(shù)計算所述第一分布區(qū)域內(nèi)每個像素點坐標對應的第一損失值，選取最小第一損失值；

根據(jù)第二損失函數(shù)計算所述第一分布區(qū)域內(nèi)每個像素點坐標對應的第二損失值，選取最小第二損失值；

根據(jù)所述最小第一損失值與最小第二損失值對應的像素點坐標通過動態(tài)規(guī)劃算法計算出所述第二分布區(qū)域的上下邊緣的坐標。

4.如權利要求3所述的胎兒頸部透明層厚度測量方法，其特征在于，所述動態(tài)規(guī)劃算法為通過迭代方式反推所有所述第二分布區(qū)域的上下邊緣的最優(yōu)像素點坐標。

5.如權利要求1或2所述的胎兒頸部透明層厚度測量方法，其特征在于，所述遍歷所述第二分布區(qū)域中的像素單元之前，包括：

將所述第二分布區(qū)域內(nèi)的顏色像素值填充為255，所述第二分布區(qū)域外的顏色像素值填充為0。

6.如權利要求2所述的胎兒頸部透明層厚度測量方法，其特征在于，所述通過像素值方式遍歷第二分布區(qū)域輪廓內(nèi)的像素單元，包括：

沿所述第二分布區(qū)域長度方向?qū)⑺龅诙植紖^(qū)域分割為若干等寬度值的分割像素單元；

遍歷所述若干等寬度值的分割像素單元，選取面積最大的分割像素單元；

根據(jù)選取的面積最大的分割像素單元獲取對應的上邊緣的最厚像素點坐標和下邊緣的最厚像素點坐標；

根據(jù)上下邊緣的最厚像素點坐標計算胎兒的頸部透明層厚度。

7.如權利要求6所述的胎兒頸部透明層厚度測量方法，其特征在于，所述根據(jù)上下邊緣的最厚像素點坐標計算胎兒的頸部透明層厚度，包括：

將所述上下邊緣的最厚像素點坐標還原到原始超聲圖像中，得到上下邊緣最厚像素點的實際坐標；

根據(jù)上下邊緣最厚像素點的實際坐標計算胎兒的頸部透明層厚度。