[發明專利]一種點燈治具及其使用方法在審
| 申請號: | 201910448106.0 | 申請日: | 2019-05-27 |
| 公開(公告)號: | CN110208972A | 公開(公告)日: | 2019-09-06 |
| 發明(設計)人: | 余朋飛 | 申請(專利權)人: | 武漢華星光電技術有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黃威 |
| 地址: | 430079 湖北省武漢市*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 治具 點燈 顯示面板 壓頭 支架 上偏光片 下偏光片 陣列基板 靜電 間接接地 液晶分子 背光源 偏光片 有效地 導出 良率 上移 下移 半成品 電燈 測試 釋放 | ||
本發明提供一種點燈治具及其使用方法,所述點燈治具包括箱體、背光源以及支架壓頭;所述點燈治具的使用方法包括支架壓頭第一上移步驟、顯示面板放置步驟以及支架壓頭下移步驟;本發明提供一種點燈治具及其使用方法,在顯示面板被放置于點燈治具后,將陣列基板、上偏光片及下偏光片直接或間接接地,以便將陣列基板、上偏光片、下偏光片的靜電及時導出,釋放偏光片與液晶分子之間產生的靜電,可以有效地保護顯示面板半成品,提高電燈測試的準確性,提升顯示面板的良率。
技術領域
本發明設計顯示面板測試領域,尤其涉及一種點燈治具及其使用方法。
背景技術
在顯示面板的生產領域中,必須要通過點燈檢測設備對顯示面板進行點燈測試(Light On Inspection,LOI),點燈測試階段對于顯示面板品質的管控相當重要,在此階段中可以檢測出顯示面板是否有壞點(例如:亮點或暗點),讓用戶可以對不良的顯示面板進行及時的攔截,避免造成浪費資源,以及可以讓用戶盡早對制程進行改善處理。
現有技術中,由于液晶顯示面板的背光源設置在陣列基板側,因此在對液晶顯示面板進行點燈測試時,將液晶顯示面板的陣列基板朝下、彩膜基板朝上放置在基臺上,探針部件對陣列基板的PAD(走線)區域進行點燈測試,探針部件上設置有與待測液晶顯示面板PAD區域匹配的柵線測試板和數據線測試板,柵線測試板上設置的柵線針與待測液晶顯示面板PAD區域的柵線接口對應,數據線測試板上設置的數據線針與待測液晶顯示面板PAD區域的數據線接口對應。在對液晶顯示面板進行點燈測試時,將測液晶顯示面板放置于基臺上,待測液晶顯示面板的柵線接口與柵線測試板的柵線針連接,待測液晶顯示面板的數據線接口與數據線測試板的數據線針連接,點亮背光源,通過柵線針和數據線針控制待測液晶顯示面板,檢測待測液晶顯示面板是否能夠正常工作,是否有光點或亮線。在對液晶顯示面板進行點燈測試時,因為整個陣列基板都放在基臺上,較平穩且不會產生應力,故而PinMiss(即探針部件上的探針與PAD區域的接口不一一對應,出現錯位)較少,點燈較為正常。
現有技術中,在陣列基板下方及彩膜基板上方均設有偏光片,液晶層設于陣列基板與彩膜基板之間。偏光片包括離型膜、偏光片本體以及偏光片保護膜。在制作顯示面板的過程中,用戶需要將離型膜撕掉后,才將偏光片貼到陣列基板下方或者彩膜基板上方。但在離型膜被撕掉的過程中,偏光片非常容易產生靜電。在偏光片貼附完成之后,偏光片上殘留的靜電無法導出,偏光片容易與液晶層的液晶分子產生附加電場,在點燈測試時,液晶分子在電場作用下易發生偏轉,影響點燈測試的準確性以及顯示面板的良率。
發明內容
本發明的目的在于,提供一種點燈治具及其使用方法,以解決現有技術中存在的偏光片容易與液晶分子產生靜電,影響點燈測試的準確性以及顯示面板良率的技術問題。
為了實現上述目的,本發明提供一種點燈治具,包括箱體、背光源以及支架壓頭;所述箱體包括頂板、底板及側板,圍成一空腔;所述頂板設有一矩形通孔;所述背光源設于所述底板上表面,所述背光源頂部設有向上突起的第一連接端子;所述支架壓頭設于所述矩形通孔一側邊;所述支架壓頭包括鎖緊件、水晶頭、探針以及第二端子;所述鎖緊件可拆卸式安裝至所述頂板的上表面;所述水晶頭連接至所述鎖緊件,且穿過所述矩形通孔;兩個以上所述探針設于所述水晶頭底面,且朝向所述底板;所述第二連接端子連接至所述水晶頭。進一步地,當一顯示面板被放置于所述箱體內時,所述顯示面板包括下偏光片、上偏光片,所述第一連接端子連接至下偏光片;所述第二連接端子連接至上偏光片。
進一步地,當所述一顯示面板被放置于所述箱體內時,所述顯示面板包括陣列基板,所述探針連接至所述陣列基板一側邊緣。
進一步地,所述的點燈治具還包括驅動結構,用以驅動所述支架壓頭升降運動。
進一步地,所述第一連接端子、所述第二連接端子為良性導體。
進一步地,所述頂板為矩形環狀;所述支架壓頭可拆卸連接至所述矩形通孔一側邊。
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