[發(fā)明專利]一種電子元件檢測裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910451504.8
• 申請日: 2019-05-28
• 公開（公告）號(hào): CN110238086A
• 公開（公告）日: 2019-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 祝勝光;李江
• 申請（專利權(quán)）人: 電子科技大學(xué)中山學(xué)院
• 主分類號(hào): B07C5/344
• 分類號(hào): B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 溫旭

本發(fā)明公開了一種電子元件檢測裝置，包括機(jī)架、上料裝置、檢測機(jī)構(gòu)和分揀機(jī)構(gòu)，檢測機(jī)構(gòu)上設(shè)置有檢測軌道，在檢測軌道上通過輸送裝置對(duì)電子元件進(jìn)行抓取輸送，從而將電子元件沿檢測軌道依次移動(dòng)至與每組檢測探針位置相對(duì)應(yīng)，檢測探針可檢測電子元件的引腳電極，通過多組檢測探針，將電子元件的所有引腳電極組合進(jìn)行檢測。之后電子元件移動(dòng)至分揀機(jī)構(gòu)上，通過系統(tǒng)控制分揀夾具夾持電子元件移動(dòng)，如果電子元件存在質(zhì)量問題，電子元件會(huì)在分揀夾具的作用下落入對(duì)應(yīng)的分裝箱內(nèi)，而檢測合格的電子元件會(huì)被分揀夾具直接輸送出去，從而完成檢測全過程。通過本方案，檢測的過程全程自動(dòng)化進(jìn)行，省時(shí)省力，節(jié)省了大量的人力成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及檢測領(lǐng)域，特別是一種電子元件檢測裝置。

背景技術(shù)

現(xiàn)在在電子領(lǐng)域內(nèi)，各種電子元件是常用的零部件，這些電子元件大多都是將主要部件先進(jìn)行封裝，然后伸出電極引腳與其他元器件相連從而進(jìn)行工作。然而存在的一個(gè)問題是，在電子元件生產(chǎn)完成后，不能確定電子元件的每個(gè)引腳是否都可以導(dǎo)通，如果存在某條引腳無法導(dǎo)通的話，這電子元件就是一個(gè)不良品。現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)電子元件的引腳電極進(jìn)行檢測一般是通過工人手持電極夾，然后對(duì)電子元件的引腳進(jìn)行夾持判定，這種方式會(huì)消耗大量人力，而且存在誤判的風(fēng)險(xiǎn)。而且判定的速度取決于每個(gè)工人的手速和經(jīng)驗(yàn)。

發(fā)明內(nèi)容

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的目的在于提供一種可以自動(dòng)對(duì)電子元件引腳電極的導(dǎo)通與否進(jìn)行檢測的電子元件檢測裝置。

本發(fā)明為解決問題所采用的技術(shù)方案是：一種電子元件檢測裝置，包括：

機(jī)架；

上料裝置，所述上料裝置位于機(jī)架的一側(cè)；

檢測機(jī)構(gòu)，所述檢測機(jī)構(gòu)位于機(jī)架上，所述檢測機(jī)構(gòu)位于上料裝置后方，所述檢測機(jī)構(gòu)上設(shè)置有一個(gè)承料臺(tái)，所述上料裝置用于將電子元件按規(guī)定的順序輸送至承料臺(tái)上；

檢測軌道，所述檢測軌道位于檢測機(jī)構(gòu)上，所述承料臺(tái)可將電子元件按規(guī)定方式運(yùn)輸至檢測軌道上，所述檢測軌道上設(shè)置有一輸送裝置，所述輸送裝置可抓取電子元件并驅(qū)動(dòng)電子元件在檢測軌道上移動(dòng)，所述檢測軌道下方設(shè)置有若干組檢測探針，每組檢測探針可與電子元件不同的引腳組合抵接；

分揀機(jī)構(gòu)，所述分揀機(jī)構(gòu)設(shè)置于檢測機(jī)構(gòu)后方，所述分揀機(jī)構(gòu)上設(shè)置有分裝箱，所述分揀機(jī)構(gòu)上設(shè)置有分揀夾具，所述分揀夾具可帶動(dòng)電子元件在分揀機(jī)構(gòu)上移動(dòng)至相應(yīng)的分裝箱上，所述分裝箱用于分裝存在不同問題的電子元件。

作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)，所述檢測探針底部設(shè)置有升降結(jié)構(gòu)，所述升降結(jié)構(gòu)用于驅(qū)動(dòng)檢測探針上下移動(dòng)，從而抵接或遠(yuǎn)離電子元件的引腳。

作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)，所述上料裝置與檢測軌道錯(cuò)位布置，所述承料臺(tái)設(shè)置于上料裝置與檢測軌道之間并可在其間進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)，所述承料臺(tái)靠近上料裝置的一側(cè)設(shè)置有至少一個(gè)承料槽，所述承料槽用于承接電子元件，所述承料槽的寬度不大于一個(gè)電子元件的寬度，承料槽在同一時(shí)間內(nèi)只會(huì)與上料裝置或檢測軌道中的一個(gè)相配合，所述承料臺(tái)的另一側(cè)可封堵所述上料裝置的末端。

作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)，所述輸送裝置包括：

第一夾具，所述第一夾具上設(shè)置有至少兩組夾持槽，所述夾持槽朝向下方，所述第一夾具可夾持電子元件并限制電子元件向上移動(dòng)；

驅(qū)動(dòng)裝置，所述驅(qū)動(dòng)裝置可驅(qū)動(dòng)第一夾具移動(dòng)，所述驅(qū)動(dòng)裝置包括：

水平驅(qū)動(dòng)器，所述第一夾具位于水平驅(qū)動(dòng)器上，所述水平驅(qū)動(dòng)器可帶動(dòng)第一夾具沿檢測軌道的長度方向上移動(dòng)；

垂直驅(qū)動(dòng)器，所述水平驅(qū)動(dòng)器設(shè)置于垂直驅(qū)動(dòng)器上，所述垂直驅(qū)動(dòng)器可帶動(dòng)水平驅(qū)動(dòng)器沿豎直方向運(yùn)動(dòng)。

作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)，所述檢測軌道包括：